Способ измерения малых перемещенийоб'екта и устройство для его осуществ-ления

Способ измерения малых перемещенийоб'екта и устройство для его осуществ-ления

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

«»847017

Союз Советсник, Социалистических

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт, сеид-ву (22) Заявлено 02,10.79 (21) 2822815/25-28 с присоединением заявки Йо (23) Приоритет (53)М К, 3

01 В 11/00

ГосударственныЯ комнтет

СССР но делам нзобретеннЯ н открытн A

Опубликовано 150781, Бюллетень 1 18 26 (53) УДК 531. 715..27(088.8) Датаопубликованияописания . 1 0781 (72) Авторы изобретения

С.Ю.Геревицкас, К.М.Рагульскис, Л.-A.Ë.Øòàöàñ и К.И.Чичинскас

Каунасский политехнический институт им. Антанаса Снечкуса (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАЛЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ ОБЪЕКТА

И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ

Изобретение относится к контроль- но-измерительной технике и может быть использовано, в частности,.для измерения малых перемещений объекта.

Известен способ измерений малых перемещений объекта путем определения положения отверстия в тонкой непрозрачной пленке с помощью отраженного лазерного импульса (1) .

Однако этот способ не позволяет измерять перемещение исследуемого объекта, перемещающегося со сложной траекторией.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является способ измерения малых перемещений объекта, заключающийся в том, что с объектом связывают отражатель, направляют на него пучок когерентного свефа, регистрируют положение отраженного от отражателя светового пуч-. ка, по которому и судят о величине перемещения объекта p2) .

Недостаток данного способа заключается в том, что он не позволяет определить сложную траекторию перемещения каждой отдельной точки исследуемого объекта. Поэтому нет воэмож» .ности исследовать сдвиговые деформации, например, пьезокерамических преобразователей, каждая отдельная точка которых перемещается с разной траекторией,.причем величина этих сдвиговых деформаций, в зависимости от конструктивных параметров преобразователей и питающего напряжения, колеблется от 1 до 100 кГц. . Наиболее близким устройством .по технической сущности для осуществления способа является устройство для измерейия малых перемещений объекта, содержащее отражатель, связываемый с объектом, истоЧник когерентного света, расположенный под углом к отражателю, и регистрирующий блок, на который падает отраженный от отражателя световой луч (2).

Недостатком этого устройства является невозможность сложной траектории перемещения каждой отдельной точки исследуемого объекта.

Цель изобретения — измерение сложной траектории перемещений каждой отдельной точки объекта.

Поставленная цель достигается тем, что в способе используют не менее двух отражателей, расщепляют нми пучок когерентного света на число взаимно перпендикулярных световых лучей, соответствующее числу отражателей, 847017 и по суммарной траектории перемещения определяют траекторию и величину перемещения исследуемой точки объекта.

Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для осуществления предлагаемого способа установлено не менее двух отражателей, каждый из которых выполнен в виде микроскопических кристаллов минерала, напыленных на тонкий слой клея, наносимого на исследуемую точку объекта.

На чертеже изображена принципиальная схема устройства для измерения малых перемещений объекта.

Устройство содержит отражатели

1 и 2 (не менее двух), источник 3 когерентного света и регистрирующий блок, на который падает отраженный от отражателя световой луч. Регистрирующий блок выполнен в виде экранов 4-6 и узлов обработки (на чертеже не показаны). Каждый отражатель выполнен в виде микроскопических кристаллов минерала, например корунда, напыленных на тонкий слой клея, наносимого на исследуемую Точку. объекта 7. Источник 3 когерентного света подвижно установлен на стойке

8. Как известно, кристаллы минералов имеют зеркальные плоскости, величина которых еще меньше самого кристалла, поэтому сечение отраженного от такой плоскости луча имеет еще меньшую, чем микроскопический кристалл, величину. Это позволяет получить на экранах 4-6 четкие траектории перемещений, величина которых несколько больше сечений лучей.

Устройство работает следующим образом.

При включении источника 3 когерентного света пучок этого света направляют на кристаллы минерала и перемещают источник 3 когерентного .света по направляющей стойке 8, ! до тех пор, пока узлы обработки регистрирующего блока не сигнализируют о появлении расщепленных лучей света на всех экранах 4-6. Тогда включается устройство, приводящее исследуемый объект в движение (На Чертеже не показано), и регистрируются траектории 9-11 перемещения исследуемой точки на экранах, по которым судят о траектории перемещения этой точки

Формула изобретения

1. Способ измерения малых перемещений объекта, заключающийся в том, что с объектом связывают отражатель, направляют на него пучок когерентного света, регистрируют положение отраженного от отражателя

15 светового пучка, по которому и судят о величине перемещения объекта, отличающийся тем, что, с целью измерения сложной траектории перемещений каждой отдельной

2О точки объекта, используют не менее двух отражателей, расщепляют ими пу" чок когерентного света на число взаимно перпендикулярных световых лучей, соответствующее числу отражателей, и по суммарной траектории перемещения определяют траекторию и величину перемещения исследуемой точки объекта..

2. Устройство для измерения малых

30 перемещений объекта содержащее от1 ражатель, связываемый с объектом, источник когерентного света, расположенный под углом к отражателю, и ре-. гистрирующий блок, на который падает

35 отраженный от отражателя световой луч, р т л и ч а ю щ е е с я тем, что в нем установлено не менее двух отражателей, каждый из которых выполнен в виде микроскопических кристаллов минерала, напыленных на тонкий

4Р слой клея, наносимого на исследуемую точку объекта.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

45 1. Патент США Р 3810699 кл. С 01 В 11/26, 1974.

2. Патент Японии М 51-17062, кл. С 01 В 11/02, 1976 (прототип).

847017

Составитель Л. Лобзова

Редактор Н. Ромжа Техред Ж. Кастелевич Корректор М. Шароши

Заказ 5462/61 Тираж 642 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4