Цифровой измеритель временных параметров полупроводниковых приборов

Цифровой измеритель временных параметров полупроводниковых приборов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

(11) 744384

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН И Я

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 04.08.77 (21) 2514795.18-25 с присоединением заявки— (23) Приоритет— (43) Опубликовано 20.05,80. Бюллетснь № 24. (45) Дата опубликования описания 07.12.81 (51) М.Кл 6 01 R 31/26

Тосударственнык комитет

СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.382 (088.8) (72) Авторы изобретения

А. И. Панов, О. Ф. Рамзайцев и Н. Ф. Герасимов (71) Заявитель (54) ЦИФРОВОЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ВРЕМЕННЫХ

ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ

ПРИБОРОВ

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано для контроля динамических параметров цифровых интегральных схем (ЦИС).

Известно устройство для измерения динамических параметров цифровых интегральных схем, использующее стробоскопический метод измерения (1).

Недостатком известного устройства является низкая производительность, обусловленная значительным временем проведения одного теста.

Известно устройство для измерения временных параметров полупроводниковых приборов, содержащее блок подключения, блок управления, генератор тестовых импульсов, соединенный с блоком подключения и блоком управления, стробоскопические дискриминаторы начала и конца измерения, блок управления дискретностью считывания, соединенный с блоком управления и стробоскопическими дискриминаторами, блок автоматического сдвига стробимпульсов, соединенный с генератором тестовых импульсов, блоком управления, стробоскопическими дискриминаторами и блоком управления дискретностью считывания (2).

Использование блока управления дискретностью в известном устройстве сокращает время измерения, так как измерение временного интервала осуществляется сначала крупными дискретностями, сбросом избыточной крупной дискретности и б затем досчетом мелкими дискретностями.

Однако временные затраты на проведение одного теста довольно значительны.

Целью изобретения является повышение производительности измерений.

Поставленная цель достигается тем, что в устройство дополнительно введены реле времени, запоминающее устройство и сумматоры, причем реле времени соединено с запоминающим устройством и блоком управления, каждый из сумматоров включен между стробоскопическим дискриминатором и блоком подключения и соединен с блоком управления, а запоминающее устройство — с блоком автоматического сдви2С га стробимпульсов и блоком управления.

На чертеже дана структурная схема предлагаемого цифрового измерителя временных параметров полупроводниковых приборов.

25 Он содержит блок подключения 1, генератор 2 тестовых импульсов, блок управления 3, сумматоры 4 и 5, стробоскопические дискриминаторы 6 и 7 начала и конца измерения, блок 8 управления дискретностью считывания, блок 9 автоматического сдви744384

65 га стробимпульсов, запоминающее устройство 10 и реле времени 11.

Измеритель работает следу:ощ!«ь: образом.

В исходном состоянии реле времени 11 переводит запоминающее устройство 10 в режим записи, В контактное устройство блока 1 подключения помещают испытуемую ИС и осуществляют запуск измерителя, При запуске измерителя блок управления 3 подает команду на включение нулевых уровней отсчета в задатчиках уровней блока 3. Эти уровни поступают через сумматоры 4 и 5 на входы стробоскопических дискриминаторов 6 и 7 и запоминаются.

Затем блок управления 3 формирует команду на включение уровней отсчета динамического параметра и других тестовых условий по первому измерительному тесту..

НрН этом на вход сумматора 5 уровень отсчета подается с протнвополо;квой полярностью с целью получения на его вь ходе напряжения, равного нулю по достижении на его другом входе импульснь«м сигналом напряжения, равного уровню отсчета.

Стробоскоппческий дискриминатор 7 осуществляет преобразование выходного сигнала сумматора 5 посредством oлока 9 автоматического сдв!«га строб:.мпульсов до тех пор, пока сдвигаемый стробимпульс не попадает на мгновеш«ое значение напря«ке«ния импульса, равное уровн«о отсчета противоположной полярности, формируемому одним из задатчиков олока "ирнвлспня

3. B момент равенства нулю напряжения на выходе сумматора 5 стробос

l0

l5

45 ся в запоминающее устройство 10, а результат сравнения обрабатывается в блоке управления 3. После чего блок управления

3 пере,,ает исходные данныe (уров«!«! отсчета) на измерение параметра второго теста. Лна.«сги1«но осун.естгляется «:çìåp",.— ние второго, трегьсго и т. д. до последнего теста, в результате чего в ",апоминаюп см устройстве !0 будут зафиксированы веч«ичины задержек начала отсчетов по каж!ому измерите, «ьному тесту, «!2 K0Tip! е необход!«мо сдвнпуть стробимпульс прп;!пмеренни параметров сл ду:о«!«!«х иснытуcмых ИС.

После измерения параметров первой 1IC по всем тестам блок управления 3 фор::. !!рует команду «конец испь«тапнй >, по которой разрешается считывание из запоминающего устройства 10. При измерсни ; следующей ИС по команде нз блока упраглеш«я 3 по каждому тесту из з«пом! п«ноч.,о устройства 10 в блок 9 авто 2TH ooH. го сдвига стробнмпульсоз псренис,;„-,. я задержки, соответствующие на; 1;I) отс «cTQ

:«змеряемого параметра I класс;«фика«,ионному значешно этого параметра. Ст «абоскопический дискриминатор ср:::.-. паре".одится в режим стробвольтметра и за о- .н стробимпульс производи-. ««з.,«ерсш!" з каждом тесте до тех пор, пока спгн"..".o.n -,т реле времени 11 не разрешится запись в запоминающее устройство 10 из блока 9 за,«ержек, cooTLeòñòì ю них на:!алу отсчета измеряемого временного интервала. В результате измеритель с««ова переводи- ся из режима по сокращенному циклу измерителя (pci . èì стробвольт««етра) в рс.ким поиска начала отсчета при цикле измерения с запоминанием, т. е. измеритель возвращается в исходное состояние. При этом исключается время, необходимое на перезапомипание уровней отсчета поиска начала и конца измеряемого параметра для нескольких испытуемых схем.

Предлагаемое устройство поз",-.олнт уменьшить время измерения одного теста и увеличить производительность по сравнению с известными устройствами.

Формула изобретения

Цифровой измеритель временных параметров полупроводниковых приборов, содержащий блок подключения, блок управления, генератор тестовых импульсов, соединенный с блоком подключения и блоком управления, стробоскопические дискриминаторы начала и конца измерения, блок управления дискретностью считывания, соединенный с блоком управления и стробоскопическими дискриминаторами, блок автоматического сдвига стробимпульсов, соединенный с генератором тестовых импульсов, блоком управления, стробоскопически744384

Г

1

+ (!

Составитель В. Немцев

Тсхред А, Камышникова

Корректор С. Файн

Рсдактор Н. Коляда

Заказ 1758/1287 Изд. ¹ 628 Тира2к 749 Подписное

НПО <Поиск» Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, jK-35, Раушская наб., д, 4/5

Тип. Харьк. фил. пред. «Патент» ми дискриминаторами и блоком управления дискретностью считывания, о т л ич а ю шийся тем, что, с целью повышения производительности измерения, в него введены реле времени, запоминающее устройство и сумматоры, причем реле времени соединено с запоминающим устройством и блоком управления, каждый из сумматоров включен между стробоскопическим дискриминатором и блоком подключения и соединен с блоком управления, а запоми!

I (I нающее устройство — с блоком автоматического сдвига стробимпульсов и блоком управления.

5 Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. «Тестер динамических параметров>

Т4520 ЩЦМЗ.430,004,ТО.

2. Авторское свидетельство СССР по

10 заявке Я 2163406/24, кл. G 01 К 31/26, 1975 (прототип).