Устройство для измерения параметров многослойного стекловолокна

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Л теи нс б

А Нн ™ "

Союз Советских

Социалистическнх

Республик

<н746205

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву—

1 (22) Заявлено 25.11.77 (21) 2548621/18-25 (53)М. Кл, G 01 J 1/04 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет—

Государственный комитет

СССР но делам изобретений и открытий

Ф

Опубликовано 070780. Бюллетвмь № 25 (53) УДК 535.242.2

,088.8) Дата опубликования описания 070780 (72) Автор изобретени я

М.М.Дедловский

Ордена Трудового Красного Знамени Институт радиотехники и электроники AH СССР (71) Заявитель (54). УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ «пАРАИЕТРОВ

МНОГОСЛОЙНОГО СТЕКЛОВОЛОКНА

Изобретение относится к области фотометрических измерений оптических свойств прозрачных для светового излучения образцов и может найти применение при измерениях параметров сте-5 кловолокна многослойной структуры, используемого в оптических линиях связи.

Известно устройство для измерения параметров многослойного стекловолок- 1О на (13, содержащее источник света, держатель волокна и регистрирующий приемный элемент.

Наиболее близким техническим решением к данному изобретению является 15 устройство для измерения параметров многослойного стекловолокна f2), содержащее источник света, держатель волокна с гнездом для установки стекловолокна и приемный регистрирующий 20 элемент.

Недостатком известного устройства является отсутствие центрирования стекловолокна в интегрирующей сфере вследствие выполнения гнезда для 25 установки стекловолокна в виде прорези, в интегрирующей сфере из кварца, покрытого светорассеивающей средой, через которую протаскивают стекловолокно, что снижает точность и вос- 30 производимость измерений и делает устройство непригодным для измерения потерь на поглощение, так как оно не приспособлено для возбуждения волок, на.

Цель изобретения — повышение точности и воспроизводимости измерений.

Для этого в известном устройстве держатель выполнен из фторопласта в виде шара диаметром не более 3 мм, снабженного коническим гнездом с углом конуса т 0,1D/d, где 0 - максимальный диаметр волокна, d †- минимальный диаметр волокна.

На чертеже представлена принципиальная схема устройства.

Устройство содержит источник света

1, держатель 2 волокна 3 и регистрирующий приемный элемент 4. Держатель

2 выполней в,виде шара из фторопласта диаметром не более 3 мм, причем в шаре выполнено коническое гнездо 5 с углом конуса Ч = 0,1 D/d где 0 — максимальный диаметр волокна, d — минимальный диаметр волокна.

Устройство работает следующим образом.

В шаре непосредственно перед процессом измерения иглой с углом заточки т" выдавливают коническое гнездо

746205 формула изобретения

Составитель B.Òðàóò.

Редактор Н. Воликова Техред М. Кузьма Корректор M. Вигула

Заказ 3927/28 Тираж 713 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП "Патент", r.Ужгород, ул.Проектная,4

5, в которое вкладывают волокно 3.

Операция вкладывания волокна должна бйть выполнена в течение времени действия "восстайавливающих упругих сил, которые. затягивают гнездо, обеспечивая надежное крепление и центрирование волокна в материале шара. Световой поток от.источника света 1, входящий,в шар со стороны, обратной гнезду, рассеивается, причем индикатриса рассеяния близка к сфере. Волокно возбуждается излучением, рассеяйным в шаре. Распределение поля в шаре близко к равномерному, поэтому волокно возбуждается однозначно.

Использование устройства существенно повышает точность и воспроизводимость измерений.

Устройство для измерения парамет- 2О ров многослойного стекловолокна, содержащее источник света, держатель волокна с гнездом для установки стекловолокна и приемный регистрирующий элемент, о т л и ч а ю щ е. е с я тем, что, с целью повышения точности и воспроизводимости измерений, держатель выполнен из фторопласта в виде шара диаметром не более 3 мм, снаб-. женного коничзским гнездом с углом конуса = 0,1 О/d, где D - максимальный диаметр волокна

Р

d — минимальный диаметр волокна.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Keck Donald В., Spatiа! and

temporal power transfer measurements

on a low-low opticai waverguide, Applied Optics, 1974,Р 8, р,1882-1888.

2.0stermayer.F.W. Benson W.W.„

Integrating Sphere for measuring

scattering loss in optical fiber

waveguides, Applied Optics, 1974, Р 8, р.1900-1902(прототип).