Способ измерения глубины отпечатка при микроидентировании

Способ измерения глубины отпечатка при микроидентировании

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 090678 (21) 2626368/25-28 (51) М с присоединением заявки ¹â€”

G OI И 3/ 0

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 300980, Бюллетень № 36

Дата опубликования описания 300980 (53) УДК 620.178. .15(088.8), (72) Авторы изобретения

В. Ф. Бердиков и О. И. Пушкарев

Волжский филиал Всесоюзного научно-исследовательского института абразивов и шлифования (71) Заявитель (54) CIIOCOB ИЗМЕРЕНИЯ ГЛУБИНЫ ОТПЕЧАТКА

ПРИ МИКРОИНДЕНТИРОВАНИИ

2 "--1

Изобретение относится к"способам определения физико-механических: свойств в поверхностных слоях различных твердых тел и предназначено 5 для микромеханических испытаний, например на микротвердость.

Известен способ измерения глуби-ны отпечатка при микроиндентировании, заключающийся в том, что в испытывае- 1р мый образец непрерывно вдавливают алмазную пирамиду и записывают диаграм-му вдавливания (.13 .

Однако в этом способе при измерении глубины отпечатка не учитывают величину упругой поДатливости системы "образец-прибор" °

ЦЬль изобретения — повышение точ- . ности измерений. указанная цель достигается тем, что повторно вдавливают сферический индентор, по его перемещению определяют величину упругой податливости системы "образец-прибор" с учетом их упругого сближения по Герцу,. и по 25 разности перемещения алмазной пирамиды и величины упругой податливости системы "образец-прибор" определяют истинную глубину отпечатка индентора. 30

Способ осуществляется следующим образом.

На приборе с непрерывным вдавливанием индентора записывают диаграмму вдавливания алмазной пирамиды Виккерса в поверхность испытуемого образца. По этой диаграмме определяют величину перемещения h пирамиды при данной нагрузке. Затем записывают диаграмму вдавливания сферы. Диаметр сферы подбирается таким, чтобы вдавливание происходило без образования остаточного отпечатка, т. е. чтобы процесс вдавливания был чисто упругим. При выполнении этого условия на диаграмме вдавливания сферы линии нагружения и разгрузки должны совпадать, если этого не происходит, то следует взять сферу большего диаметра. По диаграмме вдавливания сферы определяют перемещение Ьсф, сферы при данной нагрузке и по ней с учетом величины упругого сближения d сферы с плоскостью образца (подсчитанной по формуле Герца при той же нагрузке) определяют упругую и;>датливость снстемы "образец-прибор" пад "сф Ист инная г*лубина отпечатка пирамиды равна разности перемещений пирамиды и сферы ь ь - ь +д, где Ьр - истинная глубина внедрения пирамиды под нагрузкой; перемещение пирамиды по диаграмме вдавливания;

Ь Ф вЂ” перемещение сферы по диаграмме вдавливания; Г - упругое сближение сферы с плоскостью образца (по формуле Герца

Е Е„ где Р— нагрузка на сферу, р,ц„ E,E, — козффициенты Пуанссона и модули упругости испытуемого материала и материала сферы соответственно,.

R - радиус вдавливаемой сФеры).

767617

@ рмула изобретения

Способ измерения глубины отпечатка. при микроиндентировании, заключающий. ся в том, что в испытываемый образец

5 .непрерывно вдавливают алмазную пирамиду и записывают диаграмму вдавли« вания, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, повторно вдавливают сферический индентор, по его перемещению определяют величину упругой податливости системы "образец-прибор" с учетом их упругого сближения по

Герцу, и по разности перемещения алмазной пирамиды и величины упругой

15 податливости системы "образец-прибор определяют истинную глубину отпечатка индентора.

Источники информации, щ принятые во внимание при экспертизе

-1 ° Геллер l0. А. и др. Материаловедение. М., "Металлургия", 1975, с. 179 (прототип).

Составитель И. Музычкина

Техред Н.Барадулина Корректор ..М .. Ooao

Редактор С. Тимохина

Заказ 7002/16 Тираж 1019 Подписное

ВНИИПИ Государственного .комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент",.г. ужгород, ул. Проектная, 4