Электромагнитный дефектоскоп для контроля протяженных объектов

Электромагнитный дефектоскоп для контроля протяженных объектов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскмз

Социалнстнчесмик

Ресттублик

< >868549 (61) Дополнительное к авт. саид-ву (S1)М. Кл.з (22) Заявлено 040180 (21) 2864804/25-28

) с присоединением заявим ¹G 01 и 27/90

Госуяарстаеииый комитет

СССР яо ямам изобретеиий и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 3009.81.Бюллетень № 36

Дата опубликования описания 3009.81 (53) УДК 620.179. . 14 (088. 8) 472) Авторы изобретения (71) Заявитель (54 ) ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ

ПРОТЯЖЕННЫХ ОБЪЕКТОВ

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии злектропроводящих протяженных объектов.

Известен электромагнитный дефектоскоп для контроля протяженных объектов с устройством для отстройки от краев контролируемого объекта, содер-жащий измерительный преобразователь, соединенный C его выходом ; измерительный блок, установленный вблизи измерительного преобразователя сигнализатор положения края объекта, соединенный с его выходом логический блок и оконечный блок (1). 15

Недостаток известного дефектоскопа заключается в низкой надежности контроля эоны краев контролируемого объект а.

Наиболее близок к предлагаемому по технической сущности электромагнитный дефектоскоп для контроля протяженных объектов, содержащий последовательно соединенные генератор, 25 проходной дифференциальный вихретоковый преобразователь, амплитудно-фазовый детектор, подключенный своим опорным входом к генератору и формирователь строб-импульса,подключенный 30 своим пряьмм выходом к первому входу логической схемы "И" (2).

Однако и этот дефектоскоп не обеспечивает необходимой надежности контроля, так как сигналы от дефектов на краях объекта суммируются с сигналами от концов, что приводит к недобраковке.

Цель изобретения — повышение надежности контроля.

Поставленная цель достигается тем, что дефектоскоп снабжен после довательно соединенными повторителем, подключенным своим входом к выходу амплитудно-фазового детектора, первым и вторым ключами, соединенными своими управляющими входами с инверсным и прямым выходами формирователя стробимпульса, соответственно, а своими выходами - соответственно через конденсатор и резистор с нулевой шиной, дифференциальным усилителем, соединенным своим прямым входом с выходом амплитудно-фазового детектора, а инверсным входом — с выходом второго ключа, и амплитудным селектором, соединенным своим входом с выходом дифференциального усилителя, а своим выходом — со вторым входом логической схемы "И".

868549

Диаграммы 13-16 поясняют работу устройства при контроле беэдефектного изделия, а диаграммы 17-20 при контроле иэделия с точечным дефектом у начала. Диаграммы 13 и 17 изображают сигнал от начала изделия на выходе амплитудно-фазового детектора 3, диаграммы 14 и 18 — строб- 4() импульс контроль на прямом выходе формирователя 4, диаграммы 15 .и 19— импульс на инвертирующем входе дифференциального усилителя 10, диаграммы 16 и 20 - выходной сигнал диффе- 45 ренциального усилителя 10.

Дефектоскоп работает следующим образом.

При введении контролируемого изделия в дифференциальный преобра1 зователь 2, база которого меньше радиуса измерительной обмотки, на выходе амплитудно-фазового детектора 3 формируется сигнал 13 от начала изделня, длительность которого t определяемая по уровню 0„ срабатывания амплитудного селектора б, в несколько раз превышает длительность сигналов от точечных дефектов. Уровень срабатывания амплитудного селектора б выбирается из условия необходимой чувствительности к дефектам. Задний фронт t сигнала 13, определяемый от точки перегиба (точки экстремума первой производной

50 б5

На фиг. 1 изображена функциональная схема дефектоскопа, на фиг. 2 временные диаграммы, поясняющие его работу.

Дефектоскоп содержит последовательно соединенные генератор 1, проходной дифференциальный вихретоковый преобразователь 2, амплитудно-фазовый детектор 3, подключенный своим опорным входом к генератору 1, формирователь

Ф строб-импульса, логическую схему 5

"И", формирователь 4 строб-импульсов подключен своим прямым выходом к первому входу логической схемы 5 "И", соединенной своим вторым входом с амплитудным селектором б, последовательно соединенные повто- .15 . ритель 7, подключенный своим входом к выходу амплитудно-фазового детектора 3, первый ключ 8 и второй ключ 9, соединенные своими управляющими входами с прямым и инверс- 30 ным выходами формирователя 4 строб4 импульса, cooTветственно, дифферен циальный усилитель 10, соединенный своим прямым и инверсным входами соответственно с выходом амплитудно- 25 фазового детектора 3 и второго ключа 9, а своим выходом — co входом ампли тудного селектора б . Выходя первого и второго ключей 8 и 9 соединены, соответственно, через конденсатор 11 и резистор 12 с нуле-. вой шиной, сигнала 13), по форме близок к экспоненте.

Сигналом 13 от начала изделия через повторитель 7 и открытый первый ключ 8, управляемый формирователем

4„ заряжается конденсатор 11. ПОстоянная времени цепи заряда конденсатора 11 много меньше длительности импульса 13, поэтому напряжение на конденсаторе 11 повторяет выходной сигнал амплитудно-фазового детектора 3. Начало строб-импульса формируется формирователем 4 в момент достижения второго экстремума первой производной сигнала 13 от начала изделия (диаграмма 14). Строб-импульс контроль закрывает первый ключ 8 и открывает второй ключ 9, при этом начипается разряд конденсатора 11 через резистор 12. Постоянная времени цепи разряда конденсатора 11 выбираетЧя из условия равенства моментов окончания разряда конденсатора 11 и сигнала 13 от начала иэделия. Напряжение разряда конденсатора 11, представляющее собой экспоненту (диаграмма 15), поступает на инвертирующий вход дифференциального усилителя 10 и вычитается от сигнала 13, поступающего на второй вход дифференциального усилителя 10. Сигнал 13 от начала иэделия проходит на выход дифференциального усилителя 10 с укороченным задним фронтом (диаграмма 16) и вызывает срабатывание амплитудного селектора б, выходной импульс которого не проходит на выход логической схемы 5. "И" совпадения, так как стробимпульс контроль поступает на ее второй вход в момент окончания сигнала 16.

Если на начале иэделия расположен точечный дефект, то задний фронт сигнала от начала иэделия будет искажен (диаграмма 17) и сигнал от дефекта отчетливо проявится на выходе дифференциального усилителя 10 (диаграмма 20), будет зарегистрирован амплитудным селектором б и пройдет на выход логической схемы 5 "И", на второй вход которой поступает строб-импульс контроль 18, Таким образом в предлагаемом дефектоскопе увеличивается выявляемость точечных дефектов в зоне начала изделия, этим повышается надежность контроля.

Формула изобретения

Электромагнитный дефектоскоп для контроля протяженных объектов, содержащий последовательно соединенные генератор, проходной дифференциальный вихретоковый преобразователь, амплитудно-фазовый детектор, подключенный своим опорным входом к генератору и формирователь строб-импульса, подключенный своим прямым выходом к

868549

ВНИИПИ Заказ 8312/61 Тираж 910 Подписное

Филиал ППП "Патент", r.Óæãîðîä, ул.Проектная, 4 первому входу логической схемы "И", отличающийся тем, что, с целью повышения надежности контроля, он снабжен последовательно соединенными повторителем, подключенным своим входом к выходу амплитуднофазового детектора, первым и вторым ключами, соединенными своими управлякиаими входами с инверсным и прямым выходами формирователя строб-импульса, соответственно, а своими выходами — соответственно, через конденсатор и резистор с нулевой шиной, дифференциальным усилителем, соединенным своим прямым входом с выходом амплитудно-фазового детектора, а инверсным входом - с выходом второг. ключа, и амплитудным селектором, соединенным своим входом с выходом дифференциального усилителя, а свои выходом — со вторым входом логической схерии "И".

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

В 481828, кл. G 01 и 27/86, 1973.

2 ° Авторское свидетельство СССР но заявке Р 2494451/25-28, кл. G 01 и 27/86, 1977 (прототип),