Приставка к монохроматору для измере-ния абсолютных значений индикатрисырассеяния поверхности

Приставка к монохроматору для измере-ния абсолютных значений индикатрисырассеяния поверхности

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советски к

Соцналистнческик

Республик

<»>813203 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 16.10.78 (21) 2675078/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл.а

G 01 N 21/55

Гооударственный комитет

СССР

Опубликовано 15.03.81. Бюллетень № 10

Дата опубликования описания 25.03.81 но делам изобретений и открытий (53) УДК 535.8 (088.8) (72) Авторы изобретения

С. П. Авдеев, 3. С. Щербаковский и Ф. Х. Ялы

/ ,Ленинградский институт точной механики и ики (71) Заявитель (54) ПРИСТАВКА К МОНОХРОМАТОРУ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

АБСО,ЛЮТНЫХ ЗНАЧЕНИ1 1 ИНДИКАТРИСЫ РАССЕЯНИЯ

ПОВЕРХНОСТИ

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для измерения оптических характеристик поверхностей материалов в широком диапазоне спектра и углов падения и отражения излучения.

Известны устройства для измерения индикатрисы рассеяния поверхности, содержащие опорный и измерительный каналы, модулятор, оптическую систему каналов, два фотоприемника излучения, один из которых может поворачиваться вокруг образца (1) .

Однако в этих устройствах использование двух фотоприемников усложняет конструкцию и процесс измерения.

Наиболее близкой по технической сущности к предлагаемой является приставка к монохроматору для измерения абсолютных значений индикатрисы рассеяния поверхности, содержащая опорный и измерительные каналы включающие полупрозрачную пластину, объектив, двухгранное зеркало с поворотной гранью, оптический клин и вогнутое контрзеркало и снабженная модулятором и фотоприемником (2) .

Недостатком указанного устройства является ограниченность диапазона измерений, заключающаяся в невозможности измерения коэффициента отражения поверхности в направлениях, отличных от направления

«назад» (т. е. от одной составляюшей индикатрисы рассеяния).

Цель изобретения — расширение диапазона измерений значений индикатрисы рассеяния путем определения абсолютного коэффициента отражения поверхности в различных направлениях.

Указанная цель достигается тем, что в приставку дополнительно введены полусферическая пространственная решетка и установленное с возможностью перемещения по ней плоское автоколлимационное зеркало, причем размер ячеек решетки равен размеру. этого зеркала.

На чертеже представлена принципиальная схема предлагаемого устройства для измерения абсолютных значений индикатрисы

2ц рассеяния поверхности.

Устройство содержит перед входной щелью монохроматора 1 полупрозрачную пластину 2, фотоприемник 3, двухгранное зеркало 4 с поворотной гранью, объектив 5, 813203

Составитель К. Рогожин

Техред А. Бойкас Корректор В. Синицкая

Тираж 907 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Редактор А. Наурсков

Заказ 288/51 модулятор 6, оптический клин 7, вогнутое контрзеркало 8, окружающую исследуемую поверхность 9 полусферическую пространственную решетку 10, плоское автоколлимационное зеркало 11. Фотоприемник.3 установлен на двойном фокусном расстоянии от вогнутого контрзеркала 8 (апертурные углы объектива 5 и контрзеркала 8 равны).

Устройство работает следующим образом.

В режиме балансировки (уравнивания потоков) плоское автоколлимационное зеркало 11 размещается над исследуемой поверхностью 9 перпендикулярно падающему на поверхность потоку и возвращает излучение на фотоприемник 3. Потоки в обоих каналах уравнивают перемещением оптического клина 7.

В рабочем режиме измерений плоское автоколлимационное зеркало 11 перемещают по полусферической пространственной решетке 10 над исследуемой поверхностью в меридиальной плоскости (угол 8 — от 9 до 360 ) и в сагиттальной плоскости (угол от 0 до 180 ), при этом получают множество значений AN (P, р) показаний оптического клина, на которые нужно изме- нить его положение относительно начального отсчета N чтобы получить с фотоприемника 3 нулевой сигнал рассогласования.

Значение индикатрисы рассеяния в заданном направлении определяют с помощью соотношения

Определение значения индикатрисы рассеяния в направлении «назад» производится как в известном устройстве.

При угле падения 4 излучения на поверхность значение индикатрисы рассеяния = 1 М /1 .

В общем случае, т. е. когда может меняться угол падения а, излучения на поверхность (a&0), абсолютные значения индикатрисы рассеяния определяют с помощью соотношения

1о Предлагаемое устройство позволяет получать значения индикатрисы рассеяния исследуемых поверхностей без дополнительных эталонов с высокой точностью.

Формула изобретения

1!риставка к монохроматору для измерения абсолютных значений индикатрисы рассеяния поверхности, содержащая опорный и измерительные каналы, включающие полупрозрачную пластину, объектив, двухгранное зеркало с поворотной гранью, оптический клин и вогнутое контрзеркало и снабженная модулятором и фотоприемником, отличающаяся тем, что, с целью расширения диапазона измерений, в нее дополнительно введены полусферическая пространственная решетка и установленное с возможностью перемещения по ней плоское автоколлимационное зеркало, причем размер ячеек решетки равен размеру этого зеркала.

Источники информации, ЗО принятые во внимание при экспертизе

1. Патент США № 3640627, кл. G 01 N 21/48, опублик, 1971.

2. Авторское свидетельство СССР по зая вке № 2514174/18 — 25, кл. G 01 N 21/48, 27.07.77 (прототип) .