Искатель импедансного дефектоскопа

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОП И САН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 20.02.78 (21) 2582104/25-28 (51) M. Кл.

G 01N 29/04 с присоединением заявки №

Государственный комитет (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.01.80. Бюллетень № 4 (45) Дата опубликования описания 30.01.80 (53) УДК 620.179.16 (088.8) по делам изобретений и открытий (72) Автор изобретения

В. И. Мироненко (71) Заявитель (54) ИСКАТЕЛЬ ИМПЕДАНСНОГО ДЕФЕКТОСКОПА

Изобретение относится к области ультразвуковой дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества слоистых изделий.

Известно устройство для контроля качества склейки изделий, содержащее излучающий пьезоэлемент, размещенный наодной стороне звуковода, и приемный пьезоэлемент с наконечником, размещенный на другой стороне звуковода (1). 10

Недостатком известного устройства является то, что при контроле им возникают сильные помехи, что снижает чувствительность устройства. Величина помех возрастает с увеличением скорости контроля, по- 15 этому его нельзя использовать в автоматизированном контроле.

Наиболее близким к изобретению является искатель импедансного дефектоскопа, содержащий звуковод с излучающим пьезо- 20 элементом и два приемных пьезоэлемента с наконечниками, электрически соединенные встречно-параллельно (2).

Недостатком известного искателя является малая чувствительность при контроле 25 многослойных изделий с небольшим импедансом.

Цель изобретения — повышение чувствительности искателя.

Поставленная задача достигается тем, 30 что он снабжен отражателем, размещенным с одной стороны излучающего пьезоэлемента, а приемные пьезоэлементы установлены на противоположной стороне звуковода с возможностью перемещения в плоскости измерения. А расстояние между осями приемных пьезоэлементов выбирается кратным расстоянию между микронеровностями контролируемой поверхности.

На фиг. 1 схематически изображен предлагаемый искатель; на фпг. 2 показано расположение приемных пьезоэлементов QTHQсительно. микронсровностей контролируемой поверхности.

Искатель импедансного дефектоскопа содержит звуковод 1 с излучающим пьезоэлементом 2, два приемных пьезоэлемента

3, 4 с наконечниками 5, 6, электрически соединенные встречно-параллельно, размещенные с одной стороны звуковода с возможностью перемещения в плоскости измерения, и отражатель 7, размещенный с противоположной стороны излучающего пьезоэлемента.

Искатель работает следующим образом.

Излучающий пьезоэлемент возбуждает в звуководе 1 продольные колебания, которые передаются через наконечники 5, 6 в контролируемое изделие.

Искателем сканируют по поверхности пз712755

Риз. 1

Заказ 2663/15 Изд. № 101 Тираж 1033 Подписное

НПО «Поиск»

Типография, пр. Сапунова, 2 делия. При отсутствии дефектов силы реакции изделия генерируют в приемных пьезоэлементах 3, 4 одинаковые по величине и противоположные по знаку заряды, в результате. чего результирующее напряжение, снимаемое с них, равно нулю.

Когда один из наконечников проходит над дефектом, в соответствующем приемном пьезоэлементе генерируется меньший заряд, а результирующее напряжение, от- 10 личное от нуля, фиксируется дефектоскопом (на чертеже не показано) . При этом будет установлена граница дефекта. В случае, если оба наконечника находятся над дефектом, результирующее напряжение, 15 снимаемое с пьезоэлементов, равно нулю, с возникновением отличного от нуля напряжения устанавливается вторая граница дефекта.

Благодаря тому, что расстояние между 20 наконечниками 5, 6 устанавливается кратным расстоянию между микронеровностями контролируемой поверхности (см. фиг.2), изменения величины заряда на приемных пьезоэлементах 3, 4, вызванные вли- 25 янием этих микронеровностей на обоих приемных пьезоэлементах, приблизительно одинаковы по величине и при сложении взаимно компенсируют друг друга.

Предлагаемый искатель импедансного 30 дефектоскопа обеспечивает повышение чувствительности дефектоскопа за счет того, что он измеряет разность импедансов в двух разных точках, а также вследствие одинакового износа наконечников прием- 3> ных пьезоэлементов, что исключает разбаланс искателя в процессе контроля и возникновение мешающих сигналов.

Предлагаемый искатель позволяет повысить скорость сканирования при контроле изделий, так как он исключает влияние фрикционных шумов. Это открывает возМо?KHocTb использования его в механизированных установках для контроля слоистых изделий.

Формула изобретения

1. И с к а тел ь и м п еда нсн о го деф ектос коп а, содержащий звуковод с излучающим пьезоэлементом и два приемных пьезоэлемента с наконечниками, электрически соединенные встречно-параллельно, о т л и ч а ющий ся тем, что, с целью повышения чувствительности, он снабжен отражателем, размещенным с одной стороны излучающего пьезоэлемента, а приемныс пьезоэлементы установлены на противоположной стороне звуковода с возможностью перемещения в плоскости измерения.

2. Искатель по и. 1, отличающийся тем, что расстояние между осями приемных пьезоэлементов выбирается кратным расстоянию между микронеровностями контролируемой поверхности.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР № 126653, кл. G 01N 29/04, 1958.

2. Авторское свидетельство СССР № 415573, кл. G 01N 29/04, 1971 (прототип).