Фотоэлектрический прибор для определения качества поверхностей

Фотоэлектрический прибор для определения качества поверхностей

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

¹ 79966

Класс 42b, 12о5

K АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Е. М. Рабинович

ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИД ПРИТВОР ? "M ОПРЕДЕЛЕНИЯ

КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТЕ14

Заявлено 27 декабря 1948 г. за ¹ 372714 в Гостехннку СССР

Предметом изобретения является фотозлектрический прибор для оценки качества поверхностей, нспользу?ощий отраженньш пли рассеянный исследуемой поверхностью световой поток, воздействующип на фотоэлектрическую измерительную систему.

Вь?сок??й коэфф??ц??е??т отражения хорошо обработа??иой поверхности затрудняет улавливание весьма небольших изменений количества света, связанных с различием качества обработки, а значительная постоянная составляю?цая светового потока ограничивает возможности использования приемов, позволяющих с необходимой чувствит? льпостью воспринимать исчезающие малые ??зх?с ие?п?я светового потока, созда??немые вариациямп качества поверхности

Предлагаемый прибор устраняет отот недостаток пс?;л?оче?-,пем постоянной составляющей светового потока. Это дост??гается прях?сне??ием вращающейся призмы пли аналоги ??о прпспосоолсн?тя, непрерывно пергмещающего изображение ??сследусмо! поверхности относительно растра, расположенного ? еред фотоалемс??том, чем создается модуляция светового потока, действующего па фотозлемопт.

Н l чертеже изображена I!To???!I!lrlrr?A; .,r?"„ 1 схегш нре,",лагаемого r!рпбора.

flcã;rà,?,.; и-.,;ri участок по.:о1-.х??огт ? М рлв?:с я."?п?о ос ?е. ",r ?r пятеr!r?1!:—

:.??л, световi,?м I!0T(,r;îì нри и? а?гщ?? они.:ч "(,0i; спгт? мы. ?}? på,л,пизу 2 создается изображение освсчненного участка исследуемой поверх??оттlr. на растре 3, паходяи?емся в фокальпой ?глогr?orT?t лии">rl 2. Ч? 1» з "irlrrзу 4 па светочувствительной поверхности фотоа;?ел?е??та 5, вкл?оченного

?.о входную це1?ь усилителя переменного то?;а 6, имею?цего 13 выходной пони измерительпьп? прибор 7, создается изображение поверхности растра 3. Изобра???сп??с участка исследуемой поверхности па растре 3 приводится в непрерывное вращательное пли колебательное движение от» носительно растра, например, при помощи вращающейся призмы 8 или пары вращающихся клиньев, либо при помощи непрерывного движения самого растра 3.

При отсутствии следов обработки исгл дуемой поверхности псрем.— г о

A .79966

В случае 11ал11чпя следов Ооработкн fio13opxilocTII вознп1 а10щое г с11Яэп с этим неравнОмернОе распределение яркости пзооражеп1151 исследуОмой поверхности, перемещающегося по растру, создает модуляцию светОВОГО потока, де11ствующего HR фотоэлемент. Возниlоающая в этОм случае переменная составляющая фототока будет усилена усилителем 6 до необходимой величины, достаточной для действия измерительного прибора 7. Величина тока в выходной цепи усилителя, измеряемая прибором 7, будет мерой качества обработки поверхности, Фотоэлемент 5 включен во входную цепь усилителя 6 посредством разделительной емкости или трансформатора, исключающих действие по стоянной составляющей фототока на усилитель.

Так как мерой качества обработки поверхности в предлагаемом приборе являются его показания, то для суждения о качестве исследуемой поверхности необходимо предварительно измерить образцовые поверхности, откалпбровав по нпм шкалу прибораПредмет изобретения

Фотоэлектрический прибор для определения качества поверхностей, использующий отраженньш или рассеянный световой поток, действующий на фотоэлектрическую измерительную систему, отличающийся тем, что. с целью модуляции фотоэлектрического тока, переменная составляющая амплитуды которого является мерой качества поверхности. он снабжен прпспосоолепием, например, в виде вращающейся призмы, для непрерывного перемещения изображения исследуемой поверхности относительно растра, рас1шложенного перед фотоэлементом, воспринимающим модулированный световой поток.

Комитет ио делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Гр. 164

Поди. к печ. 5/V-19оО г, Редактор В. М. Парнес

Информационно-издательский отдел

WR c 1UI A 1 7 тт TT атга з оРоо

vzrnaer опй т!оиз о ип