Фотошаблон
Иллюстрации
Показать всеРеферат
ОП ИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советсиых
Соцйаяыетычйскых
Республик
< > 715362 (61) Дополнительное к авт, свид-ву (22) ЗаЯвлено 30.12.74 (21) 2092087/28-12 с присоединениеа1заявки Рй (5I)M. Кл.
В 41 М 3/08
Н 05 К 3/00
6ааущара1вамма ква1ктвт
ЫФР
1 ааааа к абратеивй н еткрыткв (23) приоритет
Опубликовано 15.02.80 Бюллетень At 6 (53) УДК
778.644 (088.8) Дата опубликования описании 20.02.80
Г, П, Сергйенко, А..П. Кауфман и В. И. Кимарский (54) ФОТОИАБЛОН
Изобретение относится к технологии произ. водства радиоэлектронной аппаратуры, в част ности, к изготовлению фотошаблонов, применяемых в фотолитографических процессах при производстве интегральных схем.
Известен фотошаблон, состоящий из про5 зрачной стеклянной подложки, с нанесенным на нее маскирующим металлическим слоем, в котором выполнено изображение требуемого рисунка, и защитным слоем, расположенным на маскирующем слое (1).
Недостатком известного фотошаблона являются скрытыетрудно контролируемые дефекты в поверхностном слое стеклянной подложки (выколки стекла, царапины, выступы). Эти
15 дефекты появляются во время механической и химической обработки подложки и являются причиной образования проколов в металлиэированном слое (на месте буторков и выступов в подложке), плохой адгеэии металлизированного слоя к стеклу и включении невьправленной металлической пленки в светлом поле азотошаблона (на месте царапин и выколок в подложке).
Целью изобретения является повышение качества фотошаблона путем исключения влияния дефектов на маскирующий слой.
Это достигается тем, что защитный слой размещен между подложкой и маскирующим счоем.
Обеспечение поверхностного слоя стеклянной подложки защитным слоем нитрида кремния предупреждает трансформацию дефектов подложки в маскирующий слой.
На чертеже показан предлагаемый фотошаблон.
Фотошаблон состоит иэ прозрачной стеклян: ной подложки 1, поверхность которой защищена слоем 2 ннтрнда кремния. Изображение требуемой функциональной схемы выполнено в маскирующем слое 3, например, их хрома, нанесенном на защитный слой 2.
Защитный слой 2 наносится на поверхность стеклянной подложки 1 после подготовки последней известными методами механической и химической обработки.
В процессе химической и механической обработки стеклянной подложки 1 в ее поверхСоставитель В. Юсков
Техред Н Бабурка Корректор М. Шароши
Редактор Н. Козлова
Заказ 9426/15 Тираж 434
ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открьпий
113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раутпская наб., д. 4/5
Подписное
Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4
3 71 ностйом Слое образуются дефекты (выколки, бугорки, царапины), являющиеся практически. единственной причиной выхбда из строя -фотошаблонов во время эксплуатации.
Нанесение нитрида кремния на подложку
1 производится в камере реактивного распы"ления, например, с помощью установки УРМЗ.
279.013.
Условия режима нанесения нитрида кремния: давление азота в вакуумной камере
3 10 мм рт.ст; анодный ток 1а к = 80 ма; напряжение распыления мишени Орасп. =
= 1,25 кв; скорость роста пленки нитрида кремния
U = 12 А/мин. температура подложки в процессе осаждения пленки 280 С; толщина наносимой пленки нитрида кремния d "1000 А.
В процессе нанесения нитрида кремния на стекло обеспечивается высокая адгезия этих слоев, благодаря, тому, что коэффициенты линейного расширения стекла и нитрида кремния имеют противоположные знаки.
Маскирующий слой 3, в данном случае из хрома, наносят на слой 2 известными метода5362 4 ми вакуумного распыления и создают в нем требуемое изображение, пользуясь известными методами фотолитографии.
Благодаря размещению слоя нитрида кремния между подложкой и маскирующим слоем обеспечивается . стабилизация поверхностного слоя стекла неразрушаемым в дальнейшем технологическом процессе слоем нитрнда кремния. Это предупреждает трансформацию де10 фектов поверхности стекла в маскирующий слой, благодаря чему повышается качество фотошаблона по сравнению с известным.
Формула изобретения
Фотошаблон, содержащий стеклянную подложку с маскирующим слоем и защитным слоем из нитрида кремния, отличающийся эо тем, что, с целью повышения его качества ny ì исключения влияния дефектов на маскирующий слой, размещен между подложкой и маскирующим слоем.
Источники информации, 25 принятые во внимание при экспертиэе
1. Авторское свидетельство СИ Р И 329501, кл. Н 05 К 3/00, 1970 (прототип).