Устройство для определения пористости тел по шлифам

Устройство для определения пористости тел по шлифам

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

(72) Авторы изобретения

М. Д. Толкачев и Г. Р. Миркин

Ленинградский. ордена Ленина и ордена Трудового Красного Знамени государственный университет им, A. А. Жданова и Всесоюзный научно-исследовательский нефтяной геологоразведочный институт (7!) Заявители (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОРИСТОСТИ

ТЕЛ ПО ШЛИФАМ

1.

Изобретение относится к области изу» чения физических свойств твердых тел и может быть использовано при изучении структур горных пород.

Известно устройство для определения пористости тел по шлифам, которое содер $ жит систему поляризации света, выполненную в виде поляризатора и анализатора, и систему количественной опенки- .. наблюдаемых изображений P) .

Известно также устройство для опрьделения пористости тел по шлифам, содержащее систему круговой поляризации света, выполненную в виде поляризатора, анализатора и двух фазовых пластинок, установленных под углом 90о друг к другу и под углом 45о по отношению к скрещенной системе поляризатор-анализатор, одна из которых расположена после поляризатора, а вторая — перед анализатором; и систему количествейной оценки наблюдаемых изображений f23.

Недостатком известного устройства является трудность коррекции в шлифе не2 контрасных изотропных зон, так как в обычном свете они практически пропускают свет как минеральная масса, а в поляризованном но кругу свете они сливаются по тону с темноокрашенными включениями.

Цепь предлагаемого изобретения — по мяшение точности определения пористостя тел с неконтрастными элементами изображения

Для этого вторая фазовая пластинка выполнена с топтанной, отличной от толшины первой пластинки, а между анализатором системы круговой поляризации света и системой количественной оценки наблюдаемых изображений установлен монохром атич еский фильтр.

На чертеже представлена схема предлагаемого устройства.

Устройство содержит источник 1 света, конденсор 2, систему круговой поляризации света, состоя1пую иэ поляризатора 3, первой фазовой пластинки Л/4 1, обьектива 5, второй фазовой пластинки

1 1

f 714243

А/4+ 6 6, анализато а 7 моно хроматя- круговой поляризации света, выполненную ческий фильтр 8, окуляр 9, фоторегисч- в виде поляризатора, анализатора и двух

:. рирующее устройство 10. Исследуемый фазовых пластинок, установленны п шлиф ф 11 помещается между двумя фазо- углом 90о друг к другу и под углом выми пласти пластинками.., 5 45 по отношению к скрещенной системе о

Устройство работает следующим обра- поляризатор-анализатор, одна из которых зом, . - расположена после поляризатора, а втоОт источника 1 и конденсора 2 свет рая - перед анализатором; и систему проходит поляризатор 3 и преобразуется количественной опенки наблюдаемых изоб в линейно поляризованный. После про- |о ражений, о т л и ч а ю щ е е с я тем, хождения через фазовую пластинку Я/Д g что, с аделью повышения точности опре ."свет . Становится поляризовайным по . деления пористости тел: с неконтра ны е онтрастныкругу. дйее, йроходя Йзотропйые зоны . ми элементами йзображейия; вторая фашлифа 11, свет не претерпевае " йика- . зовая йластйнка "выполнена с толщиной, ких изменений- и через обьектив Б попа- отличйой от толщины первой пластинки, дает на вторую пластинку Д/4+3, голщи- ., a между анализатором системы круго-на которой отличается от первой на ве- . вой поляРизапии света и системой колиличину 9, где приобретает дбйолнитель- чественной опейки наблюдаемых изобраную разность хода, равную Д, что вызы- жений fcTaaoai9H монОхроматический вает соответствующую окраску изотроп- 0 фильтр. нйх зон. Далее свет идет через анализатор 7,"монохроматический фильтр 8, " : Источники информапии, окуляр 9 и регистрируется устройством ., приняже во" внимание при экспертизе . 10, например фотоплас;тинкой., "-,:::.:;- - -.::: 1. Бабушкин С. Г. и др. ОптикоПредлагаемое изобретение позволяет механические приборы, M., "Машйност С и еЬтвенйо повысить" точность" опреде- роейие, 1988, с. 29-33. пения пористости твл с неконтрастными, элементами изображения. следОвательно. - 2 H ä досговерность анализа шлифов. ". svchvng von gro Beren,Objet in 64 о р м у и а и з о б р е т е н и. я: леал vnd zivgvCor рИагв|ег1ео kick

Устройство для определения пористос- сМ QRTQpLAN — BGL, Leitz-М Ц. ти " тел но шлифам, "С6держащее" систему . И/Ьб.used Тесб| 397О, 5, ЮЗ, с. N-64

БНИИПИ Заказ 9274/38

" краж Î 9 Подписное

Филиал ППП "Патент", . г.Ужгород,ул. Проектная,4