Устройство обнаружения дефектов листового стекла

Устройство обнаружения дефектов листового стекла

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

++<<ÝÍÈß

О П И Х""Н- И - Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

I ю 696356

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6I) Дополнительное к авт. сеид-ву= (22) ЗаяВлено 21,0477 (21) 2479221/18-28 (51)М. Кл.2 с присоединением заявки М

G 01 iV 21/32

G 01 В 19/60

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет (53) УЛ (620. 179 (088.8) ОпубликованО05.11.79. Бюллетень ЙУ 41

Дата опубликования описания0 51 1„7 9 (72) Авторы изобретения

Ю.В.Царенко и И.Г.Щурова (71) 3aSaWTena Владимирский политехнический институт (54) УСТРОЙСТВО ОБНАРУЖЕНИЯ,ЦЕФЕКТОВ ЛИСТОВОГО

СТЕКЛА

Изобретение относится к оптикоэлектронному контролю и может использоваться, например, для выявления протяженных оптических дефектов в прозрачном материале, в частности в листовом стекле.

Известно устройство для контроля непараллельности граней стекла, содержащее источник света, оптическую систему, измерительный и эталонный 10 фотоприемники, блок коррекции, электронный блок и регистратор (1).

Недостатком устройства является зависимость его показаний от оптических дефектов, отличных от измеряемого f5

Наиболее близким техническим Решением к данному изобретению является устройство, содержащее последовательно установленные источник света, светоделитель, оптическую систему, изме- 2О рительный фотопоиемник и анализатор дефектов, и эталонный фотоприемник (2) .

Недостатком известного устройства является низкая избирательность по отношению к мелкоразмерным дефектам, 25 отличным от протяженных (например, волнистости) по физическим признакам, но аналогичным по оптическим, что ведет к ошибкам анализатора, классифицирующего дефект по виду -и размеру. 30

Целью изобретения является повышение точности классификации дефекта по виду и размеру.

Поставленная цель достигается тем, что устройство снабжено последовательно соединенными датчиком положения листа стекла, блоком управления, электронным ключом, выходом связанным с вторым входом анализатора дефектов, вторым входом — с эталонным фотоприемником, а источник света выполнен в виде двух импульсных источников, подключенных к двум другим выходам блока управления.

На чертеже представлена блок-схема устройства.

Устройство содержит датчик 1 положения листа стекла, блок 2 управления, импульсный источник 3 света, светоделитель 4, эталонный фотоприемник 5, электронный ключ б, анализатор 7 .дефектов, оптическую систему 8, измерительнйй фотоприемник 9, импульсный источник 10 света.

Устройство работает следующим образом.

Лист стекла движущийся по конвейе1 ру, замыкает контакты датчика 1, который подключен к блоку 2 управлейия. С блока 2 управления управляющие

6963 56

Ймпульсы с частотой следования, пропорциональной скорости движения стекла, и длительностью, пропорциональной заданным границам волнистости, поступают на импульсный источник 3 света.

Световые импульсы от импульсного источника 3 света с соответствующей оптической системой, входящей в него, направляются на светоделитель 4,, который расщепляет их под углом 90 на эталонные и измерительные. Эталонные световые импульсы воспринимаются эталонным фотоприемником 5 и преобразуются им в электрические импульсы, пропорциональные световому потоку, усиливаются и через электронный ключ 6, подключенный к блоку 2 управления, поступают на анализатор 7 дефектов. Измерительные световые имгульсы поступают через..оптическую систему 8 на поверхность ,- екла и в случае присутствия н,- 20 нем peri;eêòà, диффузно отражаются от него, воспринимаются снова оптической системой 8 и направляются на измерительный фотоприемник 9. отраженные световые импульсы преобразуются B пропорциональные электричеСкис импульсы и вводятся в анализатор 7 дефектов . Световые импульсы от второго импульсного источника

10 света, управляемого блоком 12, 30 излучаю гся в интервале световых импульсов От импульсного источника 3 света. Частота следования световых импульсов в несколько раз больше, а длительность в несколько раз 35 меньше„ чем соответствующие параметры световых импульсов от источника 3 света, их выбор зависит от величины малоразмерных дефектов, которые необходимо отличить от волнистости. Эти световые импульсы, преобразованные в электрические сигналы, аналогично импульсам источника 3 света, поступают в анализатор 7 дефектов .

В анализаторе,7 дефектов вырабатывается сигнал о браке в том случае, если разность амплитуд измерительного.и эталонного низкочастотных импульсов превышает порог настройки. Для отличия длиннопротяженных дефектов от локальных служат сигналы, пропорциднальные высокочастотным световым импульсам, вырабатываемым источником

10 света. В случае, если в период между импульсами брака в анализаторе 7 появляется установленное число импульсов, вырабатываемых при превышении порога настройки амплитудами измерительного и эталонного высокочастотных импульсов, это означает, что в зоне контроля находится локальный дефект., который не подлежит регистрации. При этом сигнал о браке из айализатора 7 дефектов не выводится.

По количеству импульсов брака устанавливается ширина волнистости, а по общему количеству импульсов от датчика 1 положения стекла устанавливается ее текущая координата.

Формула изобретения

Устройство обнаружения дефектов листового стекла, содержащее последовательно установленные источник света, светоделитель, оптическую систему, измерительный фотоприемник и анализатор дефектов, и эталонный фотоприемник, о т л и ч а ю ш е е с я тем, что, с целью повышения точности классификации дефекта по виду и размеру, оно снабжено последовательно соединенными датчиком положения листа стекла, блоком управления, электронным ключом, выходом связанным с вторым, входом анализатора дефектов, вторым входом — с эталонным фотоприемником, а источник света вы олнен в виде двух импульсных источников, подключенных к двум другим выходам блока управления. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР у 431126,кл,2 G 01 N 21/32, 1972.

2, Авторское свидетельство СССР р 236024,кл,2 G 01 В 11/30, 1969 (прототип.

Ц11ИИПИ Заказ 6757/44

Тираж 1073 Подписное

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4