Оптико-электронная приставка к коллиматору для измерения спектрального коэффициента пропускания объективов

Оптико-электронная приставка к коллиматору для измерения спектрального коэффициента пропускания объективов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ («)883689

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву 9 587355 (22) Заявлено 21О3.80 (21) 2Э11080/18-1O с присоединением заявки ¹ (51) М. Кл.

G01 М 11/02

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 231181 Бюллетеиь 4 43 (53) УДК 535 ° 24 (088.8) Дата опубликования описания 2 3.1181

С.П. Авдеев, М.Н. Сокольский, З.С. Щербакоэский и Ф.Х. Ялышев

1. -ФЪ -,, Ленинградский институт точной механики и оптики и триждй ордена Ленина Ленинградское оптико-механическое объединение им. В.И. Ленина (72) Авторы изобретения (71) Заявители (54) ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННАЯ ПРИСТАВКА К КОЛЛИМАТОРУ !ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОГО КОЭФФИЦИЕНТА

ПРОПУСКАНИЯ ОБЬЕКТОВ

Изобретение относится к оптическим устройствам для испытания объектов, и может быть использовано в процессе производства в цеховых условиях.

По основному авт. св. 9 587355 известна оптико-электронная приставка к коллиматору для измерения спектрального коэффициента пропускания объективов,,содержащая апертурную диафрагму, за которой расположены поверяемый объектив и фотоэлектронный приемник °

Кроме того, известное устройство содержит зеркало, установленное за 15 поверяемым объективом, и полупрозрачное зеркало установленное в, коллимированный поток перед поверяемым объективом. По обе стороны от полупрозрачного зеркала установлены плос- 20 кое зеркало и вспомогательный объектив. Фотоэлектронный приемник установлен в фокусе вспомогательного объектива и имеет чувствительную площадку, соизмеримую с аберрационным пятном поверяемом объектива и спект.ральную характеристику в видимом, инфракрасном и ультрафиолетовом диапазонах спектра. Перед плоским зеркалом и поверяемым объективом установлены ЗО подвижные светонепроницаемые шторки, а зеркало за поверяемым объективом выполнено сферическим, с диаметром,-. равным световому диаметру поверя мого объектива.

При испытании объективов в условиях производства,как правило,не ограни,чиваются измерением только коэффициента пропускания, но определяют и задний фокальный отрезок, например, по положению плоскости, в которой аберационное пятно имеет наименьшее сечение, и размеры и форму аберрационного пятна. Эти измерения проводят с применением специальных устройств, дающих дополнительный результат преимущественно в,видимом диапа" зоне спектра (lj

К недостатку устройства относится невозможность одновременного измерейия размера аберрационного пятна объектива.

Цель изобретения — получение информации о размерах аберрационного пятна объектива.

Указанная цель достигается тем, что оптико-электронная приставка к коллиматору для измерения спектрального коэффициента пропускания объекттивов снабжена пластиной с отверсти883689 ем и с нанесенным зеркальным покрытием в виде треугольника, поперечный размер которого на расстоянии половины его высоты соизмерим с диаметром аберрационного пятна объектива, обращенным зеркальным покрытием к по. .лупрозрачному зеркалу,и установленной в центре кривизны и перпендикулярно главной оптической оси сферического зеркала с возможностью продольного перемещения и поворота в своей плоскости.

На чертеже изображена оптическая схема приставки.

Приставка содержит фотоприемник 1, установленный в фокусе вспомогатель- ного объектива 2, введенное в полими- 15 рованный поток полупрозрачное зеркало 3, по обеим сторонам которого расположены вспомогательный объектив 2 и плоское зеркало ойс)рного канала 4 также по обе стороны от полупрозрач- 20 ного зеркала 3 размещены апертурная диафрагма 5, отверстие которой соответствует световому диаметру поверяемых объектов,,и обращенное к полупрозрачному зеркалу сферическое зеркало 6, в центре кривизны и перпендикулярно главной оптической оси которого установлена пластина 7 с прорезью и зеркальной полосой, обращенной к полупрозрачному зеркалу 3, при этом йластина может быть выполйена в вйде поворотного диска или круга и установлена с возможностью перемещения и поворота на 90 С в своей плоскости; светонепроницаемые шторки 8 поочередно перекрывающие опорньй и измерительный каналы 9 — место разме1 щения поверяемого объектива. Пункти-, ром обозначена пластина при повороте ее на 90 град. Стрелкой показано возможное перемещение пластины. ¹0

В режиме измерения коэффициента пропускания приставка работает сле- дующим образом.

Коллимированный поток излучения после апертурной диафрагмы 5 разлеляется полупрозрачным зеркалом 3 на два канала: опорный и измерительный, поочередно перекрываемые шторками 8.

Поток излучения измерительного канала проходит полупрозрачное зеркало 3, О поверяемый объектив 9, прорезь пластины 7 и попадает на сферическое зеркало. 6, отразившись .от которого, вновь проходит прорезь, объектив, отражается от полупрозрачного зеркала Ф и фокусируется вспомогательным

jîáúåêTHâîM 2 на фотоприемник 1, вызы вая сигнал, величина которого составляет 0<>6 .

Поток излучения опорного канала отражается от полупрозрачного зеркала 3, попадает на плоское зеркало 4, отразившись от которого, вновь проходит полупрозрачное зеркало 3 и вспомогательным объективом 2 фокусируется на фотоприемник 1, вызывая . сигнал Uo .

Коэффициент пропускания объектива (%of ), в том числе и спектРальный, определяется. как отношение, ГД

"of -

При этом предполагается, что светбвая характеристика фотоприемника линейна, а коэффициенты отражения зеркал опорного и измерительного каналов равны между собой.

В режиме измерения размеров аборрационного пятна приставка работает следующим образом.

После определения То, пластина 7 в измерительном канале смещается таким образом, что прорезь сменяется зеркальной полосой.При этом излучение будет отражаться не от сферического зеркала, а непосредственно от зеркальной полосы (которая расположена в центре кривизны сферического зеркала и в фокусе поверяемого объектива) .

Если не учитывать различие в характере падения излучения на поверхность сферического зеркала (по нормали) и на зеркальную полосу пластины . (под углом, равным задней апертуре объектива), в этом случае у сохранит: свое значение, т. е. сигнал о (измерительного канала будет прежним. (Коэффициент отражения пластины также равен коэффициенту отражения плоского и сферического зеркала) . Смещая пластину в своей плоскости к основанию треугольной полосы будет фиксироваться момент уменьшения сигнала Vog mo имеет место, где поперечный размер зеркальной полосы стал равным, а затем меньшим аберрационного пятна объектива. Для измерения второго, взаимно перпендикулярного размера пятна, пластина разворачивается на

90 градусов и смещением пластины также фиксируется момент равенства поперечного размера полосы аберрационному пятну.

Таким образом, зная геометрические размеры полосы, можно с достаточной точностью (например для выбора чувствительной площадки фотоприемника, который будет работать совместно с объективом) установить предельные размеры аберрационного пятна.

Использование изобретения позволит в условиях производства, с наименьшими затратами времени и средств определить важнейшие характеристик объективов: спектральный коэффициент пропускания,размеры и форму аберрационного пятна, величину заднего фокального отреза. Особенно важно то, что испытание объективов можно проводить в любом диапазоне спектра: видимом, инфракрасном и ультрафиолето-, вом.

883689

Формула изобретения

Составитель Н. Вашковская

Редактор П. Ортутай Техред 3К.Кастелевич Корректор.A. Дзятко

Заказ 10210/63 Тираж 910 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

° по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Оптико-электронная приставка к коллиматору для измерения спектрального коэффициента пропускания объективов по авт.св. М 587355,о т л ич а ю щ а я с я тем, что, с целью получения информации о размерах абер рационного пятна объектива, она снабжена пластиной с отверстием и с нане„сенным зеркальным покрытием в виде треугольника, поперечный размер которого на расстоянии половины его высоты соизмерим с диаметром аберрационного пятна объектива, обращенным зеркальным покрытием к полупроэрачнОму зеркалу и установленной в центре кривизны и перпендикулярно главной оптической оси сферического зеркала с воэможностью продольного перемеще".

;ния и поворота в своей плоскости.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

9 587355, кл. 5 01 М 11/02, 05.07.76 .(прототип) .