Стекло

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскик

Социалистическик

Республик н»697412 (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 120977(21) 2521677/29-33 с присоединением заявки № (23) Приоритет (51)М. Кл.

С 03 С 3/08

Государственный комитет

СССР но девам изобретений и открытий

{53) УДК 666.117, .9.537.226 (088.8) Опубликовано 151179. Бюллетень ¹ 42

Дата опубликования описания 15,1179 (72) Авторы изобретения

В.И. Вахрамеев, Г.И. Журавлев, Л.И. Шамота и В.3. Шуб

Опытное конструкторско-технологическое бюро Кристалл (Ленинградского ордена Трудового Красного Знамени технологического института им,Ленсовета (54) стеклО

Изобретение относится к электротехническим материалам, а именно стеклам, применяемым при литье микропроводов в стеклянной изоляции.

Известно стекло для соединения с вольфрамом или молибденом, включающее, вес.Ъ:

SiO 64,1-72

В201 8,7-14,8

И О, 4,6-6 5

1 аъО 0,6-6,2 к 20 1,3-4,7

СаО 0-1

ВаО 2,5-2,8

ZnO 2-2, 5

РЬО 0-6,1

Однако стекло с коэффициентом термического расширения 50 х 10 1/ С не обеспечивает необходимых электроизоляционных свойств.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является стекло, используемое, преимущественно, для литья микропровода в сплошной стеклянной изоляции, включающее, вес.Ъ:

SiO 71-75

203 15-15,4

А6 0 1,2-2,1

Ыа О 3, 3-3,6

К,О 1-1,3

PbO 6-6,5

5 Fe 0> 0 2 0 3

Cu 0 + Mné0 0,1-0,15

Недостаток этого стекла — сравнительно низкие эксплуатационные свойства литого микропровода в изоляции, как результат совместной работы полученной стеклометаллической композиции. В частности, это проявляется в нестабильности микропровода и изделий на его основе при термических

Воздействиях, IIoBblUleHHQA BJIBEHocTH воздействии кислотами и др. Эта нестабильность обусловлена свойствами переходной стеклометаллической массы полупроводникового типа переходного слоя в микропроводе. Переходной слой образуется в процессе литья микропровода под воздействием высоких температур — происходит окисление химического взаимодействия между стеклом и металлом.

Целью изобретения является повышение стабильности электрофизических характеристик литых микропроводов °

Это достигается тем, что стекло, включающее 810а Ва01. МъОъ

697412

Таблица l

66,0

67,5

Я102

9,0

9,0

BROS

ЛЕ20 1а20

6,0

6,0

? к0

2,0

1,0

1,0

К20

7,0

7,0

Pb0

2,4

2,0

СеО

Рг20

4,1

3,3

0,8

1,2

1,2

1,1

0,7

0,7

Сг20

Мо2 О, мд а

Таблиц а 2

Уход электрического сопротивления,Ъ

Воздействие температур

+ 250 С/1 ч вие электрической при температуре

70 C/1 ч

Извести и Предлагаемый лагае

50-100 2,2-2,4 3,6-3,9 0,1-1,0 0,02-0,08 0 015-0,02

ЦКИИПИ Заказ 6539/3 Тираж 556 Подписное

Филиал ППП . ент, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

К20, РЬО, дополнительно содержит

СеО, Pr20, Cr20>, Мо20э, W при следующих соотношениях компонентов вес.%:

Я102 65,0-67,5 в203 7,1-11,2 5

4,2-8,0

Na O 1,1-2,0

К2д 0,8-1,0

Pb0 7,0-8,0

Се0а 1,0-3,0 10

1,0-4,2

Cr O 0, l-1 5

Мо Оэ 0,1-1,5

W2ОЗ 0,1-1,5

Умейьшение в стекле окислов

15 натрия и калия с одновременным повышением окислов тяжелых металлов, например свинца, хрома, церия, молибдена, вольфрама, дает возможность получить при взаимодействии в процес- 20 се литья между стеклом и металлом сильно раэупорядоченной переходной стекловидной структуры, в которой подвижность носителей зарядов минимальна.

Приведены в таблице 1 стекла конкретные примеры выполнения.

Как видно из табл.2 применение предлагаемого стекла повышает стабильность микропровода.

Предлагаемый состав стекла позволяет получить высококачественные эластичные литые микропровода, обладающие повышенной стабильностью электрофизических характеристик, о по воздействию температуры до 250 С в течение 1 ч по воздействию элек1

4 трической нагрузки при температуре

+70 С в течение 1 ч.

Ожидаемый технико-экономический эффект при применении предлагаемого стекла,в изготовлении миниатюрных электро-и радиотехнических иэделий составляет сотни тыс.руб. s год.

Формула изобретения

1. Стекло для литья микропроводов в стеклянной изоляции, включающее

Я102, B>0>, AE Oi, Na O, К20, PbO, о .т л и ч а ю ш е е с я тем, что, Окислы Состав 1 Состав 2

В таблице 2 приведены сравнительные данные по стабильности характеристик литых микропроводов из известных стекол, а также стекол составов 1 и 2. с целью повышения стабильности электрофизических характеристик литых микропроводов, оно дополнительно содержит СеО>, В О, Сг Оз, Мо Оэ, W20> при следующем соотношении компонентов, вес.%:

Si02 65-67,5

В203 7,1-11,2

AR 0 4,2-8,0 Na„O 1,1-2,0

К20 0,8-1,0

Pb0 7-8,0

СеО 1-3, 0

Рг20 1-4„2

Cr20ç 0,1-1,5

Мо20> 0,1-1,5

W203 0,1-1,5

2. Стекло по п.l, о т л и ч а ющ е е с я тем, чтс соотношение

Сгд.О + Мо2,0д + "7 0з

Иа,О + К,О находи ся в пределак 0,9 — 1,3