Образец для коррозионных испытаний
Иллюстрации
Показать всеРеферат
Союз Советских
С оцналистнческих
Республик
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (ti> 750350 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 31.1078 (21) 2678798/25-28 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет
Опубликовано 2 30 78 О. Бюллетень ¹ 2 7 (5()М. Кл.З
G N 17/00
Государственный комитет
СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 620. 195 (088. Е;
Дата опубликовани я описания 2507,80 (72) Авторы изобретения
В, A Кузнецов, С. Г. Поляков, Ю. Г. Котлов, Л. И. AHòðîïñå и Ю. С. Герасименко (71) Заявитель (5 4) ОБРАЗЕЦ ДЛЯ КОРРОЗИОННЫХ ИСПЫТАНИЙ
Изобретение относится к испыта тельной технике, а именно, к образцам для коррозионных испытаний.
Известен образец для коррозионных испытаний, содержащий два слоя разнородного металла и скрепляющий их диэлектрик (1) .
Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому результату является образец для коррозионных испытаний, содержащий чередующиеся слои исследуемого металла и соедин яющие их слои диэлектрика (21 .
Недостаток образцов — низкая точ-15 ность испытаний, проводимых с их помощью, особенно в тонких слоях элект. ролита, так как соотношение между слоями металла и диэлектрика неопределенно, что приводит к выпадению из измерений части поверхности металла, а возможность применения гидрофобного диэлектрика приводит к изменению процесса формирования слоя электроли-та на поверхности образца.
Цель изобретения — повышение точности испытаний.
Цель достигается за счет того, что использован диэлектрик, гидрофильность которого -соответствует гид- ЗО рофильности металла, а толщина g слоев металла выбрана из соотношения где P — толщина слоя диэлектрика;
К вЂ” экспериментально определяемый коэффициент, з авис ящий от поля риз аци онных харак теристик исследуемой систеьыз толщина слоя электролита;
У удельное сопротивление электролита; максимально возможное значение скорости коррозии в исследуемой системе; о — допустимая ошибка измерений.
На чертеже приведена схема образца.
Образец содержит чередующиеся слои 1 исследуемого материала и соединяющие их слои 2 диэлектрика. Слои
1 металла через один соединены между собой пров одни ком 3 и подключены к самостоятельным токовводам 4, связанным с источником 5 стабилизированного напряжения и амперметром б.
750350
1 50к И 8
10РСЧ6 (g p
10 P = q à <9 5 10 см, Составитель В. Рыкова
Редактор N. Ликович Техред Н.Бабурка
Корректор Ю. Мак арен ко
Подписи ое
Заказ 4460/17 Тираж 1019
ЦНИИПИ Государственного комитате СССР по делам изобретений и открытий
1.13035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал ППП Патент, г. УжгорсН, ул. Проектная, 4
В качестве материала диэлектрика используют эмаль, слюду стекло, ситаллы, фарфор гидрофильность которых соответствует гидрофильности металла.
Для определения толщины слоя металла, например меди под тонким слоем дистиллированной воды определяют методом атомно-абсорбционной спектроскопии максимально возможную скорость i коррозии, которая в этом случае равна 0,064 мм/год, коэффициент К при этом равен 1290 мм/год
Ом см2, сопротивление электролита
5 105 Ом при толщине слоя элект
-3 ролита h = 3 10 см. Задавая ошибку
S = 0,1, получают соотношение т. е. при соотношении толщины металла и диэлектрика 1:10 и толщине металла не более 9,5 ° 10 см скорость корро-2 зии меди, кот орая не боле е
0,064 мм/год, измерена с.ошибкой не более 10 Ъ для всех случаев тонких пленок электролита, в том числе для атмосферной коррозии.
Формула изобретения
Образец для корроэионных испытания, содержащий чередующиеся слои исследуемого металла и соединяющие их слои диэлектрика, о т л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности испытаний, использован диэлектрик, гидрофильность которого соответствует гидрофильности металла, а толщина g слоев металла выбрана из соотношения где Р— толщина слоя диэлектрика;
К - э кспериментально определяемый коэффициент, зависящий от поляризационных характеристик исследуемой системы; толщина слоя электролита; удельное сопротивление электролита;
i — максимально возможное знак чение скорости коррозии в исследуемой системе; о — допус тимая отн оси т ельн ая сшибка измерений.
25 Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1. Авторское свидетельство СССР
Р 164461, кл. G 01 N 17/00, 1962.
2. Патент CIA Р 3398065, кл. 2041, 1968 (прототип) .