Способ оценки нестабильности характе-ристик тензорезисторов

Способ оценки нестабильности характе-ристик тензорезисторов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (li)823836 (б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 230379 (21) 2740354/25-28 (51)М К, 3

G 01 В 7/18 с присоединением заявки ¹

Государственный номнтет

СССР ио делам изобретений и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 230481.Áþëëåòåíü N9 15

Дата опубликования описания 230 481 (53) 4< 531. 781. 2, (.088. 8) (72) Автор изобретения

М. М. Парф.е нов (Научно-исследовательский и конструкторс ий институт „ испытательных машин, приборов и средств;измерений kaQ (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОЦЕНКИ НЕСТАБИЛЬНОСТИ ХАРАКТЕРИСТИК

ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ

Изобретение относится к области измерения неэлектрических величин электрическими способами.

Известен способ оценки нестабильности характеристик тензорезисторов, заключающийся в том, что тензорезисторы устанавливают на упругий элемент, который помещают в термокамеру, подключают тенэорезисторы к источнику питания, нагревают термокамеру до заданной температуры и оценивают нестабильность характеристик тензоре эисторов (1),.

Однако этот способ требует большого количества времени для проведения испытаний, так как нагревание термокамеры - продолжительная операция.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ оценки нестабильности характеристик тензорезисторов, заключающийся

s том, что устанавливают тензорезисторы на упругом элементе, нагружают его, подключают их к источнику ,питания переменного напряжения, измеряют нелинейные искажения на выходе к входе тензорезисторов, по разности которых оценивают нестабильность их характеристик (2).

Недостатком этого способа является невысокая точность иэ-за отсутствия необходимой информации о знаке температурной нестабильности, по которой можно было бы определить в какое плечо мостовой схемы необходимо установить сопротивление температурной компенсации.

Цель изобретения — повышение точности оценки нестабильности характеристик тензорезисторов.

Поставленная цель достигается тем, что измеряют знаки напряжения питания и напряжения нелинейных искажений на выходе тензорезисторов в диапазоне фазы напряжения питания 30 от его максимальной величины, по которым оценивают нестабильность характеристик тензорезисторов.

20 Сущность способа заключается в том, .что при питании тензорезисторов переменным напряжением с изменением мгновенной амплитуды меняется мгновенная мощность и количество тепла, выделя25,емого тенэорезистором, а значит и его темпратура. Вследствие незначительной массы тензорезистора его температура пропорциональна выделяемой мощности и квадрату напряжения питаЗО ния, Следовательно температура наг-.

823836

Формула изобретения

Составитель Б. Евстратов

Редактор О. Черниченко ТехредЖ.Кастелевич Корректор М. Шароши

Тираж 642 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 2082/53

Филиал ППП Патент, r. Ужгород, ул. Проектная, 4 ревания тензорезисторов и температурный разбаланс мостовой схемы изменяются нелинейно от напряжения питания. В тот момент, когда напряжение питания достигает максимума, разность температурных коэффициентов тензоре зисторов проявляется наиболее сильно что приводит к максимальному и закономерному мгновенному разбалансу мостовой схемы. При этом, если в мостовой схеме тензорезисторы имеют равные температурные коэффициенты сопротивления, то нелинейные искажения на выходе измерителя нелинейных искажений равны нулю..Так как прак тически достигнуть этого невозможно, . какой-то один из резисторов характе- 15 ризуется максимальным температурным коэффициентом сопротивления, который при настройке мостовой схемы обычно компенсируется введением в смежное плечо температурно зависимого сопро- 2О тивления (медного или никелевого).

Оценку нестабильности характери- . стик тензорезисторов производят следующим образом.

Тензорезисторы устанавливают на упругий элемент, нагружают его, подключают тензореэисторы к источнику питания переменного напряжения. Измеряют знаки напряжения питания и напряжения нелинейных искажений иа выходе тензорезисторов в диапазоне фазы напряжения питания +30 от его максимальной величины, по которым оценивают нестабильность характеристик тензорезисторов.

Процесс оценки нестабильности характеристик тензорезисторов Ilo предлагаемому способу занимает несколько минут и повышает точность оценки по сравнению с известными способами.

Способ оценки нестабильности характеристик тенэорезисторов, заключающийся в том, что устанавливают, тензорезисторы. на упругом элементе, нагружают его, подключают тензорезисторы к источнику питания переменного напряжения и оценивают нестабильность характеристик тензорезисторов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, измеряют знаки напряжения питания и нап-. ряжения нелинейных искажений на выходе тензорезисторов в диапазоне фазы напряжения питания +30 е от его максимальной величины, по которым оценивают нестабильность характеристик тензорезисторов.

Источники информации, принятые во внимание при экспертиэе

1. Исследование температурных напряжений. М., Наука, 1972, с. 133-140

2. Авторское свидетельство СССР по заявке Ф 2594489/25-28, кл. G 01 В 7/18, 1978.