Устройство для измерения угловых и линейных перемещений

Иллюстрации

Устройство для измерения угловых и линейных перемещений (патент 69785)
Устройство для измерения угловых и линейных перемещений (патент 69785)
Устройство для измерения угловых и линейных перемещений (патент 69785)
Устройство для измерения угловых и линейных перемещений (патент 69785)
Показать все

Реферат

 

№ 69785

СТВЯ ПРИМЕНИМЫ ЛИШЬ ДЛЯ i CÈ 7ЕПИЯ !Ia Х|:i;IЫХ УГЛЗХ ОТКЛОНЕНИЯ ПОД

Би>кной системы; опи cpa«ffHfe7sifo громоздки ввиду наличия осветительных устройств, опгики и необходимости затемнения фотоэлсмс"па и, кроме того, часто оказываются не прпгодпыми для непосредственных измерений, вследствие пег!остояцства их ..арактерпстик во времени.

Предметом данного изобретения является устройство для изменения угловых и линейных перемещений, основанное ня использовании радиоактивного излучения. Метод, н3 котором основа!13 работа устройства, назван изобретателем «альф>(-электрическим», Может шире !!PI!X Е|!ЯТЬСЯ ii !(ОЗВОЛЯЕ) ПО. (МЧПТЬ ()0;If>i(1 HÉ КОЭффИЦИЕНT УC!17ЕНИЯ, НЕжели фотоэлектрический метод

Прс.j,,ягяемое устройство основано на измерении тока между двумя рездс;!Рпнъ(мн Воз.() шным прохlе>кутком пластинами 1(амеры, f)f(1foЧЕННОИ ПОС.!С 70«:!ТЕ,)ЬНО С ИСТО III!IКОМ IIOCTOHIIНОГО Тока 113 Б ОД ЭЛЕКтронного «ольтметря, В T;iKiix устройствах перемс!цение Одной из плаii;iiI «BO. (Ii iXfOH,f B>K Ji il 3 CTf J if a 4f (I ЗЯ С 7 ОН КП, CB51331! I!OH ХIЕХ3 Нически с KGIITJ)oлирус)(ы)! Ооъсктсх!, Вызывает из1!енепи(ТОК3 ме>кдм

П.73СТИП|IМИ И COOT«i TCTBPHIIÎP !la. !!0!IPffHC 1!3ПРЯЖЕННЯ 113 ВХО,I(. ВОЛЬГметра. Отлич(ггсльпой же Особе !Ность!О предлагаемого устройства я)ляется пскрыпгпс внутренней Hof)e))xffncf.п пл:!стин нли заслонки радиоа!Ктивных(Бсlцс"стВОхl для соз I a I!H 5! ИоннОГО тока 1(с>кду и, (асти пах(и, которые, таким образом, ОбразуloT электроды Iloi!JisaiiHoiliioli камеры.

В качестве одной из плястип или заслонки может бь(ть использована подвижная деталь контролируемого объекта, На фиг. J и 2 показана принципиальнаii схем с)ескоптякп!ого альфа-электрического усилителя, измерителя н передатчика угiloBbix

Откл Онеппи HP 1(oToj)of О мех 31(из)! а (в ч >Iстном с. 1 ч (ic, это хlожеT быть подвижная система измерительного прибораj; па фиг, 3 li -) — два Варианта.

В варианте Iio фиг, 1 — 2 ня ук|!за)еле подвижной системы А укреплен ф:(>1>кок аас 70«f(3 В Tai:их! 00))азох|, что при поВороте подВижной системы заслонка может свободно перемещаться между пластинами иопизационных камер С и Д, перекры«35! Оольшую или меньшую площадь пластин, Одна или обе пластины камер С и Д покрыты тонким слоем P соли радия (илп ц)угого ря, (пояктивного элеме(|га). Благодаря альфa Hçë i HÐ!i è!О pс! (иоя к1 НБПO(0 э (P. iе/!та cpе(я ме>кд и 1 аcтиifa ми окажется ионнзировяпной, » в цепи установится некоторый ток иониз:| ни и, Так i;ai(пони a«1!Oiiii»ie камеры С и Д соединены последовательjio по О!ношению 1 !1 )) ff, fO>f(Bíifoì па нряжсни!О и я«7я(огся и 7ечами измеригenыinгo моста, ro Iipil Hge«TI!«fiocTIJ J(ai)fej) С 1! Д и симмет рн !ном положении заслонки В между камерами С и Д, в диагонали моста (между точками О и F) не будет раз;!ости потенциалов. При повороте подвижной системы А, например, по часовой стрелке на некотоРый Уf 07, повеРнется T iK>KE. H зас;IOH!(3 В, i(J)ifi(J)h!13351 I B .if ca>lb!11 в камере С путь некоторой части потока альфа- (астиц i!a участке пластин, перекрытом заслонкой. Соответственно этому уменьшится величина ионного тока в камере С, и увеличится ее сопротпвлеш!е, Приложенное няпря>к IIHP переряспре. (слится;IPH(.7ó сопротивлением камер С и Д, и между точками О и F появится некоторая разность потенциалоь, пропорциональная углу поворота 33слîllкп. Эта разность потенциалов легко может быть измерена с помощью лампы 3 электроизмерительного прибора П, включенного в ано;(ную цепь лампы. и!!!! ) и ."(!) .) ". .,"0! Ис(:!l!,;) .! .Jl)(<1101(системы изме!)ите. ((>НОГО п))и001)а, (.с! 0! ;;!10(il i;,ç".(:(с; и, J!(!(IlloIo тока ме)кду двумя раз;(еленными во<;(упп(ым .И()ом и<у) ко.;I п()с. е;(овятег(ьпо с источником постоянного тока Ii I В.:о;, -,,i с!кт!)Оп!Н)го во,. ьгм(тря с тем, чтоы пере.яещение Одно(1 и 3 и) J c 1! I i и л и н и О. (и;! () и ъ ()к;(\ и, !я! с т и н я . и заслонки, с в я 3 !! н и 0 Й м е.Япп (секи с контроли;)усм(:!м Оо.пентода, вызывало изменение ионного

l:)Ка Ъ!С)К;(II, i CTI:! 1 ..If! ii COOTB(.TCT!!Cf! IIOC H3i ЕП(. .IIIIC НЯ1!()Я)КЕНИЯ ПЗ и. оде (гольт (ет!)», о тл и ч, fo Is(е ес я тем, что для создания иои!о

Тс!

?. Устройство i;o ii. 1, о тл и и а го щ(сея тем, что в качестве от-!!()!! IJз и !1 С 111!1 1f 1 l 3 (!С 101! Е!! ИС1 1 О, (Ь31(Т я Г!ОДВI(Ж!IЯ(1 дPТЯ ° )Ь кОНTро (И

J), (:. М О! О 0 О Ь Е и Т (1 .