Способ определения дозы гелеобразования при фотохимическом сшивании полимерных пленок

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВ ТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Соцмалнстическнх

Реслублнк

<о868484 (61) Дополнительное к авт, сеид-ву (22) Заявлено 12.1p. 78 (21) 2672988/25-25 с присоединением заявки Ho— (23) Приоритет

Опубликовано 30.0981. Бюллетень 89 36

Дата опубликования описания 30. р9. 81

Р1)М. Кл.

G 01 N 17/00

Государственный комнтет

СССР по делам нзобретеннй н открытнй (53) УДК ь66. 095. . 268 (088. 8) (72) Авторы изобретения

Ю. И. Дорофеев и В. Е. Скурат

Ордена Ленина, институт химическо физики AH СССР (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДОЗЫ ГЕЛЕОБРАЗОВАНИЯ

ПРИ ФОТОХИМИЧЕСКОМ СШИВАНИИ ПОЛИМЕРНЫХ

ПЛЕНОК

Изобретение относится к технологии полимерных материалов и может быть использовано для оценки свойств полимеров при воздействии облучения.

Известен способ определения дозы гелеобразования при фотохимическом сшивании полимерных пленок, заключающийся в облучении пленки, удйлении несшитой части полимера растворителем и определении количества сшитого полимера, В этом способе дозу гелеобразования находят по графику зависимости массы сшитого полимера от дозы путем его экстраполяции к 15 нулевой массе 1).

Недостатком известного способа является сложность манипулирования с пленками малой толщины и, как следствие, невысокая точность опре- 20 деления количества сшитого полимера.

Цель изобретения — упрощение и повышение точности.

Указанная цель достигается тем, 29 что пленку формируют из раствора полимера на поверхности прозрачной подложки, облучение ведут череэ подложку, а количество сшитого полимера определяют спектрофотометрически. 3Q формирование пленки на подложке и последующее облучение ее через подложку приводит к тому, что при действии света в первую очередь сшивается слой полимера, примыкающий к подложке, который при обработке растворителем остается на подложке.

Количество его легко может быть определено спектрофотометрически. Дозу гелеобразования при этом находят по графику зависимости оптической плотности пленки сшитого полимера от количества падающего на образец света путем экстраполяции к нулевой оптической плотности.

Пример. Формирование пленки полиэтилена на подложке из И9Г осуществляют следующим образом. В стеклянный стакан помещают пластину из

NgF, наливают ксилол (10 мл) и вводят ." 0,01 г полиэтилена. При нагреве до 120 С полиэтилен раствоO ряется в ксилоле, после чего полученный раствор упаривают при 100 С до обнажения верхней плоскости подложки, что-приводит к образованию пленки полиэтилена толщиной 10 А, Извлекают пластину из раствора, удаляют пленку полиэтилена с нижней стороны подложки ватой, смоченной

Формула изобретения

Составитель Н. Вохмянин

Техред Т.Маточка Корректор A. Ференц

Редактор Н. Безродная

Заказ 8308/57 Тираж 9 )О Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская каб,, д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная,4 спи том. Облучение проводят в вакууме

10 мм рт.ст. монохроматическим светом 147ОА ксеноновой резонансной лампы КСР-2А известной интенсивности через подложку. Каждый образец облучают определенной дозой.

Затем удаляют несшитую часть полимера в кипящем ксилоле (50 мл) в течение 2-5 мин. Количество сшитого полимера определяют по величине оптической плотности с помощью вакуумного монохроматора ВИР-2 на той же длине волны (1470 А). Дозу гелеобразования находят вышеупомянутым обра эом.

Предлагаемым способом получены следующие дозы гелеобразования полимеров (в эВ на 1 г при р 1= 1470 A) полиэтилен (2,3 + 0,4) -10+ ; полипропилен (1,1 + 0,1) . 10 ; полибутадиен (6,4 +4-0,6) ° 10эо; полииэопрен (2,3 Й0,2) ° 10

Предлагаемый способ значительно упрощает манипулирование с тонкими полимерными пленками, позволяет использовать фотометрический метод определения количества сшитого поли. мера и обеспечивает высокую точность определения дозы гелеобразования при фотохимическом сшивании полимеров.

Способ определения дозы гелеобразования при фотохимическом сшивании полимерных пленок, заключакщийся в облучении пленки, удалении несшитой части полимера растворителем и .определении количества сшитого полимера, отличающийся тем, что, с целью упрощения и повышения точности, пленку формируют иэ раст)5 вора полимера на поверхности прозрачной подложки, облучение ведут через подложку, а количество сшитого полимера определяют спектрофотометрически.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Чарлзби А. Ядерные излучения и полимеры. N., Иэд-во "Иностранная литература", 1962, с. 202.