Устройство для измерения деформаций изделия

Устройство для измерения деформаций изделия

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВ ИТИЛЬСТВУ (ii) 879295 (61) Дополнительное к авт. сеид-ву

{5!)м. кл3 (22) Заявлено 23. 05. 78 (21) 2619845/25-28 с присоединением заявки Ж (23) Приоритет

Опубликовано 07.1181, бюллетень Н9 41

Дата опубликования описания 07. 11. 81

С 01 В 11/16

Государствеииый комитет

СССР ио аелаи изобретений и открытий

{53) УДК 531.781. г (088.8) (72) Автор изобретения

A.A. Старостин

Г (71) Заявитель (54 ) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ

ИЗДЕЛИЯ

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения деформаций деталей машин.

Известно устройство.для измерения деформаций прозрачного изделия,содержащее расположенные вдоль оптичес- кой оси источник света, конденсор, первую эталонную сетку, линзу, оптическую систему и фотоприемник 1 ).

Однако известное устройство не позволяет измерять деформацию непроз-: рачных объектов.

Наиболее близким по техничесКому 15 решению к изобретению является устройство для измерения деформаций .изделия, содержащее расположенные вдоль оптической оси источник света; эталонный растр,. выполненный. фотоспособом, 20 деформируемый растр, нанесенный на изделие фотоспособом, и фотоприемник |2).

Основным недостатком этого устройства является сложный процесс из- 25 мерений, вызванный большой трудоемкостью изготовления и использования эталонного растра.

Целью изобретения является упрощение процесса измерений. 30

Цель изобретения достигается тем, что эталонный растр выполнен в виде гофрированной прозрачной пленки с шириной каждого гофра, равной ширине двух близлежащих к нему полос деформируемого растра, и расположен неподвижно относительно фотоприемника.

На чертеже показана схема предлагаемого устройства. устройство содержит расположенные вдоль оптической оси источник 1 света, эталонный растр 2, выполнен- ный в виде гофрированной прозрачной пленки, деформируемый растр 3, нанесенный на поверхность изделия 4, н фотоприемник 5. Эталонный растр 2 расположен неподвижно. относительно фотоприемника 5. Полосы деформируемого растра 3 выполнены из материала с различными коэффициентами отражения, а их ширина выбрана попарно равной. Ширина полос растра 3 выполнена с уменьшением к участку иэделия, где требуется большая точность измерений.

Устройство работает следующим образом.

При нагружении изделия 4 его поверхность деформируется. Это вызывает

879295

Составитель A. Босой

Техред A.À÷ Корректор С. Шекмар

Редактор О. Кфкова

Заказ 9697/5

Тираж 645 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная,4 смещение полос деформируемого растра

3 относительно гофрированной пленки .эталонного растра 2. В процессе нагружения исследуемую поверхность изделия 4 облучает источник 1 света, а отраженный от деформируемого растра 3 свет проходит через эталонный растр 2 и регистрируется фотоприемником 5. При деформации изделия интенсивность отраженного света изменяется. По разности начальной интенсивности отраженного света и его интенсивности в процессе нагружения измеряют величину деформации иэделия.

Использование изобретения по сравнению с известными техническими решениями позволяет повысить точность измерения дефОрмаций и упростить процесс измерений. Наряду с измерением деформаций устройство позволяет измерять также параметры вибрации, параллельности и т.п.

Формула из обретения

Устройство для измерения деформаций изделия, содержащее расположенный вдоль оптической оси источник света, эталонный растр, деформируемый . растр и фотоприемник, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью упрощения процесса измерений, эталонный растр выполнен в виде гофрированной прозрачной пленки с шириной каждого гофра, равной ширине двух близлежащих к нему полос деформируемого растра, и расположен неподвижно относительно фотоприемника.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

35 1. Геокарис П. Муаровые полосы при исследовании деформаций. N., "Мир

1972, с. 145-151.

2 Дюрелли А, Паркс В. Анализ деформаций с использованием муара. N. "Мир", 1974, с. 249-253 (прототип).