Способ определения деформаций наповерхности изделия

Способ определения деформаций наповерхности изделия

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

() 847023

Союз Советских

Социалистических

Реслублнк

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСКОМУ СВ ИТВЛЬСТВУ (6! ) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 23Д0 79 (21) 2835133/25 -28 с присоединением заявки Й© (23) Приоритет

Опубликовано 150 81. Бюллетень Йй 26

Дате опубликования описания 150 781 З )М. Кл.

G 01 В 11/16

Гвсударстаеииый каммтет СССР ив делам изобретения н открытий (5З) НЖ 531.781.2 (088.8) (72) Авторы изобретения

В.П. Авдеев, И.С.Майоров и Н.И. Киселев (7! ) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ

НА ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЯ

Изобретение относится к определениям деформаций твердых тел.

Известен способ определения деформаций на поверхности изделия,эаключакхцийся в том, что на поверхность иэделия наносят эталонную светоконтрастную сетку, нагружают изделие, деформированную сетку фотографируют через эталонную сетку и по муаровой картине полос определяют деформации (1) .

Недостатком известного способа является ни э кая точность определения деформаций, вызванная низкой разрешающей способностью фоточувствительного материала.

Наиболее близким к изобретению является способ определения деформаций на поверхности изделия, заключающийся в том, что на поверхность иэделия наносят светоконтрастную сетку, нагружают изделие, деформированную сетку анализируют путем многострочного сканирования, полученный сигнал вместе с параметрами сканирования вводят в ЭВМ и определяют деформации на поверхности изделия f2) .

Недостатком этого способа является низкая точность определения деформаций, вызванная низкой разрешающей способностью светоприемника, по которому производится многострочное сканирование.

Цель изобретения — .повышение точности определения деформаций на поверхности изделия.

Для этого по поверхности деформированной сетки сканируют сфокусиро1О ванным лучом света, а отраженный от поверхности сетки луч регистрируют с помощью сосредоточенного светоприемника.

На чертеже показана блок-схема устройства для реализации способа.

Устройство содержит осветитель 1, фокусирующий объектив 2, блок 3 сканирования, иэделие 4, светоконтрастную .сетку 5, приемный объектив 6, сосредоточенный светоприемник 7, и ЭВМ

29 8, первый вход которой соединен с выходом блока сканирования 3, а второй вход - с выходом светоприемника 7.

Способ осуществляется следующим образом.

Луч осветителя 1 фокусируется объективом 2 и отклоняется в двух взаимно перпендикулярных направлениях блоком 3 сканирования по деформиЗО рованной сетке 5 на поверхности из847023

Формула изобретения

Составитель Б.Евстратов

Редактор Т.Парфенова Техред Ж. Кастелеви . Ко бректор М лароши

Заказ 5462/61 Тираж 642 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филкал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 делия 4. Отражаясь от поверхности изделия 4, луч через объектив 6 попадает на сосредоточенный светоприемник 7. Затем сигнал со светоприемника 7 поступает на вход ЭВМ 8. В

ЭВМ 8 сигнал обрабатывается по заданной программе с учетом параметров сканирования и определяется деформация.

Таким образом, применение многострочного сканирования светоприемника позволяет значительно повысить точность измерения деформаций, так как устранены погрешности, вызванные величиной измеряемой деформации и размером контролируемой поверхности изделия.

Способ определения деформаций на поверхности изделия, заключающийся в том, что на поверхность изделия наносят светоконтрастную сетку, нагружают изделие, деформированную сетку ,анализируют путем многострочного сканирования, полученный сигнал вместе с параметрами сканирования вводят в

ЭВМ, и определяют деформации на поверхности иэделия, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повышения точности определения, по поверхности деформированной .сетки сканируют сфокусированным лучом света, а отраженный от поверхности сетки луч регистрируют с помощью сосредоточенного,светоприемника.

15 Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

В 439695, кл. G 01 В 11/16, 1977.

2. Авторское свидетельство СССР щ Р 518620, кл. G 01 В 11/16, 1978 (прототип) .