Рефрактометрическая оптическая система для аналитической ультрацентрифуги

Рефрактометрическая оптическая система для аналитической ультрацентрифуги

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

()868322

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕ ТЮЛЬ СТ8У

Союз Советскик

Соцналистичесник

Республик (Sl ) Дополнительное к авт. сеид-ву— (5l)N. Кл.

C 01Т 1/04//

G 011 21/41 (22) Заявлено 25.12.72 (2! ) 1864891/25 с орисоедииеииеаа заявки МГюсударствекьй квннтет

СССР ав делан нзабрвтеккИ н открыткй (23) ПриорнтетОпубликовано 30.09.81. 61оллетень М 36 (53) УДК 535.4 (088.8) Дата опубликования описания 03.10.81 (72) Авторы (54) РЕФРАКЧОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА

ДЛЯ АНАЛИТИЧЕСКОЙ УЛЬТРАЦЕНТРИФУГИ

Изобретение относится к устройствам для измерения градиента рефракции и может быть использовано для измерения концентрации вещества в кювете ротора аналнтнческой ультрацентрнфугн.

Известны рефрактометрические системы,> содержащие источник света, коллнматор, кюветы для анализируемой жидкости, нож,. модулятор, объектив, фотоприемннк Щ1 P).

Однако укаэанные устройства обладают низкой точйостью измерений, причем не поэволятст проводить измерения при вращения кюветы.

Известна рефрактометрнческая оптическая система для измерения градиента рефракции ве1цества, содержащая источник

13 света, коллнматор, кюветы для анализируемого вещества, расположенные в роторе вращения аналитической ультрацентрифуги, объектива, нож с изменяемым углом наклона, проекционный обьектнв, устрой ство сканирующего фотоприемника Г31.

Известная система из-эа неравномер-. ного распределения интенсивности света

2 вдоль кюветы обладает большимн погрешностями измерений градиента рефракцки.

Hemü изобретения — повышение точности измерения градиента рефракции.

Поставленная цель достигается тем, что в кювете установлена маска со щелью, направленной вдоль радиуса вращения ротора, а в плоскости ножа расположен дополнительный неподвижный нож перпендикулярно нэображенной щели.

На чертеже приведена схема устройства.

Система включает щель 1, щель 2, коллнматор 3, кювету 4, помещенную в роторе врещення аналитической ультрацентрифуги (не показана), маску 5 со щелью 6, линзу (объектив 7, неподвижный нод 8, нож 9 с изменяющимся углом наклона, проекционный объектив 10, щель11, фотопрнемннк 12.

Система работает следующим образом.

Лучи А н В проходят, предположим, через участок кюветы, где отсутствует градиент рефракция. Эттн лучи создают в пло72 4 рефракции лезвие ножа 9 может иметь форму э аданной кривой, например логарифмическую.

Рефрактометрическая оптическая система для аналитической ультрацентрнфуги, содержа дан источник света, коллнматор, кюветы для анализируемого вещества, расположенные в роторе вращения аналитической ультрацентрифуги, объектив, нож с изменяемым углом наклона, проекционный обьектив, сканирующее устройство, фотоприемник, отличающаяся тем, что, с целью повышении точности измерения градиента рефракции, в кювете установлена маска со.щелью, направленной вдоль радиуса вращения ротора, а в плоскости ножа. расположен дополнительный неподвижный нож перпендикулярно иэображению щели.

Источннки информации, принятые во внимание при экспертизе

1, 1 ринштейн М. М. и др. Фотоэлектрические концентратомеры для автоматического контроля и регулирования. М„Машиностроение, 1966, с. 141-144.

2. Мироненко А. В. Фотоэлектрические измерительные системы. М., Энергия, .с. 12 -135, Ь."Ana8> cat васити

1971, ¹ 41, с. 1-15 (прототип).

3 8683 скости ножей световое пятно, размеры которого определяются шириной щели 2 и щели 6 кюветы 5. При вращенин ротора световое пятно в плоскости ножей 8 и 9 перемешается по траектории С и сначала пересекает лезвие неподвижного ножа 8. Ф о р м у л а н з о б р е т е н и я

На выходе фотоприемника возникает импульс, исчезающий в момент пересечения световым пятном лезвия ножа 9, т.е. на выходе фотоприемника возникает импульс направления, длительность которого равна времени между моментами пересечения движущимся по траектории световым пятном лезвий ножей 8 и 9.

Предположим, что щель 9 сканнрует изображение участка кюветы с градиентом рефракции н через этот участок кюветы проходит луч D . Направление кода этого луча изменяется иэ-за влияния градиента рефракции, а световое пятно в плоскости ножа перемещается по траектории

Е. Так как ножи 8 и 9 установлены под углом друг к другу, то в случае сканирования щелью 11 иэображения кюветы с градиентом рефракции, длительность импульса напряжения на выходе фотоприемника изменяется.

Таким образом, длительность импул са на выходе фотоприемника соответствует величине измеряемого градиента рефракции. Длительность этого импульса может быть измерена посредством любого пригодного для этой цели прибора.

В случае нелинейной зависимости показаний прибора от величины градиента

868372

Составитель М. Дедловский

Редактор В. Петраш Техред С.Мигунова Корректор М. Шароши

Заказ 8303/52 Тираж 910 Подлисиое

ВНИИПИ Государственного -комитета СССР ло делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент", r. Ужгород, .ул. Проектная, 4