Способ разбраковки изделий электроннойтехники по инфракрасному излучению

Способ разбраковки изделий электроннойтехники по инфракрасному излучению

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О П

<11707402

Союз Советскни

Социалистических

Республик

И СА-"Н И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлено 10.07. 78 (2 т ) 264 1902/18-25 (5! )М. Кл.

G 01 5/00 с присоединением заявки М

Гооудерстееиньй комитет

СССР (23) Приоритет

Онубликоваио 07.08.81. Бюллетень М 29 до делам иэобретеиий и открытий (53) УД К 5 З2.137 (088.8 ) Дата опубликования описания 10,08.81 (72) Авторы изобретения

-Ю. В. Иванов и Б. И. Мазурик (71) Заявитель (54) СПОСОБ РАЗБРАКОВКИ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ

ТЕХНИКИ ПО ИНФРАКРАСНОМУ ИЗЛУЧЕНИЮ

Изобретение касается неразрушающего контроля изделий электронной техники (ИЭТ), в частности разбраковки потенциально ненадежных транзисторов пб инфракрасному излучению, когда тепловые параметры являются критерием годности изделий.

Известен .способ) контроля полей ИЭТ по ИК-излучению путем последовательно.го поэлементного сканирования поверхно.сти изделия. В результате последователь- ного анализа сигналов, получаемых от кажного элемента поверхности. или после получения всей картины теплового поля, делается вывод о качестве данного изделия 1).

Недо статком указанного способа является низкая производительность, вследствие чего он неприемлем для производственного контроля серийно Выпускаемых

ИЭТ.

Панболее близким к изобретению нз известных является способ контроля ИЭТ по ИК-излучению, заключающийся в изме2 ренин излучения со всей поверхности контролируемого иэделия и сравнении его с излучением эталона, По результатам сравнения делают вывод о том, к какой тууппе качества ьгнестн данное изделие $2).

В то же время этот способ разбраювкн имеет существенный недостаток: низкую достоверность разбраковкн, так как s число годных попадает значительное число потенциально ненадежных изделий, имеющих скрытые дефекты, которые данным способом не мсеут быть выявлены на общем фоне суммарного сигнала, находящегося в допустимых пределах, Этн дефекты, образующие участки перегревов н недогревов, особенно характерны для таких ИЭТ, кай гранэясгсеты, интегральные схемы, катодно-подогревательные узлы электроннолучевых приборов.

Целью ттредлагаемого способа является повьипение, достоверности разбваковкя путем выявления изделий, имеющих участки перегревов я недогревов.

3 . : . 707402 ф

Указанная цель достигается тем, что ров, пропускающих излучение в требу ;мых разбраковку производят ио величине раз- диапазонах. В настоящее время имеются ности сигналов " от контролируемого изде- в наличии селективные фотоэлектрические лия и эталона, измеряемых в К участ- приемиики, которые при охлаждении чувстках сйектра по обе стороны от длины вол- вительного элемента обеспечивают высоны, соответствующей максимуму излучения кую чувствительность. Предлагаемый спо5 от эталона. соб допускает и частичное взаимное переС точки зрения контроля качества ИЭТ крытие их спектральных характеристик. по ИИК-излучению качественным (годным) При реализации способа с помощью поизделием является такое, поверхность ко- 10 лосовых фильтров используется один фототорого нагрета равномерно, а температу- . приемник, имеющий широкую спектральную ра" поверхности находится в определенных характеристику в области спектра излучения пределах. В "соответствии с предлагаемым контролируемых иэделий, например пнроспособом Nls изделия, принятого за эта- электрический болометр. А характеристики лон, по закону Вина определяют длину 15 пропускания фильтров выбираются в соотволны 3. на которой спектральная пло- ветствии с указанными выше требованиями.

ЭТ

-тйость излучения имеет максимальное эна- Обработка электрических сигналов для чение. Затем выбирают спектральные ди- I их сравнения .с эталоном в настоящее время йпазоны, -лежащие в диапазоне длин волн реализована во многих пирометрах (ИК-ра как короче, так и длиннее g >T Ко- 2р диомерах). Установка границ разбраковки личество выбранных диапазонов может быть производится по изделиям, принятым за любым и зависит от конкретных требований эталон с учетом имеющихся статистических к изделию и аппаратурных возможностей.. данных по их качеству. Анализ и выдача

Затем измеряют электрические сигналы конт данных на исполнительный механизм разролируем ого изделия в каждом из дна паэо- 25 браковки возможны как с помощью уст-,. с

=нов,"сравнйвают с сигналами, полученными ройства, описанного в прототипе, так и с от эталона в Тех же диапазонах, опреде- применением ЭВМ .или микропроцессора. лйот относительные отклонения измеренных Таким образом, предлагаемый способ сигналов по отношению к эталонным и по разбраковки ИЭТ обладает значительно вел ичине и знаку этих отклонений в каждом 30 большей достоверностью, так как выяиз диапазонов раэбраковывают изделия, т.е. вляются потенциально ненадежные иэде делают вывод о степени годности данного лия, обладающие локальными перегрева, изделия. При наличии йо поверхности конт- ми и недогревами, что в конечном итоге ролируемого иэделия хотя бы onHol Уча- повышает надежность работы устройств, -стка локального перегрева, занимающего 35 элементами которых являются изделия, ===часть йлощади, доля излучения от этого разбракованные данным способом. участка в суммарном потоке будет суше- ор мула из обре т ен ия ственна. В этом случае относительное из Способ разбраковки изделий электронменение электрического сигнала в диапа- ной техники по инфракрасному излучению, зоне длин волн короче А. по закону 4о заключающийся в измерении сигнала со

9Т смешения Вина будет больше, чем из- всей поверхности контролируемого изде-мененяе сигнала в диапазоне длин волн лия и сравнении его с эталоном, о т л идлиннее 1 в сравнеуии с установлен- ч а ю ш и и с я тем, что, с целью поT ными в этих же диапазонах значениях вышения достоверности разбраковки, раээталона. При наличии на поверхности конт- 45 браковку производят по величине разносролируемого изделия хотя бы одного участ. ти сигналов от контролируемого издека локального недогрева (при условии, что сия и эталона, измеряемых в К участках дбля излучения от участков перегрева не- спектра по обе стороны от длины волны, значительна) подобное изменейие сигйалов соответствующей максимуму излучения в" коротковолновом диапазоне будет меньше:50 от эталона.

" - — чем в длинноволновом.— Источники информации, Реализация предлагаемого способа воэ- принятые во внимание при экспертизе можна различными вариантами: с помощью 1. Авторское свидетельство СССР фотоприемников, имеющих различные спект- 14 346596, кл.. G 01 7 5/12, 1972. ==" фальййе характеристики, или, с помощью )55 2. Авторское свидетельство СССР одного фотоприемника И полосовых фильт- N. 534127, кл. G-013" 29/00, 1979.

ЗНЙИПИ Заказ 5888/48 Тираж 907 Подписное

Филиал ППП «Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4