Способ электромагнитной дефектоскопии

Способ электромагнитной дефектоскопии

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик (uj8344 S5

J 1

К АВТОРСКОМУ СВИ ВТИЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (51) М. Кл. (22) Заявлено 160579 (21) 276 7390/25-28 с присоединением заявки ¹

G 01 N 27/90

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 300581,Бюллетень Й9 20 (53) УДК 620.179. .14(088.8) Дата опубликования описания 300581 (72) Авторы изобретения ь

В.Н.Учанин и A.ß.Tåòåðêî

Т

1с;

\ ;и iiа . й:" 4

Физико-механический институт АН Украинской, ССР...,,-„„ (71) Заявитель (54) СПОСОБ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ДЕФЕХТОСКОПИИ

Изобретение относится нераэрушающему контролю и может быть использовано для оценки параметров дефектов типа трещин.

Известен способ электромагнитной дефектоскопии, заключающийся в том, что в контролируемом изделии возбуждают вихревые токи, определяют положение максимумов нормальной и танген- 1О циальной составляющих поля. дефекта и по расстоянию между максимумами судят о наличии дефекта и глубине ,его залегания (1).

Наиболее близким к предлагаемому по технической .сущности является способ электромагнитной дефектоскопии, заключающийся в том, что в контролируемом изделии возбуждают вихревые токи, выделяют из результирующего 2О электромагнитного поля составляющие поля дефекта и по ним судят о наличии дефекта, его протяженности и глубине (2) .

Однако известные способы не обес-, печивают измерения угла наклона трещины к поверхности контролируемого иэделия.

Цель изобретения — обеспечение и ,измерение угла наклона плоскости тре- ЗО щины к поверхности контролируемого изделия.

Поставленная цель достигается тем, что измеряют амплитуду составляющей поля дефекта или ее градиент в направлении, перпендикулярном направлению трещины, определяют отношение минимального значения амплитуды к максимальному ее значению и по полученному отношению определяют угол нак-. лона плоскости трещины.к поверхности ,контролируемого иэделия.

Способ осуществляется следующим образом.

В контролируемом иэделии возбуждают вихревые токи и., сканируя поверхность иэделия, выделяют из результирующего электромагнитного поля ортогональные составляющие поля цефекта или его градиент, но которым судят о наличии трещины; ее. протяженности и глубине.

Определив протяженность трещины, скаййруют контролируемую поверхйость в .окрестности дефекта в направлении, перпендикулярном направлению трещины.

В процессе сканирования измеряют максимальное и минимальное значения амплитуды ортогональной составляющей или градиента неортогональной состав834495

Формула изобретения

Составитель В. Рыкова

Редактор A.Ëåçíèíà Техред И. Голинка Корректор,М.Демчик

Заказ 4058/65 Тираж 907 .: Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 ляющей электромагнитного поля, обусловленного трещиной. Определяют отношение минимального значения амплитуды к максимальному ее значению и по полученному отношению с помощью экспериментальных диаграмм определя ют угол между плоскостью трещины и контролируемой поверхностью.

Задача определения угла наклона, . в частности поверхностной трещины, .имеет важное техническое значение, так как позволяет дать более объективную оценку дефекта с позиций механики разрушения, а также. решить вопрос о целесообразности устранения трещины в оболочках путем сошпифовки слоя металла определенной толщины.

Способ электромагнитной дефектоскопии, заключающийся в том, что в контролируемом изделии возбуждают

4 вихревые токи, выделяют иэ результирующего электромагнитного поля составляющие поля дефекта и по ним судят о наличии дефекта, его протяженности и глубине, отличающийся тем, что, с целью обеспечения и измерения угла наклона плоскости трещины к поверхности контролируемого изделия, измеряют амплитуду составляющей поля дефекта или ее градиент в направлении, перпендикулярном направлению трещины, определяют отношение минимального значения амплитуды к максимальному ее значению и .по полученному отношению определяют угол наклона плоскости трещины к поверхности контролируемого

15 изделия.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

Р 599201, кл. G 01 N 27/86, 1976.

20 2. Авторское свидетельство СССР

9 632946, кл. G 01 N 27/86, 1977. (протоиаа4