Способ определения поляризационно-оптических свойств прозрачных веществ

Способ определения поляризационно-оптических свойств прозрачных веществ

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (ц> 922595 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 200976 (21) 2402600/18-25 У М.К . с присоединением заявки №вЂ”

G N 21/21

Государственный комитет

СССР но делам изобретений и открытий (23) Приоритет (53) УДК 535.8 (088. 8) Опубликовано 2304,82. Бюллетень ¹15

Дата опубликования описания 230482 (72) Авторы изобретения

Х.К. Абен, С.И. Иднурм, Е.И. Клаб и В.A. Павлов (71) Заявитель

ВЖАВ!" :"

Институт кибернетики AH Эстонской С (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛЯРИЗАЦИОННООПТИЧЕСКИХ СВОИСТВ ПРОЗРАЧНЫХ .ВЕЩЕСТВ

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений и может. быть использовано при исследовании поляриэационно-оптических свойств твердых веществ.

Известен способ определения ориен-. тации волокон вещества путем поворота образца вокруг оптической оси поляриметра и измерения интенсивности. света на его выходе (1).

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является способ определения поляриэационно-оптических свойств прозрачных веществ, включающий просвечивание образца, 35 помещенного между поляризатором и анализатором с возможностью вращения относительно оптической оси поля- риметра (2) и (3).

Недостаток способа заключается в . 20 том, что он неприменим к веществам-, которые являются одновременно и двулучепреломляющими и вращающими плоскость поляризации света, т.е. оптически активными. 25

Цель изобретения — одновременное определение двулучепреломления и оптической активности.

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определения поляризационно-оптических свойств прозрачных веществ, включающему просвечивание образца, помещенного между поляризатором и анализатором с возможностью вращения относительно оптической оси поляриметра, при вращении образца фиксируют минимальный и максимальный углы отклонения анализатора относительно скрещенного с поляризатором положения и по ним судят о величине двулучепреломления и оптической активности вещества.

Суть способа поясняется чертежом.

Свет от источника -через поляризатор 1 попадает на иссследуемый образец 2, прикрепленный к цилиндрической подложке 3, которая имеет отверстие, совпадающее с исследуемым участком образца. Затем подложка с образцом помещается в стандартный поляриметр между поляризатором 1 и анализатором 4 с воэможностью вращения относительно оптической оси по ляриметра. Вращая образец и анализатор, по минимуму интенсивности на его выходе определяют максимальный и минимальный углы отклонения анали затора отиосительно скрещенного с поляризатором положения. По полученным данным в соответствии с извест922595

Формула изобретения

Составитель В, Иванюк

Техред Ж. Кастелевнч. Корректор A. Гриценко

Редактор Н. Бобкова

Тираж 883 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 2570/56

Филиал ППП Патент, r. Ужгород, ул. Проектная, 4 (ным способом вычисляют как .:оптическую активность, так и двумфепреломление вещества.

Способ позволяет определить параметры произвольно ориентированного образца.

Способ определения поляриэационнооптических свойств прозрачных веществ, включающий просвечивание образца, помещенного между поляризатором и ана- 15 лизатором с возможностью вращения относительно оптической оси поляриметра, отличающийся тем, что, с целью одновременного определения двулучепреломления и оптической активности, при вращении образца фиксируют минимальный и максимальный углы отклонения анализатора относительно скрещенного с поляризатором положения и по ним судят о величине двулучепреломления и оптической активности вещества.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

Р 264158, кл. G 01 N 21/40, 1968.

2; Буслаева В.Е., Налбаидов Л.В.

Объективный метод измерения разности фаз двулучепреломпяющих объектов.

Труды метрологического института СССР.

Вып. 114 (174), 1970, с. 76-80 (прототип) .

3. Абен Х.К. Интегральная фотоупругость, Таллин, Валгус, 197

II 1 975 °