Устройство для измерения динамических параметров микросхем
Иллюстрации
Показать всеРеферат
Союз Советсиик
Социалистических
Республик
ОЛ ИСАНИЕ
ИЗЬВРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ iii 894619 (8l ) Дополнительное к авт. саид-ву 1"- 432431 (22) Заявлено 05. 01. 79 (21) 2709435/18-21 (5l)M. Кл. с присоедииеиием заявки лв
G 01 R 31/28 тввуаарвтиева4 квинтет
Фь.ьР ав авави взе4рфтека11 и виуытвв (23) П риоритет—
0публиковаио 30,12.81. Бвллетеиь М 48
Дата олубликоваиия описания 30.12.81 (531 УДК 621.317. .799:621.3. .049.75(088.8) (72) Авторы изобретеиия..хсгс " -" "-
И иссл@фя фтфльског
В.И.Глебова, Г.И,Лобанов н О.Ф.Павл
Пензенский филиал Всесоюзного научи технологического института приборос (7! ) Заявитель ое (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ
ПАРАМЕТРОВ МИКРОСХЕМ
Изобретение относится к электр измерительной технике и может быть использовано для измерения динамичес" ких параметров микросхем, логических элементов полупроводниковых эле"
5 ментов и т.п.
По основному авт. св. Ф 432431 известно .устройство для измерения динамических параметров микросхем, содержащее цепь последовательно соединенных микросхем, переключатели, дискриминатор напряжения, регулируемый источник опорного напряжения и элемент совпадения LI) .
Недостаток известного устройства заключается в erî ограниченных функ" циональных возможностях, так как оно ( не позволяет измерять выходное со» противление контролируемой микросхемы °
Цель изобретения — расширение функциональных воэможностей.
Поставленная цель достигается тем, что в устройство, содержащее элемент совпадения, к выходу которого подключена цепь последовательно соединенных микросхем, выход которой соединен с контролируемой микросхемой и через первый переключатель-с одним из входов элемента совпадения, другой вход которого соединен с выходом второго переключателя, вход которого соединен с выходом дискриминатора, один вход которо-, го соединен с выходом контролируемой микросхемы, а другой вход — с выходом регулируемого источника опорного напряжения, введены последовательно соединенные эталонный конденсатор и ключ, вход которого соединен с выходом контролируемой микросхемы, первая обкладка эталонного конденсатора соединена с общей шиной, а вторая его обкладка соединена с выходом ключа.
На чертеже приведена структурная схема предлагаемого устройства.
894619
Устройство содержит цепь 1 последовательно соединенных микросхем, переключатели 2 и 3, ключ 4, дискриминатор 5 напряжения, регулируемый источник 6 опорного напряжения, эта" лонный конденсатор 7 и элемент 8 сов падения.
Устройство работает следующим образом.
На вход контролируемой микросхе- 10 мы 9 поступает импульс напряжения с выхода цепи 1 последовательно сое диненных микросхем. С выхода контропируемой микросхемы 9 сигнал поступает на один нз входов дискриминатора 15
5 напряжения, на другой вход которого поступает опорное напряжение с выхода регулируемого источника 6 опорного напряжения. 11ри достижении уровня выходного сигнала контролируемой микросхемы 9 уровня заданного опорного напряжения дискриминатор 5 напряжения переключается. Таким образом, дискриминатор 5 напряжения с регулируемым источником 6 опорного напряже- zg ния предназначен для измерения времени задержки контролируемой микросхема 9.
При подаче на вход дискриминатора
5 напряжения опорного напряжения
U4 получают значения t " Uq и t> 04, а при подаче опорного напряжения 04значения t> Оа и t Ug, где t> и t время задержки контролируемой микросхема 9 при переключении из состояния
"0" в состояние "1" и из "1" в "0"
3S соответственно. Разность этих времен дает время переключения контролируемой микросхемы 9 t„ и t„ из состояния "0" в состояние "1" и из "1" в
"0" соответственно
t " U> — 11„- ф
>u„-t, î, = "„ причем t u t определяется из соотl1
45 ношений (0а = T U tl 504 ЬО1 G UQ T@ Ug где Т U и Т .U - периоды повторения
50 импульсов, вырабатываемых устройством при подаче на вход дискриминатора
5 напряжения опорного напряжения U и l4 соответственно, причем Ть соответствует замыканию переключателей
2 и 3 Тз - замыканию переключателя 3.
Цикл измерения выходного сопротивления контролируемой микросхемы 9 состоит из двух тактов. В первом такте производится измерение времени задержки контролируемой микросхемы 9, а втором такте к выходу контролируемой микросхемы 9 с помощью ключа 4 подключается эталонный конденсатор 7 н далее вновь производится измерение времени задержки испытуемой микросхемы 9.
По результатам измерения времени задержки контролируемой микросхемы
9 в первом (йс„) и вторым (йс) так3 тах осуществляется вычисление неличины выходного сопротивления контролируемой микросхемы 9 как функции 7 (сд"йс ), где Сз - емкость эталонного конденсатора 7 С вЂ” паразитная емкость, подключаемая к. выходу кон-. тролируемой микросхемы 9 в первом такте.
Использование предлагаемого уст" ройства позволяет получить более полную информацию о динамических параметрах контролируемой микросхемы.
Формула изобретения
Устройство для измерения динамических параметров микросхем по авт. св.
9 432431, отличающееся тем, что, с цепью расширения функциональных возможностей, в него введены последовательно соединенные эталонный конденсатор и ключ, вход которого соединен с ныходом контролируемой микросхемы, первая обкладка эталонного конденсатора соединена с общей шиной, а вторая его обкладка соединена с выходом ключа.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1. Авторское свидетельство СССР
М 432431, кл. G 01 R 31/28, 1972.
894619
Составитель С. Бычков
Редактор И.Михеева Техред M.Òåïåð Корректор M.Êîñòâ
Заказ 11482 74 Тираж 735 11одписное
ВНИКНИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
ll3035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал ПП11 "Патент", r. ужгород, ул. Проектная, 4