Емкостной датчик для измерения прогиба

Емкостной датчик для измерения прогиба

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

(ii)861929. Союз Советских

Социалистических

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

* с»

« « (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22)Заявлено 14.08. 78 (21} 2á57593!25-28 (51)М. Кл. с присоеаинением заявки М

Ркударстеениый кемктет

СССР ее делам кафбретекий и еткрытвй

G 01 В 7/22 (23 } Приоритет

Опубликовано 07.09.81. Бюллетень М 33 (53) УД К 531 ..781.. 2 (088. 8) Дата опубликования описаиия07.09.81 (72) Авторы изобретения

И. Н.Овчинников и В. В.Николае (71) Заявитель

Московское ордена Ленина и орд

Знамени высшее техническое учили о (54) ЕМКОСТНОИ ДАТЧИК ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПРОГИБА

Изобретение относится к йзмери тельной технике.

Известен емкостной дачтик, содержащий две обкладки с цилиндрическими поверхностями установленные с возФ э можностью взаимного относительного смещения при сохранении расстояния между ними (1 ).

Недостатками датчика являются низкая чувствительность, связанная с тем, что смещение регистрируется пО площади перекрытия обкладок, которая прямо пропорциональна смещению, и невозможность регистрации больших прогибов, связанная с тем,что регист", рируется на поступательное, а вращательное движение исследуемого объекта.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является емкостный датчик для измерения прогиба содержащий две обкладки, одной из которых является исследуемый объект, и диэлектрическую прокладку, располо2 женную между ними, а вторая обкладка и диэлектрическая прокладка приклеиваются к его поверхности (2 J. . Недостатками данного емкостного датчика являются сравнительна низкая чувствительность, связанная с линейной зависимостью емкости датчика от изменяющихся в этом случае площадей обкладок и толщины диэлектрической прокладки, а также невозможность регистрации больших прогибов, так, как в этом случае на поверхности приклеенных обкладок и диэлектрической прокладки могут возникнуть трещины, или прокладка с обкладкой могут отслаиваться от поверхности исследуемого объекта.

Целью изобретения является повышение чувствительности и расширение диапазона измерений. Это достигается тем, что вторая обкладка и диэлектрическая прокладка выполнены с цилиндрической поверхностью, обращенной

86! 929 4 ний, так как имеется возможность измерения прогиба вплоть до разруше-. ния исследуемого объекта за счет того, что одной из обкладок является сам объект, а вторая обкладка с ним механически не скреплена.

Фор.мула изобретения

Составитель С. Сурков

Редактор С. Титова Техред А.Бабинец КорректорС.Щомак

Заказ 6526/33 . Тираж 642 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал IIIIII "Патент", r Ужгород, ул. Проектная, 4 выпуклостью в сторону исследуемого объекта.

На чертеже изображен емкостный датчик для измерения прогибов., Емкостной датчик для измерения прогиба содержит обкладку 1 и диэлектрическую прокладку 2, выполненные с:цилиндрической поверхностью.

Второй обкладкой является электропроводный исследуемый объект 3. Выпуклость цилиндрической поверхности обкладки 1 и диэлектрической прокладки 2 обращена в сторону исследуемого объекта 3.

Емкостный датчик для и змерения прогиба работает следующим образом.

Обкладка 1 и исследуемый объект

3 подключаются к измерителю емкости (на чертеже не показан). При изгибе

;исследуемого объекта 3 расстояния между ним и прокладкой 2 изменяются во всех точках, кроме точки контакта, на разные относительные величины, что приводит к изменению емкости датчика, которое регистрируется измерителем емкости.

Изобретение позволяет повысить чувствительность измерений прогиба за счет большего изменения емкости при изменении формы исследуемого объекта из-за кривизны второй обкладки и расширить диапазон измере10

Емкостной датчик для измерения прогиба, содержащий две обкладки, одной из которых является исследуемый объект, и диэлектрическую прокладку, расположенную между ними, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и расширения диапазона измерений, вторая обкладка и диэлектрическая прокладка выполнены с цилиндрической поверхностью, обращенной выпуклостью, в сторону исследуемого объекта.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Форейт И. Емкостные датчики неэлектрических величин. M., "Энергия"

1 966, с, 148, табл.5.

2. Авторское свидетельство СССР

У 82237, кл. G 01 L 1/!4, 1949 (прототип).