Емкостной датчик для измерения де-формаций

Емкостной датчик для измерения де-формаций

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТВЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву М 46 2064

{22) Заявлено 270779 (21) 2803934/25-28

Союз Советскик

Социалистических

Республик о>823838 (51) hA. Кл,з

G 01 В 7/22 с присоединением заявки ¹

Государствеииый комитет

СССР ио делам изобретений и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 230481 Бюллетень И915

Дата опубликования описания 230481 (5З) Д 5 3 1, 7 8 1, 2 (088.8) (72) Авторы изобретения

В.П. Музыченко и Л„М. Крезо

P1) Заявитель (54) ENKOCTHOA ДАТЧИК ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

ДЕФОРМАЦИЙ

Изобретение относится к измерительной технике и может быть.использовано при исследовании элементов конструкций из полимерных нетокопроводящих материалов.

По основному авт. св. 9. 462064 известен емкостной датчик для измерения деформаций, содержащий изоляционную прокладку, приклеиваемую к поверхности исследуемого элемента и подвижную механическую. обкладку, выполненную иэ более вязкого материала, чем материал исследуемого элемента и представляющую собой тонкую полимерную пленку, на части одной сторо- 15 ны которой, обращенной к поверхности исследуемого элемента, нанесен токопроводящий слой, а линия окончаний склейки и начала токопроводящего слоя образует линию замеров, которая пер- 20 пендикулярна к направлению перемещения подвижной обкладки н перекрыта неподвижной обкладкой (11 °

Недостатком данного датчика является влияние поперечных деформаций на точность измерения продольных деформаций.

Цель изобретения — повышение точно-. сти измерения путем устранения влияния поперечных деформаций.

Поставленная цель достигается тем, что датчик снабжен дополнительной неподвижной обкладкой, изолированной от основной и размещенной в одной плоскости с основной так, что площади проекций токопроводящего слоя подвижной обкладки на неподвижные равны между собой.

На фиг. 1 изображена. конструктивная схема датчика; на фиг. 2 — то же, продольный разрез

Датчик содержит неподвижные основную 1 и дополнительные 2 обкладки, выполненные из металла, подвнжйую тонкую полимерную обкладку 3, приклеенную к поверхности исследуемого элемента 4 на участке AB и имеющую на участке ВС напыленный токопроводящий слой 5, который образует с об- кладками 1 и 2 основной и дополнительный переменные конденсаторы.

Проекция обкладки 1 на поверхность исследуемого элемента 4 перекрывает. линию. склейки и начало токонроводящего слоя 5. Площади проекции токопроводящего слоя 5 подвижной обкладки

3 на неподвижные обкладки 1 и 2 равны .между собой". . К обкладкам 1, 2 н 3 подсоединены проводники 6, 7 и 8. Поверх обкладок

823838

Формула изобретения

Составитель О. Мельников

Техред Ж. Кастелевич КорректорМ. Шарошн

Редактор Н. Кончицкая

Тираж 642 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 2082/53

Филиал ППП " Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

l и 2 установлена прижимаемая .к ним пластина 9 для достижения неизменно-. сти формы паза между обкладками.

Работа датчика происходит следующим образом..Переходной процесс вследствие внешнего воздействия, распространяясь, приводит в движение

Иинию склейки АВ вместе с проскальзывающим участком ВС и сечения обкладки 3 как в продольном, так и в поперечном направлении (вследствии существования коэффициента Пуассона).

Вследствие этого изменяются перекрываемая обкладкой 1 площадь токопроводящего слоя 5 и расстояние между подвижной 3 и неподвижной 1 и 2 обкладками.

Емкость основного конденсатора зависит как от расстояния между обкладками 1 и 3, так и от перекрываемой площади токопроводящего слоя 5, а емкость дополнительного конденса- 20 тора зависит только от расстояния между обкладками 2 и 3.

Путем вычитания из ноказаний основного конденсатора показаний дополнительного конденсатора устраняется влияние поперечных деформаций на точность измерения продольных деформаций.

Емкостной датчик для измерения деформаций по авторскому свидетельству 9 462064, о т л и ч а ю щ и й— с я тем, что, с целью повыаения точности измерения путем устранения влияния поперечных деформаций, он снабжен дополнительной неподвижной о6кладкой, изолированной от основной и размещенной в одной плоскости с основной так, .что площади проекции токопроводящего слоя подвижной обкладки на неподвижные равны между собой.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

Р 462064, кл. G 01 В 7/16, 1973 (прототип).