Спектрофлуориметр

Спектрофлуориметр

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Соеетекмк

Соцмаяиетичвемии

Рве ттубюмю

К АВЯЮСКОМХ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (Sl ) Дополнительное к авт. свна-ву (22) Заявлено 26. 06. 80 (Л ) 2947044/) 8-25 (5т)М. Кл. с присоединением заявки №

6 03 J 3/М2 твеудврвтеевй памвтет

CCCP ав делам изобретений в аткрытяй (23)Приоритет

Опубликовано 23 .04 .82. Ь1оллетень ¹ 15 (53) УДК 535.8 (088.8) Дата опубликования описания 25.04.82

P.Ã. Жбанков, Г.С. Бычкова, А.E..Kðàâ÷åí и И..Г. Спицын с;

« -.:Х Д /»

1 (72) Авторы изобретения

<%il " 1м

1 j .<;: с

i-," - "..., 1

Ордена Трудового Красного Знамени институт-фмащси

AH Белорусской CCP

=-- 4,« . (7!) Заявитель (54) СПЕКТРОФДУОРИМЕТР

Изобретение относится к спектральному приборостроению и может бь1ть использовано в приборах для люминесцентного анализа.

Известны спектрофлуориметры, содержащие источник излучения, оптические тракты для выделения длины волны излучения возбуждения и излучения флуоресценции при помощи дифракционной решетки и приемно-ре" гистрирующее устройство (1) .

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является спектрофлуориметр, содержащий источник излучения, оптический тракт для выделения длины волны излучения возбуждения при помощи первой дифракционной решетки, держатель исследуемого образца, поворотное зеркало, оптический тракт для выделения длины волны излучения флуоресценции при помощи второй дифракционной решетки,. имеющей общую ось вращения с первой дифракционной решеткой (2).

Недостатком указанного спектрофлуориметра является невозможность проведения люминесцентных (флуоресцентных) исследований мылых участков люминесцирующих пленок на непрозрач5 ных подложках сложной конфигурации, что обусловлено наличием угла между направлением излучения возбуждения и направлением, по которому иэмеряет1О ся излучение флуоресценции от образца.

Цель изобретения - расширение области применения спектрофлуориметра.

Поставленная цель достигается тем, 15. что в спектрофлуориметре, содержащем расположенные по ходу луча источник излучения, оптический тракт для выделения длины волны излучения возбуждения при помощи первой дифракционной решетки, держатель исследуемого образца, поворотное зеркало, оптический тракт для выделения длины вол" ны излучения флуоресценции при помощи второй дифракционной решетки, 3 92252 имеющей общую ось вращения с первой дифракционной решеткой, оптические оси тракта для выделения длины волны излучения возбуждения и тракта для выделения длины волны излучения флуоресценции расположены таким образом, что угол дифракции для длины волны излучения возбуждения является одновременно углом падения излучения.флуоресценции на первой дифрак- 10 ционной решетке.

На чертеже представлена схема предлагаемого спектрофлуориметра.

Спектрофлуориметр содержит источник I излучения, фокусирующую систе И му 2 тракта возбуждения, щель 3 вход ную тракта воздужцения, коллиматор-, ный объектив 4 тракта возбуждения, дифракционную решетку 5 (показан частный случай положения дифракцион- рв ных решеток при нулевом угле разворота друг относительно друга), камерный объектив 6 тракта возбуждения и коллиматорный объектив 6 тракта флуоресценции, выходную щель 7 трак- 25 та возбуждения и входную щель 7 тракта флуоресценции, фокусирующую систему тракта возбуждения и тракта флуоресценции 8,. исследуемую люминесцирующую пленку 9, непрозрачную подлож- 1е ку (образец) в держателе .10, отражающие грани углового зеркала 11 и

12, камерный объектив 13 тракта флуоресценции, выходную щель 14 тракта флуоресценции, приемнорегистрирующее устройство 15.

Предлагаемый спектрофлуориметр работает следующим образом..

Излучение источника 1 через фокусирующую систему 2, входную щель 3

Щ и коллиматорный объектив 4 направляется на дифракционную решетку 5 под углом падения в, где дифрагируется.

Излучение длины волны возбуждения под углом дифракции . з проходит. ! 45 объектив 6, щель 7 и фокусируется системой на люминесцирующей пленке 9, которая находится в углублении непрозрачной подложки, закрепленной в держателе 10. Так как оптические оси © тракта возбуждения и флуоресценции совмещены, то излучение флуоресценции от пленки 9 через фокусирующую систему 8, щель 7 и объектив 6 направляется на дифракционную решетку 5 под углом падения 9 „= 9 где дифрагируется. Дифрагированное излучение регистрируемой длины волны флуоресцен9 4 ции под углом дифракции 9 направляется на угловое зеркало 11-12. При этом на угловое зеркало направляет- . ся также излучение с длиной волны, отличной от регистрируемой длины вол.ны, которое дифрагировалось на дифракционной решетке под тем углом, что и излучение регистрируемой длины волны

Флуоресценции, т.е. Ч = ч „ Излучение с этими двумя длинами волны направляются гранями углового зеркала

11 и 12 на дифракционную решетку под углом падения. Здесь излучение, отличное от регистрируемой длины волны, оп;ределяется под углом дифракции ,а излучение регистрируемой длины волны флуоресценции под углом дирфакции

Ч2, через объектив 13 и щель 14 попадает на приемно-регистрирующее устройство 15.

Использование предлагаемого спект рофлуориметра позволяет осуществлять люминесцентные (флуоресцентные) исследования малых участков люминесцирующих пленок на непрозрачных подложках сложной конфигурации, например, имеющих бугристую или пористую структуру, вмятины, глубокие щели и т.д.

Формула изобретения

Спектрофлуориметр, содержащий рас- положенные по ходу луча источник излучения, оптический тракт для выделения длины волны излучения возбуждения при помощи первой дифракционной решетки, держатель исследуемого образца, поворотное зеркало, оптический тракт для выделения длины волны излучения флуоресценции при помощи второй дифракционной решетки, имеющей общую ось вращения с первой дифракционной решеткой, о т л и ч. а юшийся тем, что, с целью расширения области применения, оптические оси тракта для выделения длины волны излучения возбуждения и тракта для выделения длины волны излучения флуоресценции расположены таким образом, что угол дифракции для длины волны излучения возбуждения является одновременно углом падения излучения флуоресценции на первой дифракционной решетке.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Патент США и 4022529 кл. С 01 J 3/42, опублик. 1977.

2. Патент Франции Ю 2314483, кл. G 01 J 3/00, опублик. 1977.. 922529

Составитель А. Смирнов.

Редактор Л. Гратилло Техред . А. Ач .Корректор .Л. Бокшан т

Заказ 2562/53 Тираж 883 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва,.N-35, Раушская наб, д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4