Устройство для контроля параметров полупроводниковых приборов

Устройство для контроля параметров полупроводниковых приборов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советсник

Сон,иапнстнчасннв

Рясоубпнн

Ой ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (»>902109 (61) Дополнительное к авт. санд-ву (22)Заявлено 18.12.78{21) 2700146/18-21 с присоединением заявки № (23) П рнорнтет

Опубликовано Э0.01.82. бюллетень № 4

Дата опубликования описания 02.02.82 (51)М. Кл.

Н 01 Ь 21/66

5вударетееваЖ кеювтет

CCCP ав @елен взееретекик н втервпвй (53) УДК621.382 (088. 8) о (72) Авторы изобретения

Д. Г. Межерицкий, P. A. Рабинович, В. А. Курги и H. М. Терентьев

I и 4 Р." : .Ъп „.р, . °,. S(g

1 (7I) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано на операциях контроля параметров при климатических испытаниях в производстве полупроводниковых приборов, имеющих один резьбовой выход н фланец.

Известна конструкция панели для группового контроля параметров полупроводниковых приборов при климатических ис» пытаннях, где приборы вставлены в от в верстия панели и прикреплены к ней гайками (каждый полупроводниковый прибор в отдельности). Полупроводниковые при° боры, укрепленные на панели, вторыми электродами вставлены в ножевые кон15 такты изоляционной платы. В совокупность панель и контактная плата представляет собой устройство обеспечивающее электрические и тепловые режимы контролируемых полупроводниковых приборов (1 $

Устройство требует больших затрат ручного труда для ориентации и крепленн полупроводниковых приборов к панели.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является устройство для контроля параметров полупроводниковых приборов, например стабилитро» нов, содержащее основайие, на котором установлены контактрадиатор с отверстиями для размещения полупроводниковых приборов, направляющие и торцовые подпружиненные контакты P2).

Недостаток известного устройства— низкая производительность контроля. Кроме того, оно характеризуется недостаточной надежностью контактирования полупроводникового прибора с контактом-" радиатором.

Цель изобретения - повышение производительности контроля и надежности теплового и электрического контактирования. Цель достигается тем, что устройство для контроля параметров полупроводниковых приборов, содержащее основание, на котором установлены контакт-радиатор, с отверстиями для размещения полупроводниковых приборов, направляющие и

3 902 10 торцовые подпружиненные контакты, снабжено прижимной платой с отверстиями, соосными отверстиям контакта-радиатора, при этом прижимная плата установлена на направляющих и в ее отверстиях закреплены компенсационные втулки, а подпружиненные торцовые контакты,установлены в плате, жестко связанной с прижимной платой, и соосны отверстиям контакта-радиатора и прижимной платы. 1о

На.фиг. 1 изображено устройство для контроля параметров полупроводниковых приборов, исходное положение; на фиг. 2то же, рабочее положение.

Устройство цля контроля параметров полупроводниковых приборов содержит основание 1 с запрессованными в него направляющими 2, проходящими через прижим 3, с нижней металлической прижимной платой 4 и жестко связанной с щ ней верхней изоляционной платой 5. B отверстиях прижимной платы установлены компенсационные втулки 6, а в отверстиях верхней — торцовые подпружиненные контакты 7, опирающиеся своими головками на пружины 8. Платы 4 и 5 жестко соединены при помощи винтов 9. Прижим

3 лежит на пружинах 10, надетых на направляющие 2. Контакт-радиатор 11 с испытуемыми стабилитронами 12 встав- зо лен в паз основания 1. Соосность испытуемых стабилитронов 12 с отверстиями прижима 3 в рабочем положении контактарадиатора 11 обеспечивается упорной плоскостью 13. зз

Предлагаемое устройство работает следующим образом.

O1 приложенноГо вертикального усилия прижим 3 перемещается вниз по направ ляющим 2, сжимая пружины 10. При этом прижимная плата 4 через компенсацион-. ные втулки 6 передает усилие на фланцы стабилитронов 12, прижимая их к контакту-радиатору 11, который, в свою очередь, прижимается к пазам основания

1. Одновременно через подпружиненные контакты 7 осуществляется электрическое соединение вторых электродов ста9 4 билитронов 12 с испытательной установкой.

Выполнение прижима в виде двух взаимосвязанных плат позволило осуществить соединение фланцев полупроводнико вых приборов с контактом -радиатором и соединение второго электрода с установкой с разными прижимными усилиями, отличающимися по величине в несколько

P GS„

Применение компенсационных втулок обеспечивает равные прижимные усилия на фланец каждого из испытуемых полупроводниковых приборов, отличающихся высотой в пределах допуска.

Все это позволяет повысить производительность контроля и надежность контактирования.

Формула изобретения

Устройство для контроля параметров полупроводниковых приборов, например стабилитронов, содержащее основание, на котором установлены контакт-радиатор, с отверстиями для размещения полупроводниковых приборов, направляющие и торцовые подпружиненные контакты, о т— л и ч а ю ш е е с я тем, что, с целью повышения производите Юности контроля и надежности теплового и электрического

v контактирований, оно снабжено прижимной платой с отверстиями, соосными отверстиям контакта-радиатора, при этом прижимная плата установлена на направляющих и в ее отверстиях закреплены компенсационные втулки, а подпружиненные торцовые контакты установлены в плате, жестко связанной с прижимной платой, и соосны отверстиям .контакт-радиатора и прижимной платы.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

l.. Установка изотермическая

УТ. 140. 000- 000. ТО. 1962.

2. Авторское свидетельство СССР

% 512515, кл. Н 01 L 21/20, 1973 (прототип).