Способ измерения радиуса кривизны цилиндрической поверхности

Способ измерения радиуса кривизны цилиндрической поверхности

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

е ь

И 3 О Б Р Е Т Е Н И Я

Союз Советских

Социалистических

Республик

Ж

1 ,l — (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено )31176 (21) 2418219/25-28, с присоединением заявки М— (23) Приоритет— (51)м. КЛ.2

G -01 В 11/08

G 01 В 11/24

Государственный комитет

СССР оо делам изобретений и открытий

Опубликовано 250430. Бюллетень N915 (53) УД 531.793 (088. 8) Дата опубликования описания 2504.80 (72) Авторы изобретения

Н. М. Балясников и Л. Г. Балясникова (71) Заявитель (5 4 ) СПОСОБ ИЗМЕ PE НИЯ РАДИУСА КРИВ ИЗ НЫ

ЦИЛИНДРИЧЕСКОИ ПОВЕРХНОСТИ

st 3/2 а с1Д 2В

Изобретение относится к способам измерения радиусов кривизны поверхностей, в частности цилиндрических поверхностей. 5

Известен способ исследования кривизны поверхности, заключающийся в том, что используют экран с линейным растром, освещают его и проецируют линейный растр на иссле-. дуемую поверхность (1).

Недостатком данного способа являются невысокая точность и значительная трудоемкость измерений.

Известен также способ определения радиуса кривизны поверхности, заключающийся в том, что перед полированной контролируемой поверхностью на некотором расстоянии от нее устанавливают непрозрачный объект с известными параметрами, освещают его световым пучком, проецируют объект на контролируемую поверхность и по величине его изображения, полученного от контролируемой поверхности, судят о ее радиусе кривизны (2), Недостатком этого способа является длительность процесса измерения.

Для повышения экспрессности в известном способе измерения радиуса кривизны цилиндрической поверхности путем освещения ее с последующей регистрацией отраженных лучей на исследуемой поверхности параллельно ее образующим располагают щель, на пути отраженных лучей располагают экран и по величине изображенной на экране освещенной эоны поверхности определяют ее кривизну с использованием соотношения: где р- ширина изображенной на экране освещенной зоны поверхности

L — - ширина щели;

S — расстояние от плоскости щели до экрана;

R — радиус кривизны цилиндрической поверхности

Изобретение поясняется чертежом, на котором дана схема устройства для измерения радиуса кривизны поверхности по предлагаемому способу.

729439

Формула изобретения

Составитель О.Шилкин

Редактор Т. Шагов а Техред О.Андрейко Корректор О. Ковинская

Заказ 1248/35 Тираж 801 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д."./5

Филиал ППП Патент, г.ужгород, ул.Проектная,4

Щель 1 с фиксированным расстоянием Ь между кромками ножей устанавливают на фиксированном расстоянии S от экрана 2. На экране нанесена шкала, рассчитанная по приведенной выше формуле.

К ножам щели упруго поджимают исследуемой поверхностью деталь 3 с возможностью вращения вокруг оси, перпендикулярной к оси цилиндра, вследствие чего происходит установка образующих цилиндра параллельно ножам щели. Освещают ограниченный щелью участок поверхности коллими-. рованным пучком света и по ширине освещенной зоны на экране по шкале определяют радиус кривизны цилиндрической поверхности. Таким образом, наличие минимального числа несложных операций позволяет производить экс-прессное измерение радиусов кривизны цилиндрических поверхностей.

Способ измерения радиуса кривизны цилиндрической поверхности путем освещения+ее с последующей регистрацией отраженных лучей, о т л и ч а .ющи йс я тем, что, с целью пов выше ния экспресс ности, на исследуемой поверхности параллельно ее образующим располагают щель, на пути отраженных лучей располагают экран и по величине изображенной на экране освещенной зоны поверхности определяRT ее кривизну с использовани м сооТношения: где — ширина изображенной на экране освещенной зоны

i5 поверхности;

Ь вЂ” ширина щели;

S — расстояние от плоскости щели до экрана;

R — радиус кривизны цилиндрической поверхности.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

9. 160887, кл. С 01 В 9/02, 06.04.63.

2. G . Richt "Mess †u Phufmetho

den der optischen Fertigang, Hand 1, AcademicverIag, BerIin, 1955, с.44-46.