Способ и прибор для определения глубины залегания камней, пузырей и т.п. в кусках стекла

Иллюстрации

Способ и прибор для определения глубины залегания камней, пузырей и т.п. в кусках стекла (патент 7687)
Способ и прибор для определения глубины залегания камней, пузырей и т.п. в кусках стекла (патент 7687)
Способ и прибор для определения глубины залегания камней, пузырей и т.п. в кусках стекла (патент 7687)
Показать все

Реферат

 

Класс 421, 13

) г,. (, № 7687

ТС,.: .-> т-:.

ОПИСАНИЕ способа и прибора для определения глубины залегания камней, пузырей и т. п. в кусках стекла.

К патенту В. В. Суродейкнна, заявленному 7 июня 1927 года (заяв. свид. М 17354).

0 выдаче патента опубликовано 31 января 1929 года. Действие патента распространяется на 15 лет от 81 января 1929 года.

В практике заводов оптического стекла встречается необходимость во время браковки, состоящей в отделении годных частей куска стекла от негодных, устанавливать местонахождение камня, пузыря, трещины и т. и. вредных включений. Эти пороки в стекле легко видны с передней плоско полированной грани куска; однако, для того, чтобы точно установить глубину их залегания, нужно или применять довольно сложную оптическую установку или иметь еще одну плоско полированную боковую грань. Предлагаемое изобретение позволяет в этой работе обходиться без полировки боковой грани куска, т.-е. пользоваться одной только передней полированной гранью. Принцип прибора заключается в использовании того известного в физике факта, что дно стакана, рассматриваемое через налитую в него воду, кажется приподнятым, и что кажущееся его расстояние от поверхности равно истинному, разделенному на показатель преломления воды.

На фиг, 1 и 2.чертежа изображен предлагаемый прибор со следующими обозначениями: А — доска (подставка);  —.выемка; С вЂ” стойка с делениями; Э вЂ” передвижная муфта с укрепленной на ней иглой Л; Э— белый (снизу) экран, на фоне которого видно изображение иглы; E— пружина; —; П вЂ” пузырь. На фиг. 3 и 4 поясняется теоретическая часть предлагаемого способа.

Пусть в глаз, помещенный перед полированной поверхностью куска стекла (фиг. 3), попадают лучи, идущие от исследуемого пузыря П.

На поверхности стекла они будут преломленными. Пусть также в этот глаз попадают лучи, исходящие из освещенной точки И (острие иглы), помещенной на одном общем с точкою 11 перпендикуляре, после того, как они отразятся от той же полированной поверхности (фиг. 3).

Вообще говоря, эти два пучка лучей, попадающие в глаз, не будут тождественны, что можно обнаружить путем смещения глаза по горизонтали, при котором будет заметно параллактическое смещение точек П и Л (П вЂ” кажущееся положение пузыря и Хà †зеркальн изображение точки Л). Однако, приближая или удаляя точку ХХ по перпендикуляру, проходящему через П, можно добиться того, что эти две точки Л и П совпадут; при перемещении глаза параллактического смещения не последует (фиг. 4), т.-е. упомянутые два пучка лучей станут тождественными. Пусть

ПАЛ=ар (угол падения) и БАХ=6 (угол преломления). Из чертежа явствует, что ИПА=р, ЛЛ А=ф.

Из треугольника Л -АП получают: ПА: Л А=яп (180 — 4): sin р =

=sin ф: sin р=п (показатель преломления стекла). Отсюда ПА=П И А, Подобное соотношение справедливо и при переходе точки А в точку О, т.-е. ПО = п Л О = пИО.

Таким образом, истинное расстояние пузыря от поверхности стекла равно расстоянию от стекла светящейся точки (иглы), установленной согласно указанным требованиям, умноженному на показатель преломления данного куска стекла.

Прибор состоит из доски А с выемкой В для помещения на иссле.дуемый образец стекла и со стойкой О. По последней ходит муфта D, несущая иглу Л и белый экран Э.

Верхний край муфты D служит для отсчета соответствующих делений, нанесенных на стойке С. Шкала построена так, чтобы сразу давать в миллиметрах расстояние иглы от стекла, умноженное на 1,560, что позволяет применять для сорта стекла en=1,560 простой отсчет по шкале. Для применения к другим сортам стекла нужно пользоваться таблицей поправок.

Прибор ставится на полированную поверхность стекла так, чтобы игла приходилась над исследуемым пузырем, и чтобы совпадало с ним (пузырем) отраженное изображение иглы, (Полезно под стекло подложить черную материю, а иглу направлять к свету). Делая небольшие ,движения головой вправо и влево, наблюдатель обычно замечает, что пузырь и изображение иглы друг от друга отодвигаются (параллактическое смещение). Затем передвигают муфту с иглой кверху или книзу, пока параллактического смещения уже наблюдаться не будет.

Тогда, если стекло было сорта с показателем и 1>560, отсчет по верхнему краю муфты и даст искомую глубину, на которой находится пузырь. Если же стекло имело иной показатель прЕломления, то к этому отсчету делается положительная или отрицательная поправка, взятая из таблицы (в необходимых случаях— интерполированная).

Предмет патента.

1, Способ определения глубины залегания в кусках стекла камней, пузырей, трещин и т. п.,характеризующийся тем, что над полированной поверхностью испытываемого образца стекла ставят метку и перемещают ее вверх или вниз по. нормали к стеклу до тех пор, пока отраженное от стекла изображение метки не совпадет с исследуемым камнем или т. и., на что указывает отсутствие параллактического смещения отраженного изображения метки и исследуемого камня или т. и. при перемещении глаза в горизонтальной плоскости, при чем, расстояние в таком положении метки до отражающей поверхности стекла, умноженное на показатель преломления данного стекла, дает глубину залегания камня или т. и. в кусках стекла.

2. Для осуществления охарактеризованного в и. 1 способа прибор, отличающийся тем, что он состоит из доски А с выемкой В для помещения на исследуемый образец стекла и со стойкой С, по которой ходит муфта Л, несущая иглу И и белый экран Э, верхний край каковой муфты служит для отсчета соответствующих делений, нанесенных на стойке С, К патенту В. l3. СУРОДЕЙКИНН go 76Я7

Тнно-иитогрпфиы аЕреоный Печатникэ,ыоыинхрад, А е цд иоро д .,ц