Способ спектрального анализа металлографических и минералогических шлифов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Х а9Ы9!

1 13СС -!21, 303

СССР

О П И С А Н И Е И О Б ) Е Т (-. )К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Н Я f{0P0)I(>q! !")Ог ()Б С)(ЕИТРА>)ЬЬОГО АЯАЛ!(3)) ): ЕТАЛЛО"РАФИЧЕСНИ

И ИИНЕРАЮГИЧККИХ ШЯИЭСВ

Заявлено 20 августа 1949 r, за ¹ 403124 в Гостскнику СССР с присосдннсние(! заявки ¹ 406656

Опубликовано в «Б)оллстснс изобрстснн!!» ¹ за 1951 г.

Пзвестныс способы спектрального анализа металлографическик и )шнералогичес1 ик шлифов не обеспечивают возможности определшшя ки)1ического состава отдельным кристаллическим фаз шлифа.

Описываемый сиосоо спектрального анализа отличается от известнык тем, что изучаемая искра создается под зеркальным ооъект(н;Ом, обеспечивающим оольшос расстояние между поверкностыо шлифа и первой оптической поверкностыо, вследствие чего имеется возможность опреде-!!ять мимический состав отдельны.; крис Tàллпческпк (!) аз в металлогра фическил и:>lnHCP3:IOTnSCCiiiIZ ШЛИ(!)3К.

На черте)ке изображена оптическая схсиа прибора, ооеспечива)ощая oc-) ществлеиие способа спектрального анализа металлографпческик и минералогическим ! или(()зв.

С целью анализа отдельным кристалли Iсскик ч)23 и(;!и(!)((искровой p33p)13 Осуществляется между электродом (1) и изучаемым местом шлифа (2). Искра, получаемая прн разряде, проектируется через

)!нк()осl(оп с зеркальньlм микр000ъеl!т>и)0)1 (3) па щель спектрографа (1). Для визуального наолтодения поверкности шлифа и правильной установки электрода над изучаемым местом шлифа послед)ши освещается с помощью лампы (5) через систему: кондснсор (G), откидная призма (7), микрообъектив (8), отражателыше

3(plii!Ë ) (9) H згpliHLlll Ilnlij)00()1>cliTHH (3). Н(!бл)одеиие иоверкности ведется в луча г, 0Tp3;l;can!is от и;;in0);), ьер(з зеркальиьп(. >(икр0001>(ктив (3), CTp3ni3Tель нос зер)!ало (9) H окуляр (10).

Зеркало (9) покрыто 3310)!anne)i так, <1" ооы иучо) и (да)оп(гк ч 1 H.>i 0 3) le!1 "3 стично и,)окодил в окулярну)о часть уп)кроскопа. Окуляр (1О) C.130 «CH перекрестие)1, с помощь)0 OTcpcl 0 в процессе работы осуществляется совмещение того места шлифа, которое подлежит спектральиомУ 3 !i

Окуляра через зеркальный мпкр.)объектив (3) ccin3да(т с изображением ц(нг!)а щслп сиектрогра(!)(1 после зпгкроооъектпва ((>), 01",);).".."<1(..!ьн010 acpli3л;1 (9) H мпкрооб.ьектпва (3). Сов.,!(щение излучаемого места шлифа с центром перекр(стия обеспечигает и согпадение е"о изоораженпя со щелью спектрографа.

Д!!я точной установки острия электрода (1) над иоверкностью шлифа в EOHструкцип прибора доля;но быть предусмотрено )шкрометренное перемещение. а трек лапино исрпенд!!кул; pal!a направлениям.

После грубой установки острия, осуществленной прп набл)оте)пш в лупу (11), 0Н0 может быть наблюдае;10 через микроскоп при некоторой фокусировке микроскопа, сфокусированного ранее на поверкность шлифа. Д <)оа

П 1) с (1(с т и з о о р е т с н и»

-«Г ф» 1

Ст, редактор Л. A. Сержпипскап

Л5Ь372 от 2) <(П 956 г, Стандартгиз. С)о(>ем 0,7<25 п. и. Тираж 2000 цапа 25 иоп.

Тппогра(оил изд-аа (<,(оо((ово((ал пра),да>, Потапого(п(!1 пор., 3 Заи 3831 пикро)(етрениы)1 Персис!цеппем конец

Ост1И(я сОВ)(си(<(ется Ilcj)elf j)cc7ием Окт ляра п ) стана()лиоастся нй заданное 1)йсСТОЯНI!С 01 П01)ЕРКНОСТП П!Ли(,)й.

С целе(о анализа !Или((н(3 и?> Исэ;п)ктроПРОВОДИI>(X. 2<11 ОРИ< 1013 СО!3;l<)!OT 1!CК(>! "(. :IiД „ ДВД Мя Э;!ЕE(TI)ÎË(EI!È j)i!;IP)! IE!. E!ii(О.!Ии

ИЗ КОTOj)l>IX СОИI)1(ii1)1

ИСС 1 ОМ llf;III(.

l. Сиосо() IIOE(òj)i(!1>!10! 0 и (:!Оеj)(1(0:(ИС liи. » П МПП(",)й;!ОIИЧCC1:.П IIРЛП(>ООВ> О 7,4 И Ч а IO Щ I(П С Я ТС)!> !1 О, цел!ИО йпалнзй От;(слы!ык I>p!f(тал;lп 10" скпк (()<)з пl f1((I)!E> 1(си()01)ОИ p i(>j))fg -<1е>кД а;(СКТРОДОМ И ИЗей<(а(Мы>! IICCT(0(l!E;!!1(!)<1

I(j)0()li1п1)) )От I(j)åp I!l!Eij)0(коп с 3(j)ii<1,lI>И(>!)! )(ПКРООО l>CliT!18011 Ий ll!("ËЬ (Псli l j)О1 P < (l)

). БПМ(.)(СН !f!!C СПИ:(О((СИСКТРПЛЬПО1 0 апйли;)й IIÎ l!. I> О 7 . и 1 и 9) (I(с с с я

>1()1> <Пео> (. I((f!>EO йи<(ЛП,)<(1!(Л. П(0(3 !. 3 lf(!ЭЛСКЦ)0!Ц)0130ДНЫ ; Х<(ТОРП<(Л(<В, (((:3,(i!9>7 искру i)c:;;д.(- де! (я з-!Сктродй)(п т)((зрядl!lf!iEE> Од!и(пз кото1)нк (0!!j)!!1: с )(! си с пз>з<(йсп(>()! 1(ссто)1 II!;!i!(I>B,