Способ контроля криволинейных поверхностей

Способ контроля криволинейных поверхностей

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Класс 12Ь, 12,„.М 87675

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛ

А. И. Омельченко

СПОСОБ КОНТРОЛЯ КРИВОЛИНЕЙНЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ

Заявлено 12,7екабрв 1949 r. за М 408724 в Гостех)(вку СССР

Предметом изобретен«(я яв;lястся спос00 KOHTpo. («(е1)иволпнейных поверхностей с использова;!ием двойного микроскопа.

Известны способы контроля крик, лин=-.!1!û по=c 7х«(эст«."! с и=пользованием двойного микроскопа, однако они не обеспечивают возможно ти измерения позерхнсстей сложной .«:о.!ф!!Гурации вслед«T".H.e н«;:07Впжности экрана.

Предлагаем ыи cI!ocoO Отличается OT i(3HecTHblx подобных .-Поссбов тем, что в качестве экрана применена фстспласт;)«(еа, уерспляе IBH на подвижном столе микроскопа. Исслед е "vIOe изделие ) станавпивает .я 1!а подВижном столе и перемещается Г месте с фстс;Iластпнl .Ой В на :lраВ. 10нии, перпендику (ярном к п7ocKQOTH располО?есш!я О!)ьсктнвсз мнерссеспа, закрепленнОГО HeI101(BH?KHQ. В p«3? ;!LTBTe этОГО Н<1 фстспл 1(0 ) ин(ес

ВоспрсизВодится кривая BèHèÿ. ссствстств1 юшая и ?0()1(7«o и:c.«ед«емок поверхности. Возможность фотозаписи профиля поверхностей, имеющих сложну(о конфигурацию, обеспечивается перемен!ением I:BI(år(I(ÿ и экрана

В направ;Iении, I(ep!7eH+lIKI 7«(pH03(е и;!Осессти п«)дсн!lя 1! стра?кения луча.

На фиГ. 1 схематически изс.)ра?1 .Снс3; .стрс(!ство, Обсспсчи за(011\ee применение нового спсс ба контроля «с;)1!Вопи«(сй(ых пов«рхносте(й); HB фиг. 2 — полученная кривая.

На подвижном столе 1 закреплена контролируемая деталь 2, имеющая поверхность сложной конфигурации. На стойке 3 стола 1 смонтирована фотопластинка, служащая экраном 4. При помощи источника 5 света на контролируемую поверхность д«тали 2 проектируют малое круглое отверстие б двойного микроскопа, установленного неподвижно по отношению к столу 1. После этого деталь 2 перемешают вместе с установленным на столе 1 экраном 4 и проектируют на экран полученное изображение через второе отверстие 7 микроскопа. Деталь с экраном перемещают в направлении, перпендикулярном к плоскости падения и отражения луча, Предмет изобретения

Способ контроля кривслпнейны i поверхностей с использованием пвойного микроскопа. о т л и ч а «о щи Й ". я Tpм, чтÎ, с целью контроля № 57675

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Редактор Л. М, Струве

Подл. к печ. 23Х11-59 г.

Тираж 360 Цена 25 коп.

Инфс рмациоино-издательский отдел.

Объем 0,17 и. л. Зак. 5312

Типография Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Петровка, 14. поверхностей со сложной конфигурацией, на контролируемую поверхность детали, закрепленной на подвихкном столе, проектируют малое круглое отверстие и перемещают деталь вместе с установленным на столе экраном в направлении, перпендикулярном к плоскости падения и отражения луча.