Способ подготовки образца для иссле-дования

Способ подготовки образца для иссле-дования

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБP Ет EНИИ ""832399

К АВТОРСКОИУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союэ Совегскик

Социаписгичесиик

Республик

- (61) Дополнительиое к авт. саид-ву (22) Заявлено 0904.79 (2t) 2751788/23-26 ()®. > с присоединением заявки йо

6 01 и 1/28

Государствеииый комитет

СССР по делам изобретеиий и открытий (23) Приоритет—

Опубликовано 230581, Ьюллетеиь No 19

Дата опубликования описания 2 30581 (53) УДК 543.053 (088.8) 4

П.Е.Комиссаров, В.Т.Дубинчук, В.С.Гайдуко а, А.И.Федотов и И A.Èâàíoâ 1! Всесоюзный научно-исследовательский инст тут минерального сырья

° Р

Б .. 5 „ . -Q > Ц. LA (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ОБРАЗЦА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ

Изобретение относится к исследованиям химических и физических свойств веществ, в частности к способам приготовления образцов для электронно-микроскопических исследований.

Известен способ подготовки образца для исследования, который заклю-. чается в травлении (вскрытии) полированных поверхностей разными травителями с последующим получением угольной реплики (1).

Недостатком этого способа является то, что при каждом травлении возникает необходимость в подборе соответствующего травителя для данного объекта. При взаимодействии травителя с исследуемым веществом происходит реакция с образованием новых минеральных фаз, которые невозможно 20 удалить с поверхности исследуемого объекта. Размер исследуемого участка должен быть не менее 1 мм.

Известен также способ подготовки образца для исследования, включающий скол исследуемых частиц с полированной поверхности твердого тела и сбор этих частиц (2).

Недостатком известного способа является малая эффективность и точ- 30 ность анализа, так как в процессе выкалывания частичен для препарирования нарушается целостность образца, которая очень важна при изучении геологических, минералогических и других объектов.

Цель изобретения — повышение эффективности и точности анализа за счет использования локального участка поверхности.

Указанная цель достигается тем, что перед сколом локальный участок поверхности обрабатывают эмульсией„ а скол проводят ультразвуком под углом 43-45

Способ осуществляется следующим образом.

Выбранный локальный участок поверхности твердого тела обрабатывают эмульсией, например этиловым спиртом, затем проводят скол исследуемых частиц ультразвуком под углом 43-45

Частицы собирают на стеклянный экран и исследуют.

Пример. Исследуемый образец горной породы — пирит с золотом— размером 3 " 3 см, отполированный с одной стороны помещают-на столик светового микроскопа МИН-9 и при увеличении в 150 раз выбирают исследуе832399

Формула изобретения

Составитель С.Фатеева

Техред М.Коштура Корректор Н.Стец

Редактор О.Черниченко

Заказ 3162/31 Тираж 907 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 мый участок. Устанавливают стеклянный экран размером 3 3 см, перпендикулярно оптической оси светового микроскопа МИН-9, на расстоянии 1,5 см от выбранного участка. Для скалывания используют ультразвуковой диспергатор УЗДН-1 и универсальный излучатель на 22 кгГц, мощность которого 20 Вт.

На рабочую часть излучателя, перПендикулярно его оси, напаивают твердосплавный стержень из победита длиной 30 мм и диаметром 2 мм со скалывакщей кромкой в 10-15 мкм. На выбранный участок наносят каплю этилового спирта и подводят к нему твердосплавный стержень под углом

45, выбор которого обусловлен тем, о что при этом угле происходит наибольший выход сколотых частиц и их оседание на стеклянном экране.

Производят скалывание в течение

2 с. Сколотые частички толщиной 1001000 Х при помощи аэрозоля собираются на,стеклянный экран. Затем снимают стеклянный экран и напыляют его в вакуумной камере углем.

Отделяют частицы от стеклянного экрана с помощью желатина, отмывают их в теплой воде, вылавливают на поддерживающую сеточку и просматривают в электронном микроскопе.

Таким образом, предлагаемый спо-! соб позволяет производить прямое исследование фазового состава твердых полированных объектов, не нарушая их целостности, с высокой точностью за счет использования локальных участков объектов.

Способ подготовки образца для исследования, включакщий скоЛ исследуемых частиц с полированной поверхности твердого тела и сбор этих частиц, отличающийся тем, что, с целью повышения эффективности и точности анализа за счет использования локального участка поверхности, перед сколом локальный участок поверхности обрабатывают эмульсией, 20 а скол проводят ультразвуком под углом 4.3-45

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

25 1. Грицаенко Г.С. и др. Методы электронной микроскопии минералов.

М., 1969, с. 97.

2. Грицаенко Г.С. и др. Методы электронной микроскопии минералов.

М., 1969, с. 125-127.