Прибор для микроскопического анализа минералов по методу точек

Прибор для микроскопического анализа минералов по методу точек

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Класс 42l, 3„, Х 72499

СССР

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ "-".

I -,— («Я Д Ц Д g - . LfiiitO. . " ." Еьт(АЙ " -"КОЕ! Д

А. Н. Казанскии

) ПРИЬОР ДЛЯ МИКРОСКОПИЧЕСКОГО АНАЛИЗА

МИНЕРАЛОВ ПО МЕТОДУ ТОЧЕК

Заявтоио 3(I со!г!ч:о!3 1Ч.1(1 г, !3 .х. ЗОЗО11 в 1,омитот ио . !с.t;Iм го >логllll ! -р" (.оа>от(13poj(III:i." (о (гcc31>o" C.(-(.1

11азначс!шс предлагаемого прибора зак,по астся 13 подсчстс плон(адей, занимаемых на шлифе теми или и ы.. и мпнсраламп

Прибор работает на принципе разделения света на сосгавпыс цв(та, соответствую!Нис минералам, находя(Нимся в шлифе.

11а черте>ке изображен прсд. 13!3(>мыи llpllc)op.

ИССЛСДМЕМЫ11 Ll).1И((1; 1(РСП.ЧЯСТСЯ На ПОДВИЖНОМ CTO.ill!(Cс 2 Тани>1 с(5p330 !, чтобы в поле зрения поляризационного микроскопа 8> сосгояцего из диафрагмы а, объектива 6 и откидного прозрачного зеркальЦа (о нахоДилсЯ ОД(гн из минеРалов, поДлсжашпх поДсчетУ, ВРащенисм сто;1ика добив3101ся наиоолее спльпои 01(раскii минерала, затем и» фильтре f устанавливают один из фотоэлементов о так. чтобы свет падал на него, после чего передвигакт шлиф и устанавливают другой фо!оэлемснт для следующего минерала. Когда фильтр будет установлен ,1ля всех минералов исследуемого ц!Сп!ф(1, устанавливают центр шлифа

В поле зрсния микроскопа I(Включаюl Гlодаlоlций ъ1еханпз!>1, Осуlцсствляющий движение столика по спирали и автоматический поворот в пределах 90 . Таким образом под м !кроскопом проходит всеь исслсдусмь;й участок шлифа. Свет, проходя через микроскоп, попадает на дисперсионну!о призму d, разлагасгся на спектр и в виде узкого расхоДЯ1ПСГОСЯ П > ЧКа ПВДИСТ На Р3СССИВ 110Ц(Е(- 3(РК3,10 С, Н;laHa>ICHl! C которого — увел(!чепис ширины спектра, 1 ассеивающсе зеркало

rlatl P 3В.I ЯСТ Л \ ЧИ r!a фИЛ ЬТР )г> ВЫ РСЗЫ В 1.0ТОРО» Pacl!O;!OЖСН Ы ТО. 1Ь1(О

В т(х частях circ!TTpa, !(0Topltc paloT 1!cc leg> с>!ые мин(. р 3.1ы. 1,1 >кды!!

B Ilo;IP зрения ми!(роскопа попадает !((!кой-ниб> дь KIIIHcpaл, фотоэ,1емснтом д Вкл10ча(. тся соОТВОТсТ й!Ощий сч! T lик, который Оста«тся вкгпочснным все время, пока поле занято этим минералом. В том

c 1(÷ÿc, НОГД(1 .">!инсрал занимает только часть по1я, Oil (1пп(сирусTcя, к31. за1>и>!(Поп(НЙ Все 110, ic счетчика. 1 аким Ооразом Гр(lницы каждого (!I!Etc рала увеличены на ширину скользя;пего поля. Но так как в ответе берется нс абсолютное значение пло.цадей, и их отношение. Н;! точность

1!3мсpCH1I!I ЭТО liC О! .331>rBaCT:III!(3НОГО ВлияНия, № 72499

Чтооы ликвидировать ошибки, которые могут возникнуть из-за >:г2сания света ь «(e((0TOp(i:»; зернах мннералОВ, сто (ик после каждо! 0 подсчета ьсей площади автоматически поворачивается на некоторьп! угол, являющийся дробной частью 90 . Количество таких поворотоп устанавливается требуемой TOчностью измерений.

Регистрирующни аппарат может быть осуществлен В,ды.; ва!) вантах;

1 ) неносредстВенно подсчиты на(0!Ний и. (Ощади;

2) записывак)щий результаты на пленку.

Во втором варианте вместо фотоэлементов вставляется фотопленка.

Если фи. 1(>TP 32 (IPHHTk i P2 > HPoP>BHHOII шкалой I!0 ,>(ишель Леп), пpибор можеT работать и как Опреде,1итель минер<(лов.

Предмет изобретения

Редактор С, И. Зотов Тскред А. A. Камышникова

Корректор Е. Л. Коган ч)ор>)ат оу)), 0;.(108)/)6 ОГ)ьс)! 0,18 над. и

Т»ра»< 200 Цена 5 кон.

Г1одп к неч 12.11.42 г, Зак. ¹ 335

Opпо(ге)(il)l o() )аетн;H) Tllllol р(н!)и)) «Тр) д >, и O()c)I> >)g . lllill!), 1

HpkIoop д. !я (>(икроскоп((<(ескОГО анализа минера.10В по мстоду To (с(( с ((рименением но (яриза((нонного микроскопа, снаоженного псремещаю-! (IiI(I иссл(>дуемый шлиф НО спирали пред)мстным ст0.1иком, О т,1 и )! B!Оlil, н и с H IlplD(pнен((е:)! уст(н(ОВленны над диа()pBI . >(0!(микроскоп(! дисперсионной призмы и рассеива Ощего зеркала, направляющего отри.кенный от и(лифа и прошедший через диснерсионную призму свет I(2

ОДНН HB CP. I(.I(TH(3HI>IX фотоЭЛСМСI(TO(3, УП!)((В;(ЯЮН(((Х СЧЕT H:IH i(2 (!)Отоп.:(енку,