Способ магнитошумовой структуроскопии ферромагнитных изделий

Способ магнитошумовой структуроскопии ферромагнитных изделий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советснит

Социалистических

Республик

< 868545

-. т Ф г (6I ) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 25.12,79 (2!) 2859369/25 8 (5l ) IN. Кл.

5 0.1 М 27/ОО с присоединением заявки № твеудеротееннмй комитет (23) Приоритет м делом изобретений н открытий

Опубликовано 30.09.81. Бюллетень ¹36

Дата опубликования описания 03. 10,8 1 (53) УДК620,179. .14 т 088.8) О. А. Дроздова и А. А. Дроздов т (72) Авторы изобретения т

Новочеркасский ордена Трудового Красного Знамейи политехнический институт им. Серго ОрджоникщПю--- - .-. (7I) Заявитель (54) СПССОБ МАГНИТОШУМОВОЙ СТРУКТУРОСКОПИИ

ФЕРРОМАГНИТНЫХ ИЗДЕЛИЙ

Изобретение относится к неразрушаюшему контролю и может быль использовано для структуроскопии ферромагнитных изделий т

Известен способ магнитошумовой структуроскопии ферромагнитных изделий, заS ключающийся в том, что контролируемое изделие перемагничивают низкочастотным магнитным полем, регистрируют с помощью измерительного преобразователя шумы

Баркгаузена и по ним судят о качестве

t0 контролируемого изделия 31 3 .

Недостаток известного способа состоит в ограниченной возможности контроля подповерхностного слоя изделия.

Наиболее близок к предлагаемому по технической сушности способ магнитошумовой структуроскопии ферромагнитных изделий, заключающийся в том, что контролируемое изделие перемагничивают низкочастотным магнитным полем, замыкаютцимся через иэделие вокруг измерительного преобразователя, регистрируют с помощью последнего шумы Баркгаузена и по ним судят о качестве структуры контролируемого изделия (2 ) .

Однако и этот способ не позволяет эффективно контролировать качество структуры поцповерхностных слоев изаелия.

Цель изобретения - контроль поверхностных слоев изделия.

Поставленная цель достигается тем, что используют магнитное попе, вращающееся относительно оси измерительного преобразователя, нормальной к поверхности иэделия °

Кроме того, регулирование глубины залегания контролируемого подповерхностного слоя возможно путем изменения величины напряженности магнитного поля.

На фиг. 1 представлено устройство для осуществления способа; на фиг. 2 - то же, вид сверху.

Устройство содержит намагничиваюшую систему 1, включающую четырехполюсный магнитопровод 2 с двухсекционными катушками 3 и 4, каждая из секций коюрых

86854 размещена на диаметрально противоположных полюсах магнитопровода 2, а секции каждой катушки включены между собой

/ последовательно-согласно, низкочастотный генератор 5 двух квадратурных относитель- 5 но друг друга напряжений, соединенный первым выходом с катушкой 3 и вторым выходом с катушкой 4, и последовательно соединенные измерительный преобразователь 6, установленный симметрично от- 1р носительно полюсов магнитопровода 2, электронный блок 7 и регистратор 8.

Способ магнитошумовой структуроскопии ферромагнитных изделий реализуется следующим образом.

Генератор 5 запитывает катушку 3 и 4, соответствующие секции которых сдвинуты в пространстве друг относительно друга на 90 и питаются сдвинутым на 90 наО о пряжением. В результате создается низкоzo частотное магнитное поле, вращающееся вокруг оси измерительного преобразователя

6 и замыкающееся вокруг последнего через контролируемое изделие 9. Напряженность магнитного поля максимальна на поверхности изделия 9 и уменьшается по мере увеличения глубины залегания под« поверхностных слоев.

Вращающееся магнитное поле, напряженность которого выше некоторой критической величины, изменяет направление намагниченности доменов без скачков

Баркгаузена. Поэтому в поверхностных слоях образца, где возбуждается сильное магнитное поле, происходит лишь постепенное изменение направления магнитной з5 индукции и намагниченности без скачков.

Следовательно, процессы в поверхностных слоях образца преобразователем 6 не регистрируются. В более глубиихых слоях исследуемого изделия 9, где напряженность 40 вращающегося поля слабее, возникают скачкообразные повороты доменов, благодаря чему и изменяется магнитное поле. Это наводит ЭДС в измерительном преобразователе 6. Чем больше намагничивающий 45 ток катушек 3 и 4, тем глубже ггроаакает сильное вращающееся магнитное поле в материал, и он, начиная от поверхности до этих слоев, не создает ЗДС в измерительном преобразователе 6.

Таким образом, возможно контролировать качество подповерхностных слоев из5 4 делия 9, исключая влияние его поверхностных слоев.

Регулирование глубины залегания контролируемого слоя осуществляется изменес кием величины тока генератора 5, что изменяет напряженность магнитного поля.

Возможна также дополнительная регулировка путем вариации частоты генератора 5.

Целесообразно намагничивакхцие силы катушек 3 и 4 выбирать с некоторым отличным от единицы соотношением, при этом вращающееся поле эллипсоидально, а величина магнитного шума несколько увеличивается.

Регистрируемый преобразователем 6 сигнал преобразуется в электронном блоке 7 и регистрируется регистратором 8.

Описанный способ позволяет непосредственно контролировать качество струк« туры подповерхностных слоев, регулируя глубину залегания контролируемого слоя ферромагнитного изделия.,Формула изобретения

1. Способ магнитошумовой структуроскопии ферромагнитных изделий, заключающийся в том, что контролируемое изделие перемагнинивают низкочастотным магнитным полем, замыкающимся через изделие вокруг измерительного преобразователя, регистрируют с помощью последнего шумы

Баркгаузена и по ним судят о качестве структуры контролируемого изделия, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью контроля подповерхностных слоев изделия, используют магнитное поле, вращающееся относительно оси измерительного преобразователя, нормальной к поверхности иэделия.

2. Способ по и. 1, î r л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью регулирования глубины залегания контролируемого подповерхностного слоя, изменяют величину напряженности магнитного поля, Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1, Патент США Ив 3783370, кл. 6 01 R 33/12, 1974.

2. Авторское свидетельство СССР

Nе 461346, кл. G Ol М 27/86, 1975 (прототип J .

868545

Составитель П. Шкатов

Редактор М. Янович Техред Т.Маточка .. Корректор Г. Назарова

Заказ 8311/60 Тираж 910 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

ll3035, Москва, Ж-35, Раушская иаб., д, 4/5

Филиал ППП Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4