Ультразвуковой способ измерения толщины слоя

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советскин

Социалистичесинк

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К. А8ТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (1887926 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 25.01.79 (2! ) 2717622/25-28 с присоединением заявки М (23) Приоритет

Опубликовано 07.12.81. Бюллетень М 45

Дата опубликования описания 19 12.8 д (5I)М. Кл.

g 01 В 17/02 авеудерстеенный квинтет

СССР . дв делам иаабретеиий н открытий (53)УЛ,К 5зд. .7 17(088.8) (54) УЛЬТРАЗВУКОВОЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ

ТОЛЩИНЫ СЛОЯ

Устройство относится к неразрушаюшему контролю и может быть использовано для определения топцины покрытия иэ де лий с по мощью у ль тр &звук ов ых волн.

Известен ультразвуковой способ контроля тотецины иэделия заключающийся в двусторонней эхолокации отражателя .в опорном акустическом канале и измерении времени распространения эхо,. импульсов (1).

Недостатком этого способа является отсутствие возможности измерения в материалах с неизвестной скоростью ультразвука.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому результату является ультра звуковой способ измерения толщины слоя, зактиочаютийся в том, что в ксеттролируемом слое возбуждают продольные L и сдвиговые Т ультразвуковые волны, принимают эти волны после прохождения слоя и из2 меряют время и tz их распростране« ния j2)

Недостаток известного способа эаклктчается в низкой точности измерения, свя» занной .с измерением времени распрост- .

S ранения поверхностных волн. Кроме того, при реализацик способа возникают сложности, связанные с необходимостью возбуждения трех видов ультразвуковых волн при помощи четырех отдельных датчиков.

Gem ю изобретения является повышение точности контроля.

ljettt достигается тем, что фиксируют на поверхности слоя точки прихода продольных и сдвиговых вотет после их отраIS жения от нижней плоскости сюя, измеря- ют расстояния 3 и 3 от этих точек до точки возбуждения и тотецину слоя рассчитывают по формуле где с(,- угол ввода ультразвуковых волн в иэделие;

1 h< 0,5 где *- угол ввода ультразвуковых волн в иэделие; — скорость продольных волн в ма.25 териале преобразователей.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе, 1. Авторское свидетельство СССР

М 394657> K Gj О 1 В 17/ОО> 1968.

56 2, Авторское свидетельство СССР

N 372432, кл. g 01 В 17102, 1965.

3 8879

i .- Скорость продольных волн z ма» териале преобразователей.

У льтразвуковой способ измерения толщины слоя осуществляется слецующим образом. В материале изделия с помощью

5 продольной ультразвуковой волны, падающей на поверхность под острым углом, возбуждают продольную и поперечную волны. Продольная волна при падении на нижнюю границу слоя отражается и трансфор- 1Е мируется в продольную и поперечную волны. То же происхоцит и при падении поперечной волны. Причем отраженная поде речная волна, возникающая при падении поперечной волны, параллельна отраженной И поперечной волне, возникающей при падении продольной волны, а отраженная поперечная волна, возникающая при падении продольной волны, и отраженная продольная волна, возникающая при па- йо цении поперечной волны, прихоцит в Оциу точку. При контроле фиксируют точку

m время 4 прихода отраженной поперечной волны, возникающей при падении поперечной волны, и точку прихоца и время 1 отраженной продольной волны, возникающей при пацении продольной волны, . Измеряют расстояния ctr и 8 от этих точек цо точки возбуждения ультразвуковых волн и по предложенной формуле рассчитывают тощину слоя.

26 4 rð >7<0>oN способ позволяет с большей точностью измерять толщину слоя. формула изобретения

Ультразвуковой способ измерения

1 тОлщины слояэ заключающийся в томэ что в контролируемом слое возбужцают продольные L и сдвиговые T ультразвуковые волны, принимают эти волны после прохождения слоя и измеряют время и Ь их распространения, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью новь-пения точности контроля, фиксируют на поверхности слоя .точки прихода продольных сдвиговых волн после их отражения от нижней плоскости слоя, измеряют рассгояния Д ИВТ от этих точек цо точки возбуждения, и толщину слоя рассчитывают по формуле

Составитель С, федоров

Рецактор Г. Бельская Техред А, Савка Корректор М, Шароши

Заказ 107 10/9 Тираж 645 Поцписное

ВНИИПИ Госуцарственнбго комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, ?K-35, Раушская наб., ц. 4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4