Прибор для определения сортности конденсаторов, слюды и иных диэлектриков
Иллюстрации
Показать всеРеферат
:!. в 82078
Класс 2je, 29оь
СССР
ОПИСАНИ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Б. В. Горелик и В. T. Дмитриев
ПРИБОР ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОРТНОСТИ КОНДЕНСАТОРОВ, СЛЮДЫ И ИНЪ|Х ДИЭЛЕКТРИКОВ
Заявлено G мая !949 т ва ¹ 395756 в Гостехннку СССР
Известны приборы для определения сортности конденсаторов, слю ды и иных диэлектрикоВ, Выполненные по типу пр»боров z, I;i Определения угла диэлектрических потерь в диэлектриках по методу резонанса.
При пользовгнии такого рода приборами для определения угля диэлектрических потерь илп добротности диэлектрика, по..:«мо производства измерений, приходится также производить определенпь е выч!1сления по соответствующим формулам, в силу чего такие приооры оказыВаются неприГодпыми для массОВОIО контроля дпэлектрикОВ ил«конденсатороз.
Предлагаемый прибор, пригоден для массовой скоростной разбраковки ко1!Денсаторов и диэлектриков по основной электрической характсристпке — QGUpOTHocTII — 110110cpcgcTBGIIHG 110 по!(азанпям прибора без пpoil330;„ с!Па доно;!Ните lb!!bi/ ib«i Ic.TCI(«I!I пo формулам.
:. ТО достнГаетс!1 1 е vi, что ООЬ!ч по! и Iip!160p для 0«ределения уг,.! а диэлектрических потерь по методу резо«анса дополняют пескос!Ы(ими секторамп (Г!О числу уcT2«GH, Iеппых cOpTGB), перемещ!1емымп вдоль шкалы прибора в зависимости GT емкос;.1,.роверяемого объекта. СогласоваННр ход2 сектОрОВ с емкость!О 00 екта Gc, Iцествляс вся при помощ« р,i-!3z(ных передач, Взаимодей!ств1 10щпх с ссотве Гственпь!.:!и эксцена !!Ка ъ!!1, насая(снньlхlи H2 och настроечноГО конденсатора пзмерительнОГО l(GHTQра «риоора.
На фиг. 1, 2 и 3 показано дополнит ль ое ycTpoйство к прибору для
o«pe„.еления угла дпэлектрпчес(пх «о!ерь, в тр х i;; oe.:(цпях.
На фиг. 1 — 3 для простоты «зобрагкена кин.".,:;.!« 1Сская с. е.;а лищь од«010 «Одвин(НОГО cBI(Top3, «оскол!ь у д Iя Осталь!!Ых cci(TGj)oi попользуются такие хке киню!ати Iескlге схех!ы, Отлп! 12:О,!I8cH только cGGT .IG UQ«ием размеров отдельных звеньев.
Индикаторный стрелочньш прибор, напр«мер, мпкроам11ерметр, и(!еет корпус 1 и шкалу 2.
По !«Ижный сектОр c1, paciio,io>K(иньllt Ilo 3 i )if ll(Ka Ir>i -7, 3 крепа!сп !1,1
«epxrrcYi конце qx:>1кнпп 1 (онец дужки 4 шарнирно с«яз I« с тягой (7, ко) 7. рая В с)3010 Очередь («apt(rip(f0 с13я iaii>1 с ш(!тY пом 6 и сиаожеиа lta KotlU,, ви IKoij>12, взаимоде!й!ст(3х !Он(ей с проф(ikf J)ofiairitt.f)f эксцентриком 7, закреплеьн(ым на осп () настрое.ного конденсатора 9. Цифрой 10 сбозп .чена магнитная.:сис((еФЖ стрелоч!!or!7 прпсюра, а 11 — -возвратная г!ружи на под«(!>кногс)-сектора З."
Поскольку эксцептрпк 7 Ilacà K! и на Ocl 8 иастроечног(7 конденсатора 9, ход сектора 8 пдоль выреза !Ик I(fû 2 ос) (tree!«clÿåòcя «:за«. с 1мости От емкости настроечного коидеп(1!Ор 1, который В сг3ою очередь дает изменение отсчета 13 за«licit)f0ñ(!! о! (.YIкncTII подключаемого объекта. Л так как положс(ше стрелк(! рп(юра определяется потерями ((lx(Kocтьlо, то «за им IIО(!!0.(с)>ксппе сel
ЗИД(ИЗПП(СЬ, НанР(МЕР, !Паис((И;IМП ДС)ОРОтIIOC!Ч(;(ЛЯ СЛ(0,.(1,1:
300 — 1(700 — III сорт, 1500 — 2500- 11 сорт, 0(3ûøñ 2500 — I сорт li «ыполи(!« прибор с тремя IIO. (I, It>K!(û Yfè секторам f, (7!f Y! II «разные циега, можно путем просты. < расчето««ы-fi!cëliò«пеобходих!Ое иере) ещеипе секторсп3, определяемое профи.!ем экс((ситрпков li соотношением размсРОВ РЫ Ici>KlillY С(СТЕМ, С тЕМ. ITO()l f « .!С)МСIIi Р 3()f!kiff(à Ilj)OTII13 СтРЕЛКН
II()H()0Pc ОКаэаЛСЯ Cei
Таким образом, с)лагодаря наги(lilio нод«пж(!ых секторс)«обес,!е-:;вается «озмо>кпость определеш!я сортиостп исследуемого образца (конденсатора, пластинок слюды или и«ых 1иэлектриков) по условному признаку оез каких-либо допог!ии !ел! гп(х Вычислении; например, если стрелка остановилась против красного сектора- — 1 сорт, против зеленого
--11 сорт и прогив желтого — III сорт.
Предмет изобретения (. 11рибор для определеш3я сорт«ости ксшденсаторов, с(иоды и иных диэлектриков, выполненный по тину пз()е TIII Ix lipif()0pol3 для измерения
Згла диэлектрических пс)терь но методу резонанса, о тл и I à к) щ и и (>I тем, что, с целью обеспечения «озможпости непосредсT(3elflfo(0 определения добротности про«еряемого ос)ъекта ()ei допол вычислений, он снас)жен песколькпмп (!10 числу устано«ленных сортов) секторами, перемещаемыми вдоль шкалы нрибора в зависимости от емкости проверяемого объекта.
2. Прибор по и. J, о тл и ч а ю щ п и с я тем, что, с целью согласования хода указа!!ных сектОров с емкост(по проВеряемого Ооъекта, дВижеиие секторов осущестг3ляется при помои(и рычажных передач, взаимодействующих с соответственными экспентриками, насаженными на ось настроечного конденсатора измерительного контура прибора.