Способ определения мест негабаритности туннельных обделок

Способ определения мест негабаритности туннельных обделок

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

№ 8258;)

Класс Щ 1

42с, 9а)

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Г. С. Каханов и В. П. Волков

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕСТ НЕГАБАРИТНОСТИ

ТОННЕЛЬНЫХ ОБДЕЛОК

Заявлено 4 марта 19-18 г. ва М 875581 в Комитет по изобретениям и открытиям при Со.".Ст Лиип)стров СССР

Предметом изоорстсиия является способ определения мест иегабаритности тоннельны.х обделок.

Способы определения мест нсгабаритности тоннелей при помои)и габаритных рам и профилографов уже IIailccTHû.

Так>ке известны оптические способы определения мест псгабаритногти тоннелей при помощи уставов iciiiioc в тоги!еле источника света, дающего на поверхности тоннеля светову!0 проекцию его сечения, i!of)МЗЛЬНОГО K ОСИ, КОТОРХ Ю II фОТОГj) 3 Q) I i f)X ЮТ ПРИ ПОМОИ!И IiIIIIOC be.; IO×FI)» Х камер, когда для выяснения деформаций тоннеля проектируют пленку экран, CFI36)I(eHFtbtII ceTKoll c из061)<1)ксн нем нОрмHльного г363pilT3.

Вел!!чина Hei aáapiiTFtocTH MoiiicT 6b!TI Оп))сдслсна t!o ze teH«FI At ceTки оез непосредственного измерения.

Предлагаемый способ) Относится и опти:секим способам опрсдел .ния мест негабаритности тон сльных обделок путеAt освещения обделки и проектирования изображения сс-icliпя тоннеля в плоскости, перпендикулярной его оси.

Согласно изобретению, с цел:io фиксирования мест нсгабарптности, изображение проектируют на фстоэлсмспт, перед которым уст",новлена диафрагма, а затем производят обмер негабаритных месг 06делки, причем при этом способе результаты определения м cT IIel36;Iритности можно получить немедленно.

На схематическо",1,!ef)Teжс изоб) )ажс113 схсAta возможного Осу!цсствления способа определения мест иегабаритиости то1п!Сльных обделок.

Устройство выполнено в виде перемещаю1цегося в тоннеле источника света 1, линзы 2, диафрагмы ), фотоэлемента 4 и экрана Б. ИсToiIHHI(свст3 1 cBFI33H c.,lliHaoil 2 ll alij)3!IOAI 5 IIPII помоп1и cTe()жпЯ, жестко скрепленного с псремеп асмой I!3 1331 ОНе НОВО )отно!! тслсжко i оптической системы.

Линза 2 предназначена для непрерывного отображения в требуемом масштабе светового контура тоннеля. Тонкая световc ïðoíèöaåПредмет iiBoбретения

Спосоо Опрсле,(спин )lсст f!Pl;!63pHT110cTH тоипсльпых 007елок и ">>ТЕ. >1 РС(ИСТРЯЦИИ ИЗО(, Р3ЖЕПИЯ СЕ ICIil!H TOHHPЛЯ В П, IOCKOCTH> ПЕРПЕПДИкулярной к его оси, посредством перемещаемой на вагоне-тележке оптической системы, от л и и а ю шийся тем, что, с целью фиксиров-(пиil мест негабарип .Ости, т«бражсиие проектируют на (GT03лемсит, перст которым уcT211GBлсиа диафраГ(3112, а:3атс. I производят Обмер псГ302ритных арест обдслки и!i,естп(!)!и способами, ), 1

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров f(Ñ- CÃ

Гр. 165

Поди. к псч. 1/ > 1-1000

Тираж 250. Цена 50 коп, Редактор Ю. Б. Городецк(!й

Ин(!)ОР. >!2(1иО!и!о-f!:!Дг>те:! ciillf! О Г, (с :1.

Объем 0,17 п. л. Заказ 3087.

Гор, Альт(.!рь> типографии .. ; 2;f,iH(шстерства к; льтуры Чувашской АССР.

1»! 2Я ДИ2фР2 Г>111 ) Вl>!! !ОЛ.IСПI(С OTBCi)CTliC)1 Б ВИ.I B HPOCKTH Gl G О IP Pò!! пия исследуемого тоннеля, иро(Г) екающим преломленные линзой 2 лучи тол. ко 1:ри прохо, I Bc .îвого контура,"1-Б через псгабарип!Ос се !еиис тс!!Псля. Фото-..л(Г)lcHT Выполнен В pff;io сслеио,010 эс!С)!с!Гг(1 4, который оосспе Гп!(ает проектирование изооражения сечения тоннеля B

ПЛОСI<0(Т!I, iiCРПСИДИКУ, IHРИОЙ K СГО ОСИ.

Пласт и(к 1 cP IBHGBG! 0 фотоз;!е ilcl!T3 4 с при(;)сплепиыми K H(. É этектропроводг(пка(>!и 6 IloMPLHGH3 в плос!<Ости ppBKGI изооражсиия а —,в крайних световых лучей, преломленных линзой 2.

Эта пластHíêà закрыта cG стороны câñòî13ых лучей тонкой светонепроницаемой д(!афра; )(оп . э . Б слу (ас воздейст гия иа сслсиовую

ПЛВСТИ!!КУ СВСТОВЫ(, Л) !Pi! ПРОИЗОЙ,)>ОТ ИЗ=>(ЕИЕИИЕ ТОКОПРОВОДИ IOCTII СС и В1<лlо-!РННР (чеРсB 5IocTIIl< Уитстofi3) иГна 73 Остановки, Это I Io)KGT Оыть тольKG пР!1 О; P3 rKcf! i!! f псГ202Р(1 п(ОГО мс т3 то!1H(льн0Й 067E7Kf1, т;lк К;!К c13cTGBGff KG!!TA p HL70ôop (lpoB31(HG )f ОбдслКН ВССГД2 6)>дет GT3B7cH GT cc .Icf(ОВОЙ 11 13сТННКН Дна фр;(гмоЙ >, г

3Kp3H 0 Вводитс1! В плоскOcTi> пластинки селси01>ОГО (i)GTÎ=)ëc .. Hта 4 путекl !Зрс\1с!И(ОГО с. .Ip!Hp!(ия сс, (ля ((смс!B!c!!(!ОГО (11!!к(чi,)О! 3èè:!

CBBTOBGI О конту!)а Bi)PKTHOPO >IPCT3 06 (P.1KH. ПОС7е зтого производят обмер негабаритных мест Облслк! 1!звсстнь(ми способами.