Устройство для контроля теплового сопротивления полупроводниковых приборов

Устройство для контроля теплового сопротивления полупроводниковых приборов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ р>922662 (61) Дополнительное к авт. свид-ву ($g)М Кп 3 а 01 В 31/26 (22) Заявлено 040680 (21) 2937128/18-21 с присоединением заявки №

Государственный комитет

СССР но делам изобретений и открытий. (23) Приоритет(53) УДК 621.382, . 2 (088.8) Опубликовано 23.0482. Бюллетень ¹15

Дата опубликования описания 23.0482

Е.В.Левина, A.È.Ëþáåëüñêèé, И.Д.Пашенцев и В.С.Смирнов (72) Авторы изобретения

1 г *" 1-...-»" л р с :. еров разцс ва. ;Ь:, "... (71) Заявитель

Ленинградский ордена Ленина институт инже железнодорожного транспорта им.акад.В.Н.О (54) УСТРОИСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТЕПЛОВОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

Изобретение относится к электронной измерительной технике и предназначено для контроля тепловых параметров тиристоров и иловых диодов.

Известно устройство для определения импульсного теплового сопротивления р-и переходов полупроводниковых приборов, содержащее генератор греющей мощности, генератор тока управления, генератор измерительного. тока, две пиковые ячейки (с разными постоянными времени), усилитель термочувствительного параметра и выходной показывающий прибор (1).

Недостатком этого устройства является то, что не предусмотрена автоматическая индикация значений теплового сопротивления, что замедляет и усложняет работу оператора.

Наиболее близким по технической сущности является устройство для классификации полупроводниковых приборов по величине теплового сопротивления, содержащее генератор греющей мощности, генератор измерительного тока, генератор тока управления, импульсные ключи, запоминающее устройство, компараторы, импульсный усилитель, делители напряжения, запоминаюшке ячейки, дешифратор и индикатор (2) .

Точность измерений находится в прямой зависимости от количества комплектов компараторов и запоминающих ячеек, т.е. от количества диапазонов. Использование дополнительной ячейки (конденсатора) для учета постоянной составляющей кривой охлаждения также снижает точность измерений.

Цель изобретения — повышение точности измерений и надежности работы устройства.

Поставленная цель достигается тем, что в устройство для контроля теплового сопротивления полупроводниковых приборов, содержащее генератор греющей мощности, Выход которого соединен с клеммой для подключения анода исследуемогд полупроводникового прибора, клемма для подключения катода исследуемого полупроводникового прибора соединена с обшей шиной, а клем25 ма для подключения управляющего электрода исследуемого полупроводникового прибора соединена с выходом генератора управляющего тока, усилитель, два компаратора, первые входы которых соединены с выходами источников опор922662 щего блока, выход которого через усилитель подключен .к вторым входам обоих компараторов, выходы которых через блок измерения интервалов вре- (О мени соединены с входом дешифратора.

На чертеже представлена структурная схема устройства для контроля теплового сопротивления полупроводниковых приборов (силовых диодов и тиристорон) .

Устройство содержит генератор 1 греющей мощности, генератор 2 управляющего тока, дифференцирующий блок.

3, усилитель 4 термочувствительного параметра, компараторы 5 и 6, блок 7 измерения интервалов времени, дешифратор 8, индикатор 9 и клеммы 10-14.

Устройство работает следующим образом. 25

Испытуемый прибор помещают в специальное гнездо, включают генератор

1 греющей мощности. На прибор поступает импульс мощности, нагревающий р-и переход . После окончания греющего импульса включается генератор

2 управляющего тока к клемме 12 при испытании тиристо:а или к клемме 10 при испытании диода.

Испытания диода и тиристора проводятся не одновременно, генератор н динамике ныполняет разные функции.

При испытании тиристора термочувствительным параметром является разность потенциалов анод-кода при пропускании управляющего, тока, которая далее 40 поступает в дифференцирующий блок 3.

В этот момент других напряженйй к

60.

65 9 340984,кл.G 01 R 31/26,1970 (прототип). ного напряжения, и дешифратор, выход которого соединен с индикатором, введены дифференцирующий блок и блок измерения интервалов времени, причем клемма для подключения анода исследуемого полупроводникового прибора соединена с входом дифференцирую" прибору не прикладывается, т.е. внешнее UAq отсутствует. Управляющий ток косвенно выполняет функции измерительного тока. При испытании диода термочувствительным параметром является напряжение анод-катод при пропускании прямого измерительного тока, которое далее поступает в блок

3. Генератор управляющего тока создает в этом случае измерительный ток.

На выходе дифференцирующего блока

3 появляется убывающая экспонента без постоянной составляющей напряжения, имеющая постоянную времени К, равную тепловой постоянной времени полупроводникового прибора, На входы компараторов 5 и б с усилителя 4 подается убывающая по экспоненциальному закону кривая напряжения, являющаяся результатом дифференцирования кривой остывания прибора — (1) ол

dt:

В связи с тем, что за время, равное постоянной времени экспоненты, ордината экспоненты (напряжение) изменяется в е раз. Напряжение на опорных входах компараторов 5 и 6 отличаются в е или пропорциональное а чис; ла раз. Они выставляются с помощью точных потенциометров, напряжение на которые подается от источника пита-.. ния микросхем. В момент совпадения напряжения на первом входе компаратора 5 c U, = U компаратор 5 включает счетчик блока 7. В момент же совпадения напряжения на первом входе компаратора б с Пря = U он выключает счетчик блока 7, тем самым измеряя тепловую постоянную времени прибора, которая пропорциональна тепловому сопротивлению К(С) исследуемого прибора. Вывод результатов с учетом заранее введенных коэффициентов осуществляется через дешифра-, тор 8,и подключенный к нему индикатор 9.

Повышение точности измерения В(1) за счет измерения тепловой постоянной времени позволит увеличить выход годных приборов за счет выхода приборов, которые ранее браковались. Облегчение обслуживания и ремонта устройства обеспечивается более простой и надежной схемой.

Формула изобретения

Устройство для контроля теплового сопротивления полупроводниковых приборов, содержащее генератор греющей мощности, выход которого соединен с клеммой для подключения анода исследуемого полупроводникового прибора, клемма для подключения катода исследуемого полупроводникового прибора соединена с общей шиной, а клемма для подключения упранляющего элек трода исследуемого полупроводникового прибора соединена с выходом генератора управляющего тока, усилитель, два компаратора, первые входы которых соединены с выходами источников опорного напряжения, и дешифратор, выход которого соединен с индикатором о т л и ч а ю щ е е с я тем, что с целью повышения точности измерений, в него внедены дифференцирующий блок и блок измерения интервалов времени, причем клемма для подключения анода исследуемого полупроводникового прибора соединена с входом дифференцирующего блока,. выход которого через усилитель подключен к вторым входам обоих компараторов, выходы которых через блок измерения интервалов времени соединены с. нходом дешифратора.

Источники информации, принятые во ннимание при экспертизе

1, Авторское свидетельство СССР

9 217533, кл Н 01 L 23/56, 1966.

2. Авторское свидетельство СССР

922662

Составитель Н.Чистякова

Редактор А.Коэориэ Техред С.Мигунова, Корректор ° р

М.Ша оши

Заказ 2575/60 Тираж 719 Подписное

BHHHllH Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб.,д.4/5

Филиал ППП Патент r.Óæãoðoä, ул.Проектная,4