Способ измерения чистоты поверхности полированных стеклянных пластин

Способ измерения чистоты поверхности полированных стеклянных пластин

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Мю 91859

Класс 42b, 12;;, 42h, 17г,;

42k, 19:.-, "Ф

Ф ) ) - 4 И (Q, с, ), « Ф ф .)ф с)i ф +."Is ф;) l I .. -м;. с

ОПИСАНИЕ: Идавр(=ТЕ щ

H АВТОРСКОМУ СВЙД ТЕЛ1-,СТВУ

A. А. Калинина и А Л. Курицкий

СПОСОБ ИЗЪ1еРЕГ1ИЯ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТИ

ПОЛИРОВАННЫХ СТЕКЛЯКИЫХ ПЛАСТИГ1

Заявлено 31 мая !950 г. за М 4195!! в осте.;)(вну СССР. !) с д м с т и з 0 б !) с (. . if: !

Способ ?(з (е()е((ия 1?(cTOTI I IIoi e,)xHocTH H0,1 I" oва(1!!! ?к г кля?-н!?к

1, пластин с гомошью (1)отоэлс) ептя, BGc?(pH:?и;!а?01!e! о зо.-: (с?.с?и::; ?1!!.Известны способы контроля чистоты повсркности стекляннык пластин с применением фотоэлемента, на которьш воздействует ?диффузно рассеянный свет, отражаемьш от пластш..ь(, наложенной на пробное стекло.

Недостатком этого способа является зав?(Оимость его точности и чувствительности от качества пробнык стекол.

Указанный !недостаток устранен в предлагаемом сгособс тем, IтО пучок света направлен на конTролируемую повсркность под углом, боль6лиъ(1 Гла полпОГО вн; треннеГО От!) Яже-!Hsi, вс, !едств(!е чсГО больп(а)1 (;1сть света зеркально отражается и поглощается, а диффузно рассеиваемая часть улавливается фотоэлеч(енто) (, помшценны. (за ?(роверяс:,101(пластиной.

На чс))те)ке изображена ске?ма, ((ллюстрирую(1!Яя предлагас;(ьп( способ контроля чистоты повер.;ности стекляппык пласт?(н.

ПГHQK cBeT3 QT источни :.я ), п1)окодя Hepc KH, i (1 Is(To ) 2 II «ювсту с пмм(,)c!!0HH01! (.идкость(0 3, па1 Iяет по 1 у!,!Ом, 00.!ь1!1?!и у! л 1 110л:Г,)ro aHyTpeHHeI0 отражечия, 1(а проверяе.;(ую оттек»i;(!(ю влас-. ну (.

Зс!) кяль !О 0Tp3)(eHII. з1:(О 1 и!) Овс .: яе) 10! I 10:! Сп (Ос) 1! coi. ò i!C,, Ioщается ловушкой 5., (,иффузно рассея?п!ый свет улавл(!вяетс(! фотоэлементом 6.

ПО HHTciic((()HocT(I д?? !1)(1)1 3!ГО t) ec? Csi! (?!01 О c!!с г ".. с) дят 0 чi! сТоТС поверкности ?? ровср !смо(! пластины. фузно 1зассеянноГО cBETB„Q T,л !! ч а !о щ и Й и я тс !, Что, с пел! }о г!Овы шсния чувствительности способа измерения, исса!е!зуему!о поверх!гссть освещают пучком параллельных лучей под углом, большим угла полного внутреннего отражения, а !иотоэломснт располагают поза1и исследуемой поверхности.

4.

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Мииистров СССР редактор H. С. Кутафина

Информационно-издательский отдел. Поди. к иен, 26/VI-1959 г.

Объем О,!7 и. л. Заказ 4363. Тираж 360. Цена 25 кои.

Гор. Алатырь, типография . Ь 2 Министерства культуры Чувашской АССР