Способ определения диэлектрическихсвойств материала

Способ определения диэлектрическихсвойств материала

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советскин

Социалистическик

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (1853513

4i

, / = -. г г

l (6I ) Дополнительное к авт. свил-ву (22)Заявлено 17.08.79 (2! ) 2811453/18-25 с присоединением заявки,% (23) Приоритет

Опубликовано 07.08. 8! . Бюллетень 1тЪ 29

Дата опубликования описания 07. 08. Sl (51)М. Кл.

G 01 М 27/60

Гасударственный комитет по делам изобретений и открытий (53) УДК621. 317. . 32 I (088. 8) M И. Гроссман, --Н.И. Васильченко, В. Г. Наливаев, В.Н,Николаенко и В.Г.Панов

t (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ

СВОЙСТВ МАТЕРИАЛА

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при разработке устройств для бесконтактного измерения, в частности для измерения диэлектрической пронииаемости.

Известен спосот. измерения диэлектрических параметров веществ, при реализации которого в межзлектродное

tO пространство конденсатора помещают вещество и измеряют емкость этого конденсатора (1).

Недостатком этого способа является невысокая точность измерения.

Наиболее близким к изобретению является способ определения диэлект. рических свойств материала путем помещения над его поверхностью двух электродов, по крайней мере на один эз из которых подаез."я потенциал, и измерения электрических параметров в цепи, подключенной ко второму электроду 12).

Недостаточная точность измерения обусловлена тем, что при реализации способа необходимо производить измерения в двух положениях, т.е. результирующая погрешность, по крайней мере, вдвое больше, чем при одном HsMepeнии. Кроме того, результат измерения усредняется по площади пластин конденсатора.

Целью изобретения является повьштение точности измерений, Эта цель достигается тем, что по способу определения диэлектрических свойств материала путем помещения над его поверхностью двух электродов, по крайней мере на один из которых подается потенциал, и измерения электрических параметров в цепи, подключенной к второму электроду, поддерживают уровень потенциала на одном из электродов постоянным, измеряют потенциал второго электрода в изолированном состоянии, перемещая электроды по

8535,! 3 4 деляет более высокую эффективность способа. нормали к поверхности, определяют минимальное значение потенциала на втором электроде и по соотношению этого потенциала и потенциала на первом электроде судят о диэлектри5 ческих свойствах материала. Кроме того, с целью выявления локальных неоднородностей диэлектрических свойств после получения минимального значения потенциала второго электрода перемещают электроды параллельно поверхности, определяют изменение потенциала указанного электрода в

:процессе перемещения и по этому изменению судят о неоднородности свойств вдоль поверхности материала.

На чертеже представлена схема устройства для реализации способа.

Оно состоит из влияющего электрода 1, измерительного электрода 2 2Р источника 3 для задания потенциала на влияющем электроде, усилителя 4 и измерительного прибора 5.

Способ реализуется следующим образом. 25

Датчик с охладителями подводится к поверхности исследуемого материала

6 таким образом, чтобы электроды находились на одинаковом расстоянии от поверхности. На электроде .1 задается зр и поддерживается постоянный потенциал. В процессе перемещения электродов к поверхности определяется минимальное значение потенциала.

Проведенные расчеты и эксперименты З5 свидетельствуют о том, что минимальное значение зависит от диэлектрической проницаемости материала и, зная это минимальное значение для материалов с известными свойствами 4р и для исследуемого материала, можно однозначно определить, в частности,,диэлектрическую проницаемость. При этом погрешность измерений может быть снижена по сравнению с прототи- 45 пом в несколько раз, Это в совокупности с возможностью оценки неоднородности свойств материала опреФормула изобретения

1. Способ определения диэлектрических свойств материала путем помещения над его поверхностью двух электродов, по крайней мере на один из которых подается потенциал, и измерения электрических параметров в цепи, подключенной к второму электроду, отличающийся тем, что, с целью повышения точности,поддерживают уровень потенциала на одном из электродов постоянным,измеряют потенциал второго электрода в изолированном состоянии, перемещая электроды по нормали к поверхности, определяют минимальное значение потенциала на втором электроде и по соотношению этого потенциала и потенциала на первом электроде судят о диэлектрических свойствах материала.

Способ по п.1, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью выявлещ я локальных неоднородностей диэлектрических свойств, после получения минимального значения потенциала второго электрода перемещают электроды параллельно поверхности, определяют изменение потенциала указанного электрода в процессе перемещения и по этому измененйю судят о неоднородности свойств вдоль поверхности материала.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Матисс И.Т. Электроемкостные преобразователи для неразрушающего контроля. Рига, "Зинагне", 197 7. !

2. Авторское свидетельство СССР

Ô 216807, кл. 21а4, 71, 1966 (прототип).

8535 I 3

Составитель В. Еим

Ре акто Л. Утехина Техред Т.Иаточка Корректор Н. Швыдкая

Заказ 5642/19 .Тираа 997 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета ССЦР по делам изобретений и открытий

1l3035, Москва, Ж-35, Раущская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Уигород, ул. Проектная, 4