Способ контроля качества наклеивания тензорезисторов

Способ контроля качества наклеивания тензорезисторов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

.ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

< 7249I9

МЮ

/

Союз Советских

Социалистических

Реслублик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт, свкд-ву — (22) Заявлено 03,04.78 (21) 2598130/25-28 (51) М.Кл G 01 В 7/18 с присоединением заявки №вЂ”

Государственный комитет

СССР ло делам изобретений и открытий (23) Пр иоригет — (43), Опубликовано. 30.03.8О. Бюллетень № 12 (45) Дата опубликования описания 30.03,80 (53) УДК 531.781.2 (088.8) (72) Авторы, изобретения

А. Я. Исаев и H. Г. Рубашко (71) Заявитель

1 (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧECTBA НАКЛЕИВАНИЯ

ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ

ЫЖ

М

Щф с

Изобретение относится к области, измерительиой техники, а именно к тензометрическим измерениям, и предназначено для ..-:, контроля качества наклеивания тензоре -- -.";-".""зйсторов; - — - " ----- "- — . 5

Известен способ контроля качества на.клеивания тензорезисторов, заключающийся в том, чтб из/меряют сопротивление изоляции между решеткой тензорезистора и исследуемой деталью (1).

Оценка готовности тензорезисторов к работе производится по определенной нижней границе сопротивления изоляции.

Недостатком указанного способа является возможность его применения только для 15 токопроводящих конструкций, а также низкое качество контроля соединения тензорезистора с поверхностью, т. е. дефект,наклейки.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ конт.-, роля качества наклеивания тензорезисторов, заключающийся в том, что на наклеенный тензорезистор подают импульс электричес-, веого тока, в 5 — 15 раз втревы шающий рарочий, и по обугливанию основы обнару— живают непроклеенные участки тензорезистора (2).

Недостаком способа является невозможностт1 количественной оценки качества наклейки, дистанционности и автоматизации процесса контроля качества.

Цель изобретения — повышение точности и обеспечение автоматизации контроля.

Это достигается.тем, что регистрируют изменение сопротивления тензорезистора на ямпульсный ток и сравнивают его с изме нением сопротивления калибровочного тензорезистора..

Способ осуществляется следующим образом.

Через наклеенный тензорезистор пропускают импульс электрического тока, величина которого выбирается из условия сохранения работоспособности тензорезистора. Измеряется изменение сопротивления тензорезистора во времени.

После получения графика изменения сопротивления, представляющего собой peakцию тензорезистора на импульс электрического тока, последний сравнивается с графиком реакции на аналогичный импульс наклеенного калибровочного тензорезистора.

Сравнение дает возможность .сделать заключение о качестве приклейки, характере дефекта и о величине уменьшения коэффициента чувствительности тензорезистора.

Некачественная наклевка тензорезистора

6yI(ex вызывать большее в сравнении с калибровочной кривой температурное прира724919 . 3. фйТЬ="йййейекия сопротивления в процессе рабочий, о тл ич а ю щ и и ся тем, что, с

Электрический способ- регйстрацйи каче- 5 автоматйзации контроля, регистрируют изпостыл автоматизацйи как регйст«рации; так пнем сопротивления калибровочного тензои идентификации.. - — == .: рез«исгора, - .

Предложенный способ может найти при-. 10 мейере "пери контроле качества наклейки в Источники информации, принятые во процессах измерения деформаций и напря-":--:- .внимание при экспертизе: жений с поМощью тензорезйсторов. «=.=,-.—:,"::,- .:- ;--.:=:;

1. Мухин Л, К Способ контроля готовф р м у л а и з о«б р е т е йи я,, . 15 ности теизодатчика к эксплуатации. Заводская лаборатория № .5, 1965, с, 628 — 629.

С

- тензорезисторов, заключающийся в том, что,,№ 277369, кл. G 01 В 7!18, 1970 (прототип). с

/ ,Ф ,,«

»« . - "... : "-- « - «д ° . » — ° " ""-"- - - ° . " "" -" " - « --.-" " ° «М

O+Y -:. -,«ю *" ° - .,- -""-,: - " "- "- -, . *, т г

IIO s. i с а=стией«й«ого* кб пйета СССР по делам изобретений, и открытий«

Тйп. Харьк. фил. пред. «патент> .-, : ..,". ; . =. :., I