Способ рефрактометрии оптическипрозрачных жидкостей и газов

Способ рефрактометрии оптическипрозрачных жидкостей и газов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СснО3 Советскик

Социалистических республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Х АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

<| ||802853 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) 3asa e o 06.02.78 (21) 2579196/18-25 с присоединением заявки ||в|— (23) Приоритет

Опубликовано 07.02.81. Бюллетень М 5 (51)М. Кл. (= 01 Я 21/45

3ЪоударотовниыН комитет

СССР во до|том нзобретенив к открыток (53) УДК 535.322..4(088.8) Дата опубликования описания 09.02.81

E. |1, Земсков, В. П. Кобелев, А. Я. Сагалович, В. Н. Терещенко и А. И. Шаймарданов (72) Авторы изобретения (7!) Заявитель (54) СПОСОБ РЕФРАКТОМЕТРИИ ОПТИЧЕСКИ

ПРОЗРАЧНЫХ ЖИДКОСТЕЙ И ГАЗОВ йя

Изобретение относится к электронно» оптическому приборостроению и может быть использовано в различных областях физико-химических исследований.

Известен способ рефрактометрического анализа, основанный на явлении двухлуче5 вой интерферометрии и обеспечивающий измерение показателя преломления газообразных и конденсированных сред путем сравнения его с показателем преломления эталонного вещества (lg.

Известен также способ рефрактометрии оптически прозрачных жидкостей и газов путем разделения на два коплимированных луча, пропускания одного иэ них через т5 исследуемую среду, сведения лучей и исследования интерференционной картины(21.

Величина абсолютного значения показателя преломления исследуемого вещества определяетси по формуле где tl< - абсолютное значение показателя преломления исследуемого вещества;

l1 ® — абсолютное значение показа« теля преломления эталонного вещества j тт - число интерференционных полос сдвига;

- длина волны зондирующего излучения, см; — длина кюветы, см.

При этом абсолютное значение показателя преломления эталонного вещества определяется заранее с требуемой точностью для параметров его состояния при измерении.

Недостатком этого способа является то, что для измерения показателя преломления исследуемого вещества в широком диапазоне значений необходимо проводить измерения при различных геометрических длинах сравниваемых образцов, что приводит к значительному методическому усложнению измерений.

02883 4 и 4, то на счетчике 8 полос возникает бегущая интерференционная картина и счетчик фиксирует каждую полосу.

Предлагаемый способ обеспечивает прямое измерение абсолютного значения показателя преломления с высокой точностью исключает сравнение исследуемых и эталонных веществ при использовании различных по длине высокоточных дорогостоящих оптических кювет, упрощает методику обработки информации и рефрактсметрический анализ газообразных и конденсированных оптически прозрачных веществ в широком диапазоне параметров их состоянии, что позволяет снизить сроки и себестоимость получаемой информации. где g — абсолютное значение показателя преломления исследуемой среды, - длина волны зондирующего излучения; го

Й вЂ” число интерференциоиных полос;

, — изменение геометрической длины пути луча в исследуемой среде.

На чертеже дана схема устройства для реализации способа рефрактометрии оптически прозрачных жидкостей и газов.

Устройство состоит из источника света, (не показан), создающего коллимированный пучок лучей 1, полупрозрачного зеркала 2, делящего луч 1 на два луча 3 и

4, кюветы 5 с исследуемой жйдкостЬК зеркал 6 и 7, счетчика 8 и устройства

9 для перемещения кюветы.

Устройство работает следующим образом.

Коллимированный пучок света полупрозрачным зеркалом 2 разделяется на два луча 3 и 4, при этом луч 3, дойдя до глухого зеркала 7, воввращается и, пройдя зеркало 2, сводится с лучом 4.

Последний, пройдя сквозь это зеркало, попадает в кювету 5 с исследуемым веществом и отразившись от зеркала 6, помещенного в исследуемое вещество, вторично проходит чорез вещество и вновь попадает на зеркало 2, отразившись от которого, сводится с лучом 3. Йалее, интерферируя, лучи попадают иа счетчик S интерференционных полос. С помощью устройства 9 зеркало 6 перемещается вдоль кюветы, занимая различные положения и.. меняя оптическую длину пути луча в исследуемом веществе. Поскольку при этом меняется разность хода между лучами 3

3 8

Йель изобретения — упрощение измерения абсолютного значения показателя преломлен ия.

Поставленная цель достигается тем, что в способе изменяют оптическую для ну пути луча в исследуемой среде, при этом подсчитывают число полос переменной интерференционной картины, измеряют изменение геометрической длины путем луча в исследуемой среде, а абсолютное значение показателя преломления определжот по формуле

Формула изобретения

Способ рефрактометрии оптически прозрачных жидкостей и газов путем разделения на два коллимированных луча,пронускания одного из них через исследуемую среду, сведения лучей и исследования интерференционной картины, о т л и— чаю mи и с sтем, что, сцельюупрощения измерения абсолютного значения показателя преломления, изменяют оптическую длину пути луча в исследуемой среде, при этом подсчитывают число полос переменной интерференционной картины, измеряют изменение геометрической длины пути луча в исследуемой среде, а абсолютное значение показателя преломления определяют по формуле йй ll -" где П вЂ” абсолютное значение показателя преломления исследуемой среды: — длина волны зондирующего излучения;

Й вЂ” число интерференционных полос; и, - изменение геометрической длины пути луча в исследуемой среде.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Патент США No. 3680963, кл. G 01 И 21/46, опублик. 1972.

2. Иоффе Б. В. Рефрактометрические методы в химии. М., Гостехиздат, 1960, с. 223 (прототип), 802853

Составитель А. Шуров

Редактср М. Стрельникова Техред С.Ми yaosa Kappearap О. Билак

Заказ 10605/56 Тираж 918 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4