Способ спектрального анализа твердых неэлектропроводных микрообъемов вещества

Способ спектрального анализа твердых неэлектропроводных микрообъемов вещества

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советскик

Социапистическик

Респубики

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (iii 910531

4 г (61) Дополнительное к авт. свид-ву (»)» »«o 1C0S80 (») 29 059 118-25 с присоединением заявки,%— (23) Приоритет—

Опубликовано 070382. Бюллетень Я 9

Дата опубликования описания 070382 (51)М. К .

G 01 J 3/10

1ееудврстеанныМ кемнтет

СССР аю делам нзабретеннй н аткрытнй (53) УДК535.8 . (088. 8) (72) Авторы изобретения

В. П. Засимов, К. Ф. Вербицкая и В. В. Тамбовцев

/,/ (71) Заявитель (54) СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ТВЕРДЫХ

НЕЭ,1ЕКТРОПРОВОДННХ МИКРООБЬЕМОВ ВЕЩЕСТВА

Изобретение относится к области, спектрального анализа твердых неэлектропроводных микрообьемов вещества.

Известные способы спектрального анализа твердых неэлектропроводных микрообъемов вещества связаны с необходимостью проведения сложных подготовительных работ и не обеспечивают достаточной локальности отбора пробы.

Для определения спектрального со10 става неэлектропроводных материалов

fl j, применяют, например, способы размельчения, растворения их для последующего введения в зону разряда с использованием фульгураторов (ме-, 15 тод из раствора), устройств для вдувания порошков. Так, для анализа шлаков по методу брикетирования, например, для придания брикету электропроводности и твердости используют порошкообразную медь.

Наиболее близким техническим решением является способ (2 1 спектрального анализа, включающий отбор микрообъемов веще ст ва при непосредст венном контактировании двух наклонных электродов с поверхностью микрообъема, получение низковольтного импульсного разряда сближением электродов, отвод микрообъема от электродов с микропробой и проведение анализа путем сжигания любым известным способом.

К недостаткам можно отнести сложность и дороговизну аппаратуры„ низкую чувствительность и микролокальност ь.

Цель изобретения - получение высокой локальности отбора пробы с сохранением высокой чувствительности при достаточном упрощении, ускорении и удешевлении спектрального анализа твердых неэлектропроводных микрообьемов вещества.

Эта цель достигается благодаря тому, что в известном способе спектрального анализа твердых неэлектро910531

Формула изобретения

3 проводных микрообъемов вещества, включающем отбор микропробы разрядным методом, получение единичного, 4 низковольтного импульсного разряда однократ ным синхронным сближение м электродов, отвод микрообъема от электродов с микропробой и проведение анализа путем сжигания любым известным способом, например, в мощном высоковольтном импульсном разряде, от- 10 бор микропробы дополнительно ведут механическим методом.

На чертеже показана блок-схема устройства, реализующего предложенный способ. 15

Устройство содержит источник единичного низковольтного (униполярного . или биполярного) разряда 1, источник мощного высоковольтного разряда 2, коммутирующее устройство 3, разряд- щ ный промежуток 4, микроманипуляторное устройство 5 для сближения электродов и отвода образца, анализатор спектра 6.

Уст ройст во работ ает следующим об- 2s разом.

Образец фиксируют в микроманипуляторном устройстве 5 так, чтобы исследуемая микролокальная область находилась в горизонтальной плоскос- щ ти на оптической оси анализатора спектра б. Электроды располагают на поверхности анализируемого микрообьема, совмещая центр разрядного промежутка 4 с.оптической осью анализатора. После подачи соответствующей команды микроманипуляторное устройство 5 сближает электроды, острия которых скользят по поверхности микрообъема и увлекают своими шерохова- 1О .тостями частички. анализируемого мик рообъема. Коммутирующее устройство

3 на период отбора пробы оставляет подключенным к электродам источник единичного низковольтного разряда 1, .а разряд начинается в момент однократного взаимного соприкосновения электродов, При этом происходит дополнительное осаждение паров вещест4 ва на электродах. После окончания разряда устройство 5 отводит образец от электродов с отобранной комбинированным способом микропробой, а коммутирующее устройство 3 подключает к эле кт родам и сточни к мощно го высоковольтного импульсного разряда

2, после чего происходит сжигание микропробы при одновременном анализе спектра анализатором 6;, Предложенный способ спектрального анализа твердых неэлектропроводных материалов, приготовление проб в виде порошков, брикетов из них или растворов, исключает сложное дополнительное оборудование (устройства для подготовки и введения вещества пробы в разряд, вакуумные камеры для напыления) и позволяет многократно использовать один образец.

Способ спектрального анализа твердых неэлектропроводных микрообъемов вещества, включающий отбор микропробы разрядным методом, получение единичного низковольтного импульсного разряда однократным синхронным сближением электродов, отвод микрообъема от электродов с микропробой и проведение анализа путем .сжигания в мощном высоковольтном импульсном разряде, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью повышения чувствительности, микролокальности и сходимости анализа при упрощении, ускорении и удешевлении процесса, отбор микропробы дополнительно ведут механическим методом.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Сухенко К. А. Спектральный анализ сталей и сплавов. ОНТИ, 1963, с. М3.

2. Королев Н. В. и др, Эмиссионный спектральный микроанализ. Л., 1971, с. 17.

910531

Составитель А. Смирнов

Редактор Н. Коляда Техред М.Тепер Корректор О. Билак

Заказ 1011/20 Тираж 883 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 11-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4