Способ определения параметровдефектов

Способ определения параметровдефектов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

() 828028

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Оввз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 03.05.79 (21) 2765022/18-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 07.05.81. Бюллетень № 17 (45) Дата опубликования описания 07.05.81 (51) М. Кл

G 01N 21/01

Гесударствеииык комитет

СССР пе делам изобретеиий и открытий (53) УДК 620.179.14 (088.8) -" - -"« ®и Ч

А. И. Потапов, В. М. Гржехник-жуковский, Г. Л. Баранов, В. А. Беляев, А. Ю. Смирнов и Р. А. Волков " )". :

Ленинградский ордена Октябрьской Революции и ордена - .:: - "-,,;:. м I

Трудового Красного Знамени технологический институт им. Ленсовета

- Д (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДЕФЕКТОВ

2 а = К

1/ и» вЂ” 3!п2!

И21

Изобретение относится к физическим методам контроля качества материалов и может быть использовано для определения глубины залегания дефектов проникающими в материал излучениями, например электромагнитными.

Известен способ определения параметров дефектов, заключающийся в том, что контролируемый объект сканируют проникающим излучением с изменяющейся по задан- 10 ной функции частотой и по значению последней при «пороговом отклике» на дефект в объекте судят о размерах этого дефекта (1).

Однако достоверность контроля этим спо- 15 собом недостаточная, так как «пороговый отклик» близок к уровню шумов в преобразователе проникающего излучения в электрический сигнал.

Наиболее близким к изобретению по тех- 20 нической сущности является способ определения параметров дефектов, заключающийся в том, что контролируемый объект облучают равномерным потоком электромагнитного излучения, принимают отраженное от 25 объекта излучение, преобразовывают его электронно-оптическим преобразователем в электрические сигналы и по значению последних судят о результатах контроля (2).

Однако производительность контроля из- 30 вестным способом недостаточная, так как для определения глубины залегания дефекта необходимо облучать объект по различным направлениям, чтобы получить дополнительную информацию о координатах дефекта.

Целью изобретения является повышение производительности определения глубины залегания дефекта в объектах прямоугольного сечения.

Эта цель достигается тем, что формируют изображение дефекта и его тени на мишени передающей телевизионной трубки, выделяют передние фронты видеосигналов от дефекта и его тени, фиксируют временной интервал между этими фронтами, а глубину d залегания дефекта определяют по формуле где т — временной интервал;

i — угол падения излучения;

n» — относительный показатель пре. ломления;

А — нормирующий множитель.

На чертеже представлено устройство, с помощью которого реализуется описанный способ.

828028

21

d=P

Пя!

25 где преУстройство содержит оптический квантовый генератор 1 (ОКГ), пластину Х/4 2, коллиматор 3, диафрагму 4, микрообъектив 5, в поле излучения которого расположен контролируемый материал 6, микрообъектив 7, диафрагму 8, окуляр 9, передающую телевизионную трубку 10, отклоняющую систему 11, генератор 12 развертки и блок 13 обработки видеосигналов.

Работает устройство следующим образом.

Облученный ОКГ 1 дефект 14 создает тень 15 на нижней поверхности контролируемого материала 6, изображения дефекта и его тени фоксируются (формируются) 15 на мишени передающей телевизионной трубки 10. Появившиеся в процессе развертки указанных изображений видеосигналы направляются в блок 13 их обработки, где фиксируется временной интервал меж- 20 ду фронтами этих сигналов, и определяют глубину d залегания дефекта по формуле где т — временной интервал; — угол падения излучения;

nq> — относительный показатель преломления; 30

k — нормирующий множитель.

При этом следует угол i падения излучения выбирать таким, чтобы на мишени передающей трубки 10 между изображениями дефекта 14 и его тени 15 был опреде- 35 ленный интервал, обеспечивающий такой временной интервал между фронтами видеоимпульсов, который может быть зафиксирован в блоке 13 с необходимой для практики точностью. 40

Формула изобретения

Способ определения параметров дефектов, заключающийся в том, что контролируемый объект облучают равномерным потоком электромагнитного излучения, принимают отраженное от объекта излучение, преобразовывают его электронно-оптическим преобразователем в электрические сигналы и по значению последних судят о результатах контроля, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности определения глубины залегания дефекта в объектах прямоугольного сечения, формируют изображение дефекта и его тени на мишени передающей телевизионной трубки, выделяют передние фронты видеосигналов от дефекта и его тени, фиксируют временной интервал между этими фронтами, а глубину d залегания дефекта определяют по формуле т — временной интервал;

i — угол падения излучения;

nq — относительный показатель ломления;

k — нормирующий множитель.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР № 400843, кл. G 01N 29/04, 1972.

2. Авторское свидетельство СССР № 243234, кл. G 01N 21/32, 1967 (прототип) .