Оптический измеритель технологи-ческих величин

Оптический измеритель технологи-ческих величин

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОЛ ИСААКИЕ

ЙЗОБРЕТЕИЙЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕХИвСТВУ

Союз Советских

Социали.стимеских

Республик (и)823853 (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 050 779 (21) 2790168/25-18 (51)М. Кл. с присоединением заявки Йо

6 01 В 11/02

Государственный комитет

СССР ио делам изобретений и открытий (23) Приоритет (53) УДК 531. 715..27(088.8) Опубликовано 230481, Бюллетень Hо 15

Дата опубликования описания 230481

P2) Авторы изобретения

JI.З.Рыжиков и Д.Г.Письменный (71) Заявитель (54) ОПТИЧЕСКИЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ

ВЕЛИЧИН

Изобретение относится к контроль пуск наклонных относительно базы по<о-измерительной технике, - в частнос- верхностей детали. ти к измерениям технологических при- Цель изобретения — измерение вели« пусков твердых тел с помощью .оптичес- чины технологического припуска накких приборов. лонных относительно базы поверхносИзвестен оптический микрометр, ко- тей детали. торый может быть использован и для Поставленная цель достигается тем, измерения технологических величин, что измеритель снабжен двумя распо. содержащий объектив, окуляр, оптичес- ложенными между оборачивающим узлом кий элемент для смещения лучей, вы.— и объективом в каждой из оптических полнеиньтй в виде зеркала,ось поворота измерительных систем с возможностью . козероге составляет оетрий угол с нор- поворота относительно оси этой сисиалтью к его воэермиости (1). темы, шкалами.с делениями в виде

Чедйататбк данного уетрейства зак-.: параллельных штрихов по всей площади, лзачаетея в тем, что оно не обеспечи- (5 и установленной между оборачивающей веет кеие@редетвениые замвры техноло- еистемой и оптическими, измерительныгичееких припусков поверхностей, нак- ми системами составной призмой с леиекяьж к базс вой поверхности детали. внутренними полупрозрачными зеркаль-.

Наибелее близким к предлагаемому ными покрытиями. является оптический измеритель тех- 20 На фиг. 1 изображена оптическая нологических величин, содержащий пос- cxeMa измерителя технологических ве" ледовательно расположенные окуляр, личин; на фиг. 2 — шкалы с измеряеоборачивающую систему и две парал- мой деталью," на фиг. 3 — деталь с лельньте оптические измерительные сис- технологическими прицусками. темы, каждая из которых включает 25 Измеритель содержит (фиг. 1) пособорачиваюший узел, объектив и перис- ледовательно расположенные окуляр 1,» копический блок (2}. -оборачивающую систему 2, составную

Недостаток измерителя состоит в призму 3 с внутренними полупроэрачтом, что он не позволяет непосредст,ными зеркальными покрытиями, две венно измерить технологический при- 30 параллельные оптические измеритель823 853 ные системы, каждая иэ которых включает оборачивающий узел 4, шкалу 5 с делениями s виде параллельных.штрихов, объектив 6, перископический блок, служащий для излома оптической оси к состоящий иэ склеенной кубпризмы 7 и прямоугольной призмы 8.с крышей, защитное стекло 9, объектив 10, конденсор 11 и лампу. 12 подсветки.

Каждая, измерительная шкала 5 снабжена делениями (фиг; 2), выполненными в виде параллельных штрихов 13 по всей площади шкалы и совмещаемых с изображением детали 14, и выставленных на ней концевых мер 15 или шаблона, как показано на фиг. 2.

Деталь 14 (фиг. 3) имеет размер 15

A с горизонтальными составляющими технологических припусков д, и д, наклонных относительно базы поверхностей 16 и 17, расположенных соотвественно под углами (g и (p относи- Щ тельно базовой поверхности 18. Определяемыми наклонными технологическими припусками являются соответственно величины Х и Х, а размер эаготовки—

А„. 25

Оптический измеритель технологических величин работает следующим об- разом.

Числовой размер A детали по базовой поверхности 18 выражается равенством О

A - =A — (Д. + Д), где Aq — размер э аготовки, h и д — горизонтальные состав2 ляющие технологчческих припусков Х g и Х2 нак- 35 лонных относительно ба" эы поверхностей

В свою очередь

Х = Д, ° э1пф,, Х = Д д ° э1п(я р где (и д — углы наклона поверхностей 16 и 17 относительно базовой поверхности 18.

Для обработки детали в размер A необходимо определить Х < и Х . Для 45 этого на базовой поверхности измеряемой детали с помощью концевых мер 15 выставляется размер A. Затем каждый измерительный канал настраивается на соответствующую сторону 5() детали так, чтобы какой-либо из штрихов 13 проходил строго через точку 0 — пересечение в изображении поверхности, концевых мер 15

d базовой поверхноати 18, прк этом 55 штрихи l 3 поворотом измерительной шка-. лы устанавливаются параллельно наклонной относительно базы обрабатываемой поверхности детали. Количество штрихов, находящихся между штрихом, проходящим через точку 0, и штрихом, проходящим по наклонной относительно базы поверхности, составляет величину Х или Х .

Иэображение в измерителе переда-. ется по оптической схеме через защитное стекло 9, объектив 10, перископический блок, который обеспЕчивает регулирование расстояния между его элементами, объектив б, измерительную шкалу 5, с помощью которой проводятся измерения, оборачивающий узел 4 и объединяется с помощью сос" тавной призмы 3 в общую систему, со.держащую оборачивающую систему 2 и окуляр 1. Призма 3 обеспечивает расположение иэображения соответственно истинному расположению детали, что .: весьма важно при неравенстве наклонных технологических припусков Х и

Х2, Предлагаемое устройство обеспечивает высокопроизводительный и достаточно точный замер наклонного технологического припуска на обработку деталей типа трапеций и различного вида многоугольников.

Формула изобретения

Оптический измеритель технологических величин, содержащий последовательно расположенный окуляр, оборачивающую систему и две параллельные оптические измерительные системы, каждая из которых включает оборачивающий узел, объектив и перископический блок, отличающийся тем, что, с целью измерения величины технологического припуска наклонных относительно базы поверхностей детали, он снабжен двумя расположенными между оборачивающим узлом и объективом в каждой из оптических измерительных систем с возможностью поворота относительно оси системы, шкалами с делениями в виде параллельйых штрихов по всей площади, и установленной между оборачивающей системой и оптическими иэмерительными системами составной призмой с внутренними полупрозрачными зеркальными покрытиями.

Источники йнформации,. принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СС Р

9 407186р кл. G 01 8 11/02, 1972 °

2. Авторское свидетельство СССР по заявке 9 2627429/28, кл. G 01 В 11/16, 1978 (прототип).

823853

Составитель Л.Лобэова 1ехред A.Ñàâêà Корректор Г.Назарова редактор Н.Кончицкая

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Заказ 2083/54 Тираж 642 Лодписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5