Способ измерения толщины слоякратного ослабления рентгеновскогоизлучения

Способ измерения толщины слоякратного ослабления рентгеновскогоизлучения

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИ ИТВЛЬСТВУ

< 1834472 (61) Дополнительное к авт. сеид-ву(22) Заявлено 070979 (21) 2819571/18-25 с присоединением заявки М (23) Приоритет (51}М. КлЗ

G 01 и 23/02

Государствеииый комитет

СССР ио делам изобретений и открытий

Опубликовано 300581,Бюллетень 89 20

Дата опубликования описания 30/581 (53) УДК 621. 386 (088.8) (72) Автор: изобретения

Н.Г.Мишкинис! !

Центральный научно-исследовательский ин титут травматологии.и ортопедии им. Н. Н. Приорова-"---:. — ... (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЯ КРАТНОГО

ОСЛАБЛЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Изобретение относится к рентгено технике и может прнменяться,при наладке рентгеноднагностическйх аппа ратов, а также для исследования поглощающих свойств различных материалов по отношению к рентгеновскому излученкю. . Известно, что поглощающие свойства материалов характеризуют величиной слоя половинного поглощения, т.е. той толщиной материала, при которой интенсивность падающего на материал пучка ослабляется за фильтром, в два раза при заданной длине волны рентгеновского излучения (1) .

Наиболее близким техническим решением является способ измерения тол» шины слоя кратного ослабления рентгеновского излучения, заключанхцийся в том, что производят экспонирование рентгеновской пленки, частично накрытой измерительным клином нз исследуемого материала, и по почернению пленки на различных участках опредеЛяют слой кратного ослабления (.2Д.

Измерение слоя половинного ослабления производят путем фотометрировання участков под -измерительным клином и сравнении полученных ре2 эультатов с результатом фотометрирования открытого участка пленки.

Однако точность измерения невысока иэ-за двойной ошибки фотометрнрования, фигурирующей при данном спосо-. бе измерений (фактически производятся-независимые измерения и половинное значение измерения на открытом участке пленки сопоставляется со шкалой

10 фотометрирования под клином). Кроме того, этот способ требует наличия специального оборудования (фотометра) которое имеется далеко не всегда.

Цель изобретения - упрбщение сред15 ств реализации способа.

Поставленная цель достигается тем, что в способе измерения толщины слоя кратного ослабления, заключающемся в том, что производят экспонирование

20 рентгеновской пленки, частично накрытой измерительным клином, и по почер- нению пленки на различных участках определяют слой кратного ослабления, производят дополнительное экспониро2- ванне рентгеновской пленки, частично накрытой измерительным клином, остальная часть которой экранирована от излучения, например, с помощью свинцовой пластинки, причем отношение

30 времен первой, и дополнительной экспо834472

Составитель К. Кононов

Техред Н. Келушак Корректор.О. Билак

Редактор Е. Кинив

Тираж 907

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, РаушсКая наб., д. 4/5

Заказ 4056/64

Подписное филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 4 зиции выбирают равным 1 (n-1), где

- n — требуемая кратность ослабления, а толщину слоя кратного ослабления определяют по одинаковой плотности почернения участков пленки под клином и открыто экспонированного в течение одной из экспозиций участка

5 пленки.

Способ реализуется следующим образом.

На рентгеновскую фотопленку накла- дывают измерительный клин. Оставшуюся часть пленки закрывают свинцовой пластиной. Производят. экспонирование пленки в течение определенного периода времени. Затем свинцовую пластину убирают и производят повторное экспо- 15 нирование той же пленки в течение другого заданного периода времени.

Затем пленку проявляют и получают на ней неравномерно засвеченный участок под клииом и равномерно зас- 2О веченный участок под свинцовой пластиной (если рассматривать съемку при первой экспозиции), который во время второй экспозиции был открыт. При работе в области прЬпорци": ональности почернения и при постоянной интенсивности первичного пучка почернение под каким-либо выбранным участком клина будет равно .0; k 3с(t + «), 30 где 3; — интенсивность прошедшего через данный участок клина пучка„ и в †.времена первой и второй

v экспозиции, а почернение другого участка будет равно

9© k 3 2, где За — интенсивность первичного рентгеновского пучка.

При этом иа пленке .будут участки с равным почернением, в результате чего 3; /g< t< („+ g ) для ука- . занных участков, и, зная времена экспозиций и толщину клина на участке с равными почернениями, можно сразу определить кратность ослабления и толщину соответствующего слоя.

В частном случае, при равенотве первой и второй экспозиции, таким 5О образом получают слой половинного поглощения. Для получения толщины слоя заданной кратности ослабления

t, /t выбирают равным 1 (n-1), где

n †заданная кратность ослабления.

Преимущество такого метода заключается в том, что можно произвести непосредственное визуальное сравнение двух соседних участков почернения на одной пленке, не используя фотометрического оборудования.

Предлагаемый способ может. использоваться при регулировании напряжения рентгеновского излучателя по величине слоя половинного поглощения, быстро и просто определять параметры фильтров для получения требуемого ослабления излучения, исследовать защитные свойства материалов от проникающего излучения.

Формула изобретения .I

Способ измерения толщины слоя кратного ослабления рентгеновского излучения, заключающийся в том, что производят экспонирование рентгеновской пленки, частично накрытой измерительным клином, и по почернению пленки на различных участках определяют толщину слоя кратного ослабления, о т л и ч а.ю шийся тем, что, с целью упрощения средств реализации производят дополнительное экспониро- вание рентгеновской пленки, частично накрытой измерительным клийом, остальная часть которой экранирована от излучения, например, с помощью свинцовой пластины, причем отношение времен первой и дополнительной экспозиции выбирают равным 1 (п-1), где и требуемая кратность ослабления, а толщину слоя кратного ослабления определяют по одинаковой плотности почернения участков пленки под клином и открыто экспонированного в течение одной из экспозиций участка пленки.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Шмелев В.К. Рентгеновские аппараты. И., "Энергия", 1973, с. 27.2. Дмоховский В.В. Основы рентгенотехники. И., Медгиз, 1960, с. 251252 (прототип).