Способ определения направленности расположения частиц в минеральных шлифах

Патент 91855

Авторы

• Евсеев А.Д.
• Мельников В.Д.

---

Классы МПК

• G01N21/01 - устройства или приборы для оптических исследований
• G01N23/02 - путем пропускания излучений через материал