Способ определения деформаций объекта
Иллюстрации
Показать всеРеферат
1й„,,e % н, б ..-ь,-кР "a)l
Союз Советских
Социалистических
Республик
О П йи е.. Б
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено Оч0178 (21) 2565067/25-28 с присоединением заявки ¹â€” (51 jPA. Кл.
G 01 В 11/16
Государственный комитет
СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет
Опубликовано 0502.80. Бюллетень ¹ 5 (53) УДК 531. 781. .2(088.8) Дата опубликования описания 1Q0280
С.Т. Де, A.Ã, Козачок, A.Â. Логинов и Ю.Н, Солодкин (72) Авторы изобретения
Новосибирский электротехнический институт (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИИ
ОБЪЕКТА с
Изобретение относится к измерител1ьной технике и может быть использовано при измерении деформаций оптическими методами.
Известен способ определения деформаций с использованием голографической интерферометрии, заключающийся в том, что регистрируют голографическую интерферограмму деформированной поверхности объекта и выбирают направление наблюдения за точкой, в которой необходимо определить деформацию. Затем направление наблюдения за выбранной точкой постепенно изменяют и подсчитывают число полос, 15 проходящих через нее. По известным величинам угла наблюдения, числа сосчитанных полос и длины волны излучения используемого лазера определяют. векторы смещения в выбранной 20 точке и по ним вычисляют деформацию (л), Недостатки известного способа трудоемкость подсчета интерференционных полос и измерения величин углов 25 наблюдения за выбранной точкой.
Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому эффекту является способ определения деформации объекта с испольэова- 30 нием голографической интерферометрин, заключающийся в том, что регистрируют голографическую интерферограмму . деформированной поверхности объекта, восстанавливают ее, сканируют фотоприемник поь восстановленной голографической интерферограмме, определяют векторы смещения в заданных точках поверхности объекта и го ним вычисляют деформацию путем подсчета числа интерференционных полос, проходящих через выбранные точки (2).
Недостатком укаэанного способа. является значительная сложность процесса определения деформации, обусловленная необходимостью счета интерференционных полос,.
Целью изобретения является упрощение процесса определения деформаций.
Указанную цель достигают тем, что дифференцируют сигнал фотоприемника, детектируют его огибающую и по амплитуде детектированного сигнала определяют деформацию в заданных точках., На чертеже представлена схема реализации способа.
Способ заключается в том, что регистрируют голографическую интерферограмму 1 деформированной поверх3 "- . 7 1 4 б ности 2, восстанавливают интерферограмму 1 расширенным в коллиматоре
3 пучком лазера 4, При помощи объектива 5 и дефлектора 6 сканируют по восстановленной голографической интерферограмме, дифференцируют сигнал фотоприемника 7 дифференцирующим усилителем 8, детектором 9 и по амплитуде детектированного сигнала определяют деформацию в заданных точк ах.
Поскольку амплитуда детектированного сигнала представляет собой эпюру деформации поверхности объекта, то для определения деформаций устраняется необходимость счета интерференционных полос, что упрощает процесс определения деформаций.
Данный способ может быть использован при исследовании прочностных характеристик объектов.
Составитель A. Босой
Техред З,Фанта Корректор М, Вигула
Редактор Н. Вирко
Заказ 9267/33 Тираж 803 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал ППП патент, r. Ужгород, Ул. Проектная, 4
Формула изобретения
Способ определения деформаций объекта с использованием голографичес/ кой интерферометрии, заключающийся в том, что регистрируют голографическую интерферограмму деформированной поверхности объекта, восстанавливают ее, сканируют фотоприемник . по восстановленной голографической интерферограмме, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с. целью упрощения процесса .определения деформаций, дифференцируют сигнал фотоприемника, детектируют его огибающую и по амплчтуде детектированного сигнала определяют деформацию в заданных точках.
Источники информации, 15 принятые во внимание при экспертизе
1.Александров E.A.Бонч-Бруевич A.М., Журнал технической физики, в. 2, 37, 1967, с. 36О.
2. Голографические измерительные системы. Сборник чаучных трудов
Ю Новосибирского электротехнического института, под ред. A.Ã. Козачка.
Новосибирск, 1976, ч. 28-29 (прото,тип) .