Способ контроля качества изготовленияпьезоэлектрического преобразователя

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

< >8 1 597.4 (á3) Дополнительное к авт. свид-ву 9 706941 (51)м, кл.з

H 04 R 29/00 (22) Заявлено 250679 (21) 2785561/25-28 с присоединением заявки ¹

Государственный комитет

СССР но делам изобретений и отнрытий (23) Приоритет

Опубликовано 230381, Бюллетень № 11

Дата опубликования описания 10. 04. 81 (53) УДК 621. 395. .664(088.8) Б.A.Áåëoãoðoäñêèé, В.Н.Николаев, С.Г.Петр шин, И.N.Ñòàðîáèíåö и Ю.A.Ñòåôàíoâ (72) Авторы изобретений

7г ХИ1 "%".. (М (71) Заявитель

Бл БЛИ ОТ). .ЫА (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИЗГОТОВЛЕНИЯ

ПЬЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ

Изобретение относится к неразрушающему контролю качества изготовления пьезоэлектрических приборов и может быть использовано для контроля качества продукции.

По основному авт. св. Р 706941 известен способ контроля качества изготовления пьезоэлектрического преобразователя, при котором проводят голографическую запись поверхности преобразователя при возбуждении его постоянным электрическим напряжением н оценивают качество исследуемого изделия по голографической интерферограмме, при этом голографическую запись поверхности преобразователя производят при двух равных постоянных электрических напряжениях противоположной полярности (1 .

Недостаток этого способа - отсутствие выявления участков полимерной оболочки, герметизирующей преобразователь, с пониженной адгезией или слипаниями.

Цель изобретения — выявление дефектов полимерной оболочки.

Поставленная цель достигается тем, что температуру преобразователя перед голографической записью доводят до температуры стеклования материала оболочки.

Сущность способа заключается в следующем. изменяют температуру преобразователя в.пределах, включающих температуру стеклования материала оболочки., При доведении температуры преобразователя до температуры стеклования

10 полимера в местах с пониженной адгезией или слипаниями образуется полость. Затем экспонируют на фотопластинку поверхность преобразователя при подаче на него постоянного элеt5 ктрического напряжения в схеме голографического интерферометра. Далее проводят вторичное экспонирование фотопластинки при подаче на преобразователь постоянного электрического

2Q напряжения, равного по величине первому напряжению и противоположной полярности.

Оценку качества изготовления преобразователя производят путем анапи25 за восстановленных голографических изображений, причем участки полимерной оболочки с пониженной адгезией и слипаниями визуализируются на интерферограмме в виде нарушения .пра3Г: вильной структуры интерференционных

815974

Формула изобретения

Составитель К.Леонов

Редактор В.Еремеева Техред М. Лоя Корректор С.Шекмар

05 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, М(-35, Раущская наб., д. 4/5

Заказ

Филиал ППП Патент, г. жгород, ул. Проектная, полос, представляющих в бездефектных участках концентрические окружности.

Предлагаемый способ позволяет увеличить срск.службы Преобразователей эа счет-обеспечения отбраковки дефектных иэделий на ранних стадиях производственного процесса.

Способ контроля качества изготовления пьезоэлектрического преобраэователя по авт. св. М 706941, о т -. д и ч а ю шийся тем, что, с целью выявления дефектов полимерной оболочки, герметиэирующей преобразователь, температуру преобразователя перед голографической записью доводят до температуры стеклования материала оболочки.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР по заявке В 2651356, кл. Н 04 R 29/00, 1978 (прототип).